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[发明专利]非接触测量装置-CN201480016660.7有效
发明人： Z·F·米安;R·E·斯泊;R·W·伽玛彻 -专利权人：国际电子机械公司
申请日： 2014-03-19 - 公布日： 2018-07-10 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：提供包括非接触电子测量装置的方案。测量装置包括被配置为获取位于关于测量装置的测量区域中的被检体的表面的图像数据的一个或更多个成像装置和被配置为生成结构光的发散图案的一个或更多个投影图案生成器，当被检体位于测量区域中时，该发散图案照射成像装置的视场内的被检体的表面通过使用由成像装置获取的图像数据，计算机系统可测量被检体的表面的一组属性并且/或者自动确定测量装置是否处于测量区域内。实施例被配置为在操作过程中由用户保持。
被检体测量装置成像装置图像数据测量发散配置非接触测量装置电子测量装置操作过程投影图案图案照射用户保持自动确定非接触结构光可测量生成器组属性计算机系统图案

[发明专利]融合接触式测量与非接触测量的混合测量方法-CN201810734125.5有效
发明人：向兵飞;康晓军;周造文;黄晶;徐明;刘春江;史小昆;霍彪 -专利权人：江西洪都航空工业集团有限责任公司
申请日： 2018-07-06 - 公布日： 2020-08-28 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：融合接触式测量与非接触测量的混合测量方法，首先利用非接触测量法快速测量待测表面，得初步非接触测量结果，再通过接触测量法测量规划的多个接触式测量点Pi位置，以初步非接触测量结果为基础，将接触式测量点Pi的位置确定为修正基准，对初步非接触测量结果进行修正，得到二次非接触测量结果；计算接触式测量点Pi的位置与二次非接触测量结果的差值和法向投影点Qi，将所得的法向投影点Qi在初步非接触测量结果上划分网格，并得到所有网格节点；最后计算每个网格节点的差值，沿初步非接触测量结果的法线Ni方向移动每个网格节点，重新拟合成新曲面，从而完成测量，有效结合两种测量优点，进而节省测量时间提高测量精度。
融合接触测量混合测量方法

[发明专利]一种激光制造过程零部件温度的测量方法-CN201010276642.6无效
发明人：虞钢;赵树森;郑彩云;何秀丽;宁伟健 -专利权人：中国科学院力学研究所
申请日： 2010-09-08 - 公布日： 2011-02-16 - 主分类号： G01K7/04 文献下载
摘要：一种激光制造过程零部件温度的测量方法，其特征为，将接触式测温与非接触式测温方式相结合，采用非接触式测温方法对目标面、线、点进行测量，同时采用接触式测量元件对非接触式测量范围中某一位置进行测量，将同一测点的接触式与非接触式测量数据进行对比，以接触式测量数据为基准，修正非接触式测量相关参数与定量关系，从而对非接触式测量的面、线、点测量结果进行校正。该方法将接触式测温与非接触式测温相结合，并将两种测量方式获取的数据相互验证，增加了数据的可靠性，同时能够获取较为完整的温度分布信息。
一种激光制造过程零部件温度测量方法

[实用新型]一种用于直线度测量的测量头装置-CN202023114320.X有效
发明人：李建文;夏成峻;田志刚 -专利权人：武汉鑫贝克科技发展有限责任公司
申请日： 2020-12-22 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： G01B11/27 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于直线度测量的测量头装置，包含测量基座、设置在测量基座上的接触式测量头或非接触式测量头以及分别与接触式测量头或非接触式测量头通信连接的数据触发器和数据采集系统；其中，测量基座为接触式测量头或非接触式测量头提供支撑；接触式测量头通过与被测工件表面进行直接接触的方式测量被测工件表面的直线度；非接触式测量头通过与被测工件表面进行非接触的方式测量被测工件表面的直线度；数据触发器用于触发接触式测量头或非接触式测量头执行测量工作本实用新型优点有：测量方便、快捷、高效，测量数据精确；结构轻巧环保，维护成本低。
一种用于直线测量装置

[发明专利]非接触式测量设备-CN201711398166.3在审
发明人：刘建立 -专利权人：苏州临点三维科技有限公司
申请日： 2017-12-21 - 公布日： 2018-06-22 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种非接触式测量设备，包括箱体、设置在所述箱体两侧的侧门、设置在所述箱体内的导光板、相机及夹持装置，所述箱体包括相对设置的前侧板及后侧板、相对设置的左侧板及右侧板、相对设置的顶板及底板，所述前侧板、后侧板、左侧板及右侧板均设置有开口，所述侧门设置在左侧板及右侧板上；其中，所述非接触式测量设备还包括传送带及辊筒，所述传送带与所述辊筒连接，所述辊筒设置在所述底板上，所述辊筒的两端分别与所述传送带连接本发明通过在箱体内设置有辊筒，使得物体在运输过程中翻转测量；通过在箱体内设置有夹持装置，实现对物体的全面测量，结构简单、操作方便。
辊筒传送带非接触式测量设备相对设置右侧板左侧板底板夹持装置侧门后侧板前侧板测量箱体两侧运输过程导光板透明带翻转开口相机

[发明专利]非接触长度测量装置-CN201710526380.6在审
发明人：闫黎明;潘福中 -专利权人：郑州完美屹克科技有限公司
申请日： 2017-06-30 - 公布日： 2017-09-22 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明一种非接触长度测量装置，涉及长度测量技术领域，包括至少一个非接触长度测量传感器，所述非接触长度测量传感器包括壳体，以及设置于壳体内的成像模块、图像处理模块、接口控制模块，所述成像模块包括激光光源、所述激光光源产生的激光束经聚焦镜片投射至被测物，经被测物反射后通过放大镜片后呈像至感光元件上，所述感光元件高频向图像处理模块发送图像数据，所述图像处理模块将图像数据转换为位移量数据，并通过接口控制模块转换为脉冲信号或数字信号向外输出，测量精度高
接触长度测量装置

[发明专利]非接触式测量设备-CN201711397498.X在审
发明人：刘建立 -专利权人：苏州临点三维科技有限公司
申请日： 2017-12-21 - 公布日： 2018-05-08 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种非接触式测量设备，包括箱体、设置在所述箱体两侧的侧门、设置在所述箱体内的导光板及相机，所述箱体包括相对设置的前侧板及后侧板、相对设置的左侧板及右侧板、相对设置的顶板及底板，所述前侧板、后侧板同时，在测量球状物时，本装置还可通过传动辊使球状物翻转。
接触测量设备

[发明专利]非接触式测量设备-CN201711342071.X在审
发明人：刘建立 -专利权人：苏州西博三维科技有限公司
申请日： 2017-12-14 - 公布日： 2018-05-18 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种非接触式测量设备，所述非接触式测量设备包括箱体、设置在所述箱体两侧的侧门、设置在所述箱体内的导光板及相机，所述箱体包括相对设置的前侧板及后侧板、相对设置的左侧板及右侧板、相对设置的顶板及底板
接触测量设备

[发明专利]非接触式测量设备-CN201711339459.4在审
发明人：刘建立 -专利权人：苏州西博三维科技有限公司
申请日： 2017-12-14 - 公布日： 2018-05-08 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种非接触式测量设备，所述非接触式测量设备包括箱体、设置在所述箱体两侧的侧门、设置在所述箱体内的导光板及相机，所述箱体包括相对设置的前侧板及后侧板、相对设置的左侧板及右侧板、相对设置的顶板及底板
接触测量设备

[发明专利]非接触式测量系统-CN201610303076.0有效
发明人：宋秋构 -专利权人：苏州金世博精密机电有限公司
申请日： 2016-05-10 - 公布日： 2018-06-29 - 主分类号： G01L9/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种非接触式测量系统，包括底座，上述底座设有稳压电源，上述稳压电源连接有压差传感器，上述压差传感器设有测量头，上述压差传感器本体设有通气管道，上述测量头设有出气孔，上述通气管道与上述出气孔相连，上述压差传感器可感应上述通气管道的气压与上述出气孔的气压之间的压力差，上述底座设有夹持机构，该夹持机构用于夹持待测量的产品，上述测量头设于上述夹持机构上，上述压差传感器连接有控制器、感应放大器和CPU本发明的有益效果为：测量系统的气流稳定，该测量系统测量结果精准。
压差传感器通气管道底座夹持机构控制器测量头出气孔气源非接触式测量系统测量系统稳压电源气压感应放大器气管连接气流稳定压力差传感器夹持有压测量

[发明专利]非接触姿态测量系统-CN202010093758.X有效
发明人：杨君;徐唐进;习先强;孙化龙 -专利权人：天津时空经纬测控技术有限公司
申请日： 2020-02-14 - 公布日： 2022-03-11 - 主分类号： G01C1/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种非接触姿态测量系统和姿态信息采集设备。其中，非接触姿态测量系统包括第一光学准直装置、第一姿态测量装置以及处理器装置。第一光学准直装置用于检测与被测物的第一测量面之间的对准状态，其中在第一光学准直装置与第一测量面对准的情况下，第一光学准直装置的轴线与第一测量面的法线平行。第一姿态测量装置与第一光学准直装置连接，用于测量与第一光学准直装置的姿态相关的第一测量信息。处理器装置，与第一光学准直装置以及第一姿态测量装置通信连接，并且配置用于：在第一光学准直装置与第一测量面对准的情况下，根据从第一姿态测量装置接收的第一测量信息，确定被测物体的第一姿态信息。
接触姿态测量系统

[发明专利]非接触磁性测量元件-CN201010544458.5无效
发明人：马传武 -专利权人：蚌埠市双利电器有限责任公司
申请日： 2010-11-15 - 公布日： 2011-05-04 - 主分类号： G01P3/481 文献下载
摘要：一种非接触磁性测量元件，涉及一种检测控制系统，其方法为：通过非接触磁性测量元件测量风叶运转形成的脉冲电信号，经过滤波隔离，再经过触发器及捕捉器，最后输入到MPU系统计数，获得风叶转速值。
接触磁性测量元件

[实用新型]非接触光学测量系统-CN201020645122.3有效
发明人：小坂春男 -专利权人：小坂春男
申请日： 2010-12-07 - 公布日： 2011-07-13 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种非接触光学测量系统，包括底座以及安装在底座上的XY工作台和立柱，立柱上安装有可上下移动的Z轴，Z轴上安装有可上下移动的支撑部，支撑部上设有目镜、物镜和LED照明系统，Z轴上安装有光栅尺其采用光学焦点位置检测方式进行非接触高低测量，不仅可以对准目标影像，还能观察测量点的表面状态、高度、深度、高低差等进行测量；效率高，测量精度高，测量准确，无随机误差，不会因个人差异导致测量数据存在偏差；非接触测量不使用时，可以切换掉十字标记，变为常用金相显微镜来用。
接触光学测量系统

[实用新型]非接触位移测量装置-CN201220561362.4有效
发明人：张万江;万龙;赵春庆;龙彦泽;孙凡;田野;王敬军;范杨雪 -专利权人：沈阳建筑大学
申请日： 2012-10-30 - 公布日： 2013-05-01 - 主分类号： G01B21/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种非接触位移测量装置。接收通过信号标记装置和信号检测装置所发出信号信息，并对该信号信息进行综合比对，且输出位移信号的信号控制处理器；接收信号控制处理器发出的位移信号信息的执行机构，执行机构作出动作，从而整个装置完成对被检测工件的位移测量本实用新型适用于各种位移测量的场合，方便快捷地对设备加工的位移特性进行检测、反馈与控制，使得加工设备既省时省工、安全可靠，又自动化程度高，具有良好的经济效益和社会效益。
接触位移测量装置

[实用新型]非接触式测量系统-CN201620414712.2有效
发明人：宋秋构 -专利权人：苏州金世博精密机电有限公司
申请日： 2016-05-10 - 公布日： 2016-11-23 - 主分类号： G01L9/08 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种非接触式测量系统，包括底座，上述底座设有稳压电源，上述稳压电源连接有压差传感器，上述压差传感器设有测量头，上述压差传感器本体设有通气管道，上述测量头设有出气孔，上述通气管道与上述出气孔相连，上述压差传感器可感应上述通气管道的气压与上述出气孔的气压之间的压力差，上述底座设有夹持机构，该夹持机构用于夹持待测量的产品，上述测量头设于上述夹持机构上，上述压差传感器连接有控制器、感应放大器和CPU本实用新型的有益效果为：测量系统的气流稳定，该测量系统测量结果精准。
接触测量系统

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