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[发明专利]电子束辐射固化膜玻璃及其制造方法-CN200910169719.7在审
发明人：王广武 -专利权人：王广武
申请日： 2009-08-28 - 公布日： 2011-03-30 - 主分类号： C03C17/00 文献下载
摘要：一种电子束辐射固化膜玻璃包括玻璃，电子束辐射源，电子束辐射液体光油，玻璃表面喷涂或印刷电子束辐射固化液体光油，电子束辐射源照射后，电子束辐射液体光油发生快速聚合反应，在玻璃表面形成电子束辐射固态薄膜。
电子束辐射固化玻璃及其制造方法

[发明专利]电子束束长反馈系统及方法-CN202310886796.4在审
发明人：张开庆;冯冽;邓海啸 -专利权人：中国科学院上海高等研究院
申请日： 2023-07-19 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： H05H9/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种电子束束长反馈系统及方法，系统包括直线加速器、辐射装置、分光装置、X射线传输诊断装置、第一原子传感装置、第二原子传感装置和控制装置，直线加速器包括用于压缩电子束的第一磁压缩段和第二磁压缩段，第一磁压缩段使电子束产生第一太赫兹辐射，辐射装置用于使电子束产生X射线辐射和第二太赫兹辐射，第一原子传感装置和第二传感装置分别用于测量第一太赫兹辐射和第二太赫兹辐射的波长，控制装置根据第一太赫兹辐射和第二太赫兹辐射的波长调节直线加速器，使得电子束的束长保持不变。本发明的电子束束长反馈系统及方法，可实现高速和稳定的电子束束长反馈，从而提高加速器的长期辐射特性的稳定性。
电子束反馈系统方法

[发明专利]电子束辐射交联电线电缆的方法及装置-CN200610022576.3无效
发明人：李洪兵;杨昌荣;戴高霖 -专利权人：成都电缆双流热缩制品厂
申请日： 2006-12-22 - 公布日： 2008-06-25 - 主分类号： H01B13/00 文献下载
摘要：本发明提供一种电子束辐射交联电线电缆的方法，该方法是在电子加速器扫描盒下方设置电子束反射磁铁反射装置，待辐射交联的电线电缆穿绕于二者之间，电子加速器扫描盒钛窗扫描射出从上往下的电子束对辐射交联的电线电缆绝缘层辐射交联，同时电子束反射磁铁反射装置将自扫描盒钛窗扫描射出的从上往下电子束之一部分通过洛仑兹磁力的作用改向为从下往上运动，实现对电线电缆的双向扫描辐射交联。本发明方法能改变电子束辐射交联电线电缆产品生产中长期存在的交联度不均匀、部分电线电缆绝缘(护套)甚至未能接受到电子束能量，不能充分显示电子束辐射交联技术优势，生产出高品质特种电线电缆产品。本发明还提供了一种电子束辐射交联电线电缆的装置。
电子束辐射交联电线电缆方法装置

[发明专利]孔检查装置和使用该孔检查装置的孔检查方法-CN200780011762.X无效
发明人：金浩燮 -专利权人：电子线技术院株式会社
申请日： 2007-04-03 - 公布日： 2009-04-22 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于利用电子束检查半导体器件的通孔的装置和方法。该装置包括电子束辐射装置、电流测量装置和电流测量装置和数据处理装置。电子束辐射装置照射相应的电子束以检查多个检查对象孔。电流测量装置通过位于孔下面的导电层或通过导电层和单独的检测仪测量电流，该电流通过辐射从电子束辐射装置照射的电子束而产生。数据处理装置处理通过电流测量装置的测量而获得的数据。
检查装置使用方法

[发明专利]太赫兹辐射的产生系统及方法-CN202310137903.3在审
发明人：颜立新;唐传祥;梁一凡;刘卓辕;杜应超;田其立;李任恺 -专利权人：清华大学
申请日： 2023-02-06 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： H01S1/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种太赫兹辐射的产生系统及方法。其中光阴极电子枪用于接收激光脉冲串并产生电子束；加速管用于将电子束加速至相对论能量；第一聚焦螺线管位于光阴极电子枪的出口处，用于提高电子束的电荷密度，第二聚焦螺线管环绕加速管，用于在电子束于加速管中加速时，调节电子束的电荷密度至目标电荷密度；束线管用于传输能量调制的电子束；色散节包括上半色散节与下半色散节，束线管自上半色散节与下半色散节之间穿过，用于在能量调制的电子束于束线管中传输时，将能量调制的电子束转换为密度调制的电子束；辐射装置用于接收密度调制的电子束，并通过密度调制的电子束产生太赫兹辐射。
赫兹辐射产生系统方法

[发明专利]一种用于电子束辐照废水的束下装置及污水处理工艺-CN202211724718.6在审
发明人：张尧立;卢功豪;刘祉祎;吴忧;曹留烜 -专利权人：厦门大学;北京机电工程总体设计部
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-04-11 - 主分类号： C02F1/30 文献下载
摘要：本发明公开一种用于电子束辐照废水的束下装置及污水处理工艺，包括明渠、输水管道和电子束辐射装置，所述明渠具有渠顶和渠底，渠顶高于渠底以使明渠形成一定倾斜度，所述输水管道设于渠顶，输水管道的出水口与渠顶相接，所述电子束辐射装置设于明渠上方，电子束辐射装置辐照在明渠内；本发明采用明渠作为污水处理反应装置，脱离了传统电子束辐照室密闭的空间，使电子束辐射装置便于安装，有利于观察处理效果以便及时做出调整；明渠横向污水流速一致，便于电子束和催化剂反应均匀。
一种用于电子束辐照废水装置污水处理工艺

[发明专利]多功能飞秒电子束诊断仪-CN201110254576.7无效
发明人：李文涛;王文涛;邓爱华;张辉;王成;刘建胜 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2011-08-31 - 公布日： 2012-05-09 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：一种用于可同时测量飞秒电子束长度、能谱和电量参数的多功能飞秒电子束诊断仪，由电子束偏转单元、电子束能谱单元、电子束初始方向定标单元、电子束偏转和电量测量单元组成。本发明主要利用了后向相干衍射辐射导致的电子束偏转效应，并结合了传统电子能谱仪和前向相干衍射辐射定标法，克服了传统电子束诊断仪无法实现对10fs甚至飞秒量级的电子束长度、能谱、电量等参数同步测量的缺点。实现了对飞秒电子束的电子束长度、能谱、电量的同步测量，具有操作简单、方便高效、测量精度高、应用范围广的优点。
多功能电子束诊断仪

[发明专利]一种基于特征谱线的电子束焦点检测装置及其工作方法-CN201410529515.0有效
发明人：陈云霞;王小京 -专利权人：河海大学常州校区
申请日： 2014-10-09 - 公布日： 2014-12-24 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于特征谱线的电子束焦点检测装置及其工作方法，本电子束焦点检测装置包括：电子束聚焦单元，适于调节在任一高度下发射的电子束的焦点位置；光谱采集及控制单元，适于根据所述采集工件在受电子束轰击后工件表面的辐射强度，以检测出最高辐射强度；且通过所述最高辐射强度调节电子束聚焦单元的聚焦电流，以确定在当前高度下的焦点位置；本发明所提出的基于特征元素谱线的电子束焦点检测装置及其工作方法，根据采集到的最高辐射强度确定聚焦电流，进而确定在当前高度下的焦点位置，实现了电子束焦点的迅速、准确、快速控制与定位。
一种基于特征电子束焦点检测装置及其工作方法

[发明专利]X射线源和用于控制X射线辐射的方法-CN201880012008.6有效
发明人：卡尔曼·费什曼;布莱恩·帕特里克·威尔弗莱;克里斯托弗·W·埃勒诺;唐纳德·奥尔加多;顾纯元;托比亚斯·芬克;佩特·瓦塔霍夫;克里斯托弗·R·米切尔 -专利权人：胜赛斯医疗有限责任公司
申请日： 2018-03-30 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： H01J35/00 文献下载
摘要：三维束形成X射线源包括电子束发生器(EBG)以产生电子束。靶元件设置在距EBG预定距离处并且定位成拦截电子束。靶元件响应于电子束以产生X射线辐射。束形成器靠近靶元件设置，并且包括与X射线辐射相互作用的材料以形成X射线束。EBG控制系统通过选择性地改变电子束与靶元件相交的位置来控制X射线束的束图案和方向中的至少一个，以控制X射线辐射与束形成器的相互作用。
射线用于控制辐射方法

[发明专利]电子束辐射装置-CN99104388.X无效
发明人：内藤仪彦 -专利权人：株式会社荏原制作所
申请日： 1999-03-26 - 公布日： 2003-12-10 - 主分类号： B01D53/32 文献下载
摘要：一种电子束辐射装置，可避免在最大扫描点处电子束会聚的问题，恒定获得均匀能量密度的辐射区域，该装置包括：电子束源12，加速电子束源发射的电子的加速管13，对加速管形成的高能电子束施加磁场以控制电子束束直径的聚焦电磁铁16，以及用于向电子束施加磁场来偏转和扫描已被控制束直径的电子束的电磁铁17，其中与扫描电磁铁17的电流IS同步的电流成分IF被迭加到聚焦电磁铁16的电流IF上，由此控制聚焦电磁铁的电流IF，使所述束直径在最大扫描点上成为最大
电子束辐射装置

[发明专利]极紫外光源装置-CN202310163902.6在审
发明人：邓海啸;杨涵翔 -专利权人：中国科学院上海高等研究院
申请日： 2023-02-24 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： H05G2/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种极紫外光源装置，包括种子激光发生器、电子源、电子直线加速器、第一调制段、第一色散段、第二调制段、第二色散段和放大器，电子源产生的第一电子束被电子直线加速器加速后形成第二电子束；种子激光发生器用于产生种子激光，其和第二电子束均注入第一调制段中，以使第二电子束产生第一次能量调制，得到第三电子束；第一色散段对第三电子束压缩，形成第四电子束；第二调制段使第四电子束产生相干辐射，并被相干辐射第二次能量调制而形成第五电子束；第二色散段对第五电子束压缩，形成第六电子束；放大器使第六电子束产生辐射并发出千瓦量级的极紫外光。
紫外光源装置

[发明专利]确定电子光斑的宽度和高度-CN201980041318.5在审
发明人：波尔·塔克曼;乌尔夫·伦德斯托姆;比约恩·汉森 -专利权人：伊克斯拉姆公司
申请日： 2019-06-24 - 公布日： 2021-02-02 - 主分类号： H05G1/26 文献下载
摘要：本发明构思涉及一种X射线源中的方法，该X射线源被配置为从相互作用区域发射通过电子束与靶标之间的相互作用生成的X射线辐射，该方法包括以下步骤：提供该靶标；提供该电子束；使该电子束相对于该靶标沿第一方向偏转；检测指示该电子束与该靶标之间的相互作用的电子；基于检测到的电子和该电子束的偏转，确定该电子束在该靶标上沿该第一方向的第一延伸；检测通过该电子束与该靶标之间的相互作用生成的X射线辐射；以及基于检测到的X射线辐射，确定该电子束在该靶标上沿第二方向的第二延伸。
确定电子光斑宽度高度

[发明专利]用于监测电子束强度的方法和装置-CN201080004718.8有效
发明人： G·凯尔;A·蒙策尔 -专利权人： KHS有限责任公司
申请日： 2010-04-20 - 公布日： 2011-12-14 - 主分类号： H01J37/244 文献下载
摘要：本发明所述方法和装置用于监测电子束的强度。为了探测所述电子束强度的变化，探测和评估所述电子束直接或间接产生的电磁辐射。这尤其是指紫外线辐射和/或可见光范围内的辐射。
用于监测电子束强度方法装置

[发明专利]电子束辐照加工的方法和装置-CN200910088626.1有效
发明人：刘耀红;唐华平;张化一 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2009-06-30 - 公布日： 2011-01-05 - 主分类号： G21H5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种电子束辐照加工的方法，包括：(a)提供辐射透视检测装置(300)；(b)利用辐射透视检测装置进行检测获得关于受辐照加工对象(10)的质量厚度(dρ)的信息的检测步骤；(c)提供电子束辐照加工装置(200)；以及(d)通过控制装置(5)调节电子束辐照加工装置的电子束的能量(E)，以使电子束的能量(E)与辐照加工对象的质量厚度(dρ)相匹配的调节步骤；以及(e)利用调节后的电子束辐照加工装置执行电子束辐照加工的加工步骤通过采用上述技术方案，控制装置根据利用辐射透视检测装置获得有关质量厚度和物品长度的测量结果，对电子加速器进行相应的能量调整和/或扫描宽度进行实时调整，从而提高电子束的利用效率和加工效果。
电子束辐照加工方法装置

[其他]全吸收电子束快速阀门装置-CN85200816无效
发明人：张兴发 -专利权人：中国科学院新疆物理研究所计划条件处
申请日： 1985-04-01 - 公布日： 1986-02-19 - 主分类号： H05H7/00 文献下载
摘要：一种全吸收电子束快速阀门装置属于辐射技术应用领域。装置的目的主要是为电子束辐射技术提供一个阻止吸收电子束和快速释放电子束的开关阀门。通过用手控或仪器控制准确地记录时间，显示微电流，计算辐射剂量。稍加改动也可用在类似的电子加速器上。
吸收电子束快速阀门装置

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