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[实用新型]光学影像检测设备-CN200920273194.7有效
发明人：林钲杰;许家胜;杨逸民 -专利权人：宏濑科技股份有限公司
申请日： 2009-12-09 - 公布日： 2010-08-25 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：一种光学影像检测设备，其影像撷取模块包含一第一光源装置与一影像传感器，其辉度传感模块包含一第二光源装置与一辉度传感器，影像传感器与辉度传感器分别撷取液晶面板半成品的影像与辉度值以供检测模块缺陷。本实用新型的特征在于该液晶面板半成品为一用以切割成多个非偏振液晶面板半成品的整件非偏振液晶面板半成品，且该光学影像检测设备还在第一光源装置与整件非偏振液晶面板半成品之间设置一第一偏光片，在影像传感器与整件非偏振液晶面板半成品之间设置一第二偏光片
光学影像检测设备

[发明专利]光学检测系统-CN201911025844.0在审
发明人：林伯聪;李岳龙 -专利权人：由田新技股份有限公司
申请日： 2019-10-25 - 公布日： 2020-05-26 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学检测系统，包括一检测平台、一影像捕获设备、一光学透镜以及一图像处理器。检测平台上具有一拍摄面用以放置一待测物。影像捕获设备设置在检测平台的一侧。影像捕获设备包括一感光芯片，感光芯片具有一成像面。光学透镜设置在影像捕获设备与检测平台之间。光学透镜具有一透镜面。拍摄面、成像面以及透镜面的延伸相交会在同一个直线位置上。图像处理器连接至影像捕获设备，由影像捕获设备获得待测物的影像进行自动光学检测。
光学检测系统

[发明专利]试片检测设备-CN202010234546.9在审
发明人：林裕城;翁维谦;林凯文 -专利权人：林裕城
申请日： 2020-03-30 - 公布日： 2021-09-14 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：一种试片检测设备，包含检测暗箱、设置于检测暗箱上的导光板、光源、光学校正卡、试片载台、容置于试片载台中的检测试片、影像撷取设备及影像处理装置。光源设置于检测暗箱上，使得光源的光线入射至导光板内以引导光线朝检测暗箱内照射。影像撷取设备设置于检测暗箱上以用来于光学校正卡以及试片载台分别插入至检测暗箱内时分别撷取光学校正影像及检测影像。影像处理装置连接影像撷取设备以用来根据光学校正影像校正检测试片的呈色浓度与灰阶值的对应关系信息，以及根据经校正后的对应关系信息以及检测影像产生检测结果。
试片检测设备

[实用新型]光学成像系统及具有该系统的影像测量设备-CN201420160486.0有效
发明人：洪金龙;仇增华 -专利权人：东莞市天勤仪器有限公司
申请日： 2014-04-03 - 公布日： 2014-09-24 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：一种光学成像系统及具有该系统的影像测量设备，光学成像系统设置有纵向安装座、影像设备和激光发射器，所述影像设备的影像镜头和所述激光发射器的激光头分别固定装配于所述纵向安装座。利用影像设备的宽视域特点，通过影像镜头预先寻找检测目标，在影像镜头的引导下将检测目标调整到激光头下方进行检测，具有调整迅速，检测效率高的特点。此外，由于该光学成像系统设置有影像设备和激光发射器，可以在一次检测中，通过影像设备和激光发射器同时进行检测样品多个参数检测，具有检测迅速，省时高效的特点。
光学成像系统具有影像测量设备

[发明专利]毫米波泥石流雷达数据与光学影像的协同方法及装置、电子设备-CN202210487211.7在审
发明人：黄平平;谭维贤;乞耀龙;陈曙光 -专利权人：内蒙古方向图科技有限公司
申请日： 2022-05-06 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G01S13/86 文献下载
摘要：本公开提供了一种毫米波泥石流雷达数据与光学影像的协同方法及装置、电子设备，所述方法包括：获取雷达数据和光学影像；基于所述光学影像检测目标区域，所述目标区域包括泥石流区域；基于雷达和图像采集设备的位置信息，将所述雷达数据检测的结果及光学影像的检测结果关联到所述目标区域；协同显示所述雷达数据检测的结果及光学影像的检测结果。本公开能够更直观了解雷达检测的目标情况，使操作更便捷。
毫米波泥石流雷达数据光学影像协同方法装置电子设备

[发明专利]光学成像系统以及通过该系统进行检测目标寻找的方法-CN201410133051.1有效
发明人：洪金龙;仇增华 -专利权人：东莞市天勤仪器有限公司;洪金龙
申请日： 2014-04-03 - 公布日： 2017-02-15 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：一种光学成像系统及采用光学成像系统进行检测目标寻找的方法，光学成像系统设置有纵向安装座、影像设备和激光发射器，所述影像设备的影像镜头和所述激光发射器的激光头分别固定装配于所述纵向安装座。所述影像镜头与所述激光头设置为同步升降结构。所述激光发射器发射的激光与所述影像镜头的轴线平行。采用该光学成像系统进行检测目标寻找的方法，首先通过影像镜头寻找检测目标，再在影像镜头的引导下将待检测目标调整至激光头下方进行检测。本发明利用影像设备的宽视域特点，在影像镜头的引导下将检测目标调整到激光头下方进行检测，具有调整迅速，检测效率高的特点。
光学成像系统以及通过进行检测目标寻找方法

[发明专利]缺陷检测系统及方法-CN201710035668.3有效
发明人：林宽宏;吴柏徵 -专利权人：住华科技股份有限公司
申请日： 2017-01-17 - 公布日： 2021-08-17 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：一种用于检测被移送的光学薄膜的缺陷检测系统，包括光源、影像捕获设备及狭缝板。光源配置于光学薄膜的一侧，影像捕获设备配置于光学薄膜的另一侧。狭缝板具有狭缝，狭缝板配置于光源与光学薄膜之间，以使入射光线穿过狭缝。其中，影像捕获设备偏移自光源与狭缝的延伸连线。
缺陷检测系统方法

[发明专利]一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置-CN201810645173.7在审
发明人：任志桂 -专利权人：任志桂
申请日： 2018-06-21 - 公布日： 2018-09-14 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明实施例提出了一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，包括：拍摄设备、辅助光源、拍摄设备上的影像光学组件、自动位移平台、视觉处理设备；其中，辅助光源与拍摄设备连接，影像光学组件设置在拍摄设备的底部，辅助光源在自动位移平台上的灯光投射位置与影像光学组件正对自动位移平台上的位置相同；自动位移平台的表层用以放置待测TFT液晶玻璃，并移动待测TFT液晶玻璃到正对影像光学组件的位置；拍摄设备电性连接视觉处理设备，用以将获取到的待测TFT液晶玻璃的影像发送至视觉处理设备进行识别。通过发明实施例提出的TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，实现了对TFT液晶玻璃缺陷的自动检测，提高了检测的准确性，快捷性。
拍摄设备玻璃缺陷光学组件自动位移自动检测装置辅助光源视觉处理影像玻璃正对灯光投射电性连接影像发送自动检测检测移动

[实用新型]一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置-CN201820974036.3有效
发明人：任志桂 -专利权人：任志桂
申请日： 2018-06-21 - 公布日： 2019-05-07 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本实用新型实施例提出了一种TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，包括：拍摄设备、辅助光源、拍摄设备上的影像光学组件、自动位移平台、视觉处理设备；其中，辅助光源与拍摄设备连接，影像光学组件设置在拍摄设备的底部，辅助光源在自动位移平台上的灯光投射位置与影像光学组件正对自动位移平台上的位置相同；自动位移平台的表层用以放置待测TFT液晶玻璃，并移动待测TFT液晶玻璃到正对影像光学组件的位置；拍摄设备电性连接视觉处理设备，用以将获取到的待测TFT液晶玻璃的影像发送至视觉处理设备进行识别。通过实用新型实施例提出的TFT液晶玻璃缺陷自动检测装置，实现了对TFT液晶玻璃缺陷的自动检测，提高了检测的准确性，快捷性。
拍摄设备玻璃缺陷光学组件自动位移自动检测装置辅助光源视觉处理影像玻璃正对本实用新型灯光投射电性连接影像发送自动检测检测移动

[发明专利]检测设备的色差调整方法以及装置-CN201710550386.7有效
发明人：杨勇飞 -专利权人：惠科股份有限公司;重庆惠科金渝光电科技有限公司
申请日： 2017-07-06 - 公布日： 2019-02-22 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：本发明公开一种检测设备的色差调整方法，包括以下步骤：记录多个影像感测元件分别影像获取多个不同标准片时对应的光学参数；针对每个所述标准片，选定一个所述光学参数；将选定的所述光学参数作为基础录入至数据库；根据所述数据库，调整其他影像感测元件的所述光学参数。本发明还公开一种检测设备的色差调整装置。本发明通过用不同标准片对应的光学参数制成的数据库去对其他影像感测元件的光学参数进行调整，在拍摄不同制程照片的时候使用不同的光学参数，使标准片的光学特性和实际拍摄时候的测量片特性接近，达到消除不同影像感测元件色差的目的
检测设备色差调整方法以及装置

[发明专利]基于图像比对的标的物形变检测方法、装置、设备及介质-CN202111431132.6在审
发明人：王创;郑越;钱成越;吴梦娟 -专利权人：中国平安财产保险股份有限公司
申请日： 2021-11-29 - 公布日： 2022-02-15 - 主分类号： G06V20/13 文献下载
摘要：本发明涉及人工智能技术，揭露了一种基于图像比对的标的物形变检测方法，包括：获取包含预设标的物的光学影像、参照影像，将光学影像及参照影像的图像尺度进行归一化校正；计算光学影像和参照影像之间的对数差分影像；对对数差分影像进行非降采样轮廓波变换，得到对数差分影像的多尺度系数矩阵；对多尺度系数矩阵进行二值分类，并提取二值分类的分类阈值，根据分类阈值绘制标的物在光学影像中的光学轮廓；光学轮廓与标的物的标准轮廓判断标的物是否发生形变此外，本发明还涉及区块链技术，光学影像可存储于区块链的节点。本发明还提出一种基于图像比对的标的物形变检测装置、设备及介质。本发明可以提高基于遥感识别对标的形变状态识别的精度。
基于图像标的物形变检测方法装置设备介质

[发明专利]光学遥感影像像元处理方法及系统、电子设备、存储介质-CN201910472991.6在审
发明人：胡旭东;闫小明;姚燕;周晗;李明明;徐杰;王文菲 -专利权人：苏州中科天启遥感科技有限公司
申请日： 2019-05-31 - 公布日： 2019-09-27 - 主分类号： G06F16/16 文献下载
摘要：本发明提供光学遥感影像像元处理方法，包括如下步骤；获取影像列表、完整性检测、标记检测结果、缩略图生成、生成元信息文件。本发明还涉及光学遥感影像像元处理系统、电子设备及存储介质。本发明通过对影像的完整性检测、影像信息检测来对影像进行删除或对标记，可快速筛选出大量影像中质量较优的影像满足后续影像的快速挑选的需求即对影像的元信息文件中相关字段的识别和提取，提高了挑选优质影像的效率。
影像光学遥感影像像元完整性检测存储介质电子设备标记检测结果元信息文件处理系统快速筛选信息文件影像信息优质影像生成元字段删除检测

[发明专利]影像测量设备及采用该设备进行影像处理的方法-CN201410133035.2有效
发明人：洪金龙;仇增华 -专利权人：东莞市天勤仪器有限公司
申请日： 2014-04-03 - 公布日： 2014-07-16 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：一种影像测量设备及通过该影像测量设备进行影像处理的方法，影像测量设备设置有底座、纵向安装座、驱动装置、工作台、中央控制系统以及光学成像系统；光学成像系统设置有影像设备和激光发射器，影像设备的影像镜头和和激光发射器的激光头分别固定装配于纵向安装座采用上述影像测量设备进行影像处理的方法，包括如下步骤：（1）分别通过影像设备和激光发射器获得检测样品的影像信息；（2）将影像设备得到的影像信息与激光发射器得到的激光信息进行共坐标处理，得到同一坐标系下的影像信息和激光信息本发明通过影像设备和激光发射器，能够同时获得样品的多个参数，如表面信息及样品的平面度参数等，具有使用方便、检测高效省时的特点。
影像测量设备采用进行处理方法

[发明专利]光学影像检测器的亮度控制方法-CN01124181.0无效
发明人：郑德暎;李芳远 -专利权人：艾勒博科技股份有限公司
申请日： 2001-08-21 - 公布日： 2002-11-06 - 主分类号： G03B7/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学影像检测器的亮度控制方法,用以在一光源的光线反射一物体时检测一入射的光学影像,以及其依据检测到的入射光学影像来控制该光源的亮度。该光学影像检测器经由一影像传感器或一电气快门检测该光线,以及由一影像处理器或一系统控制器依据检测到的入射光学影像来直接调整光源的亮度。依照本发明的光学影像检测器的亮度控制方法,可以通过去除由于光源的亮度不足所造成的影像噪声及残留影像来改善物体的影像品质,以及通过直接调整光源的亮度来减少电源供应的消耗。
光学影像检测器亮度控制方法

[发明专利]一种自动光学检测设备及其检测方法-CN200810177069.6无效
发明人：潘世耀;冯胜凯;王铭辉;简宏达 -专利权人：中茂电子(深圳)有限公司
申请日： 2008-11-19 - 公布日： 2010-06-16 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：一种自动光学检测设备(Automated Optical Inspection；AOI)，用以检测一待测物的多个表面，该待测物可为一电子组件。该自动光学检测设备包含一光源装置，一影像感测装置，以及一光学结构件，其中，该光学结构件包含一基座与多个反射结构。当检测该多个表面的待测物时，将该待测物置于该些反射结构间，该些反射结构用以将反射自该多个表面的光线，再反射至该影像感测装置。
一种自动光学检测设备及其方法

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