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- [发明专利]高速测试电路与方法-CN201210051692.3有效
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丁达刚;王智彬;王明弘;吴俊鹏;田立勤
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补丁科技股份有限公司
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2012-03-01
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2013-03-13
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G01R31/28
- 本发明提出一种高速测试电路与方法。该高速测试电路接收自一测试仪而来的测试仪频率，并对一待测电路进行测试，此高速测试电路包含：一倍频电路，其接收自该测试仪频率，产生N倍频率的频率输出，其中N为正实数；一测试频率产生器，其根据倍频电路的输出及测试仪频率，产生一测试频率，此测试频率在低频与高频之间切换；一测试讯号产生器，其根据该测试频率而操作，此测试讯号产生器产生测试讯号，以供传送给待测电路；以及一比较电路，其根据待测电路对测试讯号的响应讯号，产生比对结果，其中，此高速测试电路在高频测试频率下对待测电路进行高速测试，而在低频测试频率下执行低速动作。
- 高速测试电路方法
- [发明专利]芯片端口频率测试方法-CN201610615663.3有效
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余琨;刘远华;汤雪飞;王华;牛勇
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上海华岭集成电路技术股份有限公司
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2016-07-29
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2019-10-25
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G01R23/02
- 本发明提供了一种芯片端口频率测试方法，包括：定义所述芯片的一输出管脚的测试向量的频率，使该频率符合自动测试装置(ATE)的测试频率；运行其他测试向量；以及运行所述输出管脚的测试向量，以进行所述芯片端口频率测试本发明为了实现在测试向量频率超出所使用ATE在频率测试模式下可提供最高频率的情况下，通过对测试向量进行拆分，以及并发测试技术实现芯片端口输出频率的测试，解决了现有方案一中需升级硬件，额外花费的问题，解决现有方案二中需外挂其他测试设备，测试时间长，且硬件连接不方便的问题。本发明在ATE硬件不变的条件下，利用并发测试技术实现芯片端口较高频率的测试，提高了较高芯片端口输出频率测试便捷性与测试效率。
- 芯片端口频率测试方法
- [发明专利]频率测试仪及频率测试系统-CN201410851533.0在审
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谢兴华
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无锡华润矽科微电子有限公司
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2014-12-31
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2016-07-27
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G01R23/10
- 本发明涉及一种频率测试仪，其包括基准时钟产生模块、信号比对模块、结果输出模块；本发明还涉及一种实现频率测试的系统，其包括待测设备以及所述的频率测试仪，待测设备包括待测频率发生器、频率测试模块以及频率比较模块，频率测试模块的使能端与所述的基准时钟产生模块的输出端相连接，频率测试模块的输入端与待测频率发生器的输出端相连接，频率测试模块的输出端与所述的频率比较模块的输入端相连接，所述的频率比较模块的输出端与所述的信号比对模块的输入端相连接采用该种结构的频率测试仪及频率测试系统，将频率测试模块即频率比较模块内置到待测设备中，频率比较完全由硬件实现，结构简单，提高了测试效率及可靠性，应用范围广泛。
- 频率测试仪测试系统
- [发明专利]一种芯片分级方法及装置-CN202011128798.X有效
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张新华
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展讯通信（天津）有限公司
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2020-10-20
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2022-09-02
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G01R31/28
- 本申请公开了一种芯片分级方法及装置，该方法包括：对在目标操作系统下的目标芯片输入黄金测试图样Golden Pattern集合，其中目标芯片工作在目标测试电压和目标测试频率下；若目标芯片输出的图像未失真，且目标操作系统未出现异常，则记录目标测试电压和目标测试频率至测试结果集合中，测试结果集合记录了不同的测试电压和测试频率之间的关联关系；根据测试结果集合确定目标测试电压对应的第一目标结果频率，其中第一目标结果频率为测试结果集合中与目标测试电压存在关联关系的各个测试频率中频率值最大的频率；将目标测试电压和第一目标结果频率添加至目标芯片的最高频率Fmax表格中。该方法可使最高频率Fmax表格更准确。
- 一种芯片分级方法装置
- [发明专利]MCU的测试方法和系统-CN201310073380.7有效
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朱龙钦
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上海宏测半导体科技有限公司
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2013-03-07
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2014-09-10
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G01R31/3181
- 本发明涉及集成电路测试领域，公开了一种MCU的测试方法和系统。本发明中，对通过开短路测试的MCU，在没有烧写频率时，进入IRC测试模式，进行频率校准，执行测试矢量之后，用TMU测试测量频率输出端（P12）的频率，根据测得的频率算出MM值；接着，将VDD、VPP和VIH的电压调整到5伏，将根据频率输出端测得的频率算出的MM值代入测试矢量，执行测试矢量之后，测量频率输出端的频率；并在测得的频率不在预设的门限内时，判定MCU为不合格。通过IRC频率校验和烧写，对MCU的输出频率进行微调，从而确保频率校准无误，MCU的功能全部正常。
- mcu测试方法系统
- [发明专利]一种基于耳机设备的听损测试方法及相关设备-CN202210635162.7有效
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李高峰;孙健
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深圳市听多多科技有限公司
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2022-06-07
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2023-07-04
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A61B5/12
- 本发明公开一种基于耳机设备的听损测试方法及相关设备，所述方法包括：主控单元将预设测试频带分为多个待测试频率；在预设次数内重复测试出从起始测试频率起的测试者接收到的第一阈值音强，若第一阈值音强的相同次数不小于预设比例次数，则进入在下一个待测试频率上的测试；当多个待测试频率均测试完毕后，复测出在起始测试频率上第一阈值音强，并将两次测试出的在起始测试频率上第一阈值音强进行比较；若偏差值不大于预设偏差值则结束测试；否则，重新测试在多个待测试频率通过重复对每一个待测试频率上的第一阈值音强的测试，并根据复测起始测试频率上的第一阈值音强的测试结果决定是否重测，提升听损测试的自动化程度和准确性。
- 一种基于耳机设备测试方法相关
- [发明专利]单片机频率测试系统及方法-CN201711323399.7有效
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王周宏;吴世华
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深圳市绘王动漫科技有限公司
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2017-12-12
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2021-08-06
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G01R23/02
- 本发明提供一种单片机频率测试系统，包括单片机和积分电路，本发明还提供基于单片机频率测试系统的方法，包括如下步骤：将基准信号和测试信号分别送到基准频率计数器和测试频率计数器，设定基准频率和测试频率；基准频率计数器和测试频率计数器同时开始计数M个周期，基准频率计数器计数到M值，将PW脚置高电平，ADC脚置高阻，积分电路开始工作；测试频率计数器计数到M值，将PW脚置高阻，ADC脚置ADC功能，积分电路电平保持，单片机通过ADC测得代表测试频率与基准频率差值的电压值与相关技术相比，本发明提供的单片机频率测试系统及方法可以突破单片机速度和计数器位数的限制，提高测试结果的精确度和准确性。
- 单片机频率测试系统方法
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