专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种二甲基的制备方法及装置-CN202110490716.4在审
  • 徐建;朱刘;陈振宇;蔡云雷;李贤奎 - 广东先导微电子科技有限公司
  • 2021-05-06 - 2021-07-20 - C07F7/30
  • 本发明公开了一种二甲基的制备方法及装置,二甲基的制备方法,包括:步骤S1:分别向密闭反应釜内注入溶剂、二甲基二氯化及还原剂,二甲基二氯化与还原剂反应生成二甲基;步骤S2:冷却气态二甲基及挥发的部分气态溶剂,将冷凝生成的液态溶剂回流至密闭反应釜内;步骤S3:精馏气态二甲基;步骤S4:吸附气态二甲基的杂质;步骤S5:收集二甲基。本发明,二甲基二氯化与还原剂在密闭反应釜内反应生成二甲基,经过精馏去除一部分混在二甲基的溶剂,再吸附二甲基的杂质,最后收集,作为制造芯片的源,二甲基相比现在使用的和四氟化性质更稳定,提高了源制造芯片的安全性。
  • 一种甲基制备方法装置
  • [发明专利]一种高纯的纯化生产工艺及其生产系统-CN202010760970.7在审
  • 曹小林;裴友宏;何西;程紧 - 江西华特电子化学品有限公司
  • 2020-07-31 - 2020-10-16 - C01B6/06
  • 一种高纯的纯化生产工艺及其生产系统,纯化生产工艺包括以下步骤:对吸附器填装吸附剂;配置碱性液体通入碱洗器;用氦气抽空置换多个系统容器和管道,并活化吸附器;将冷凝器和冷阱预冷冻;将粗品脱除二氧化碳杂质;粗品脱除水分;粗品进入吸附器深度脱除杂质;粗品在冷阱中分离和氢气;粗品冷阱内深度脱除杂质;收集得到高纯。纯化生产系统,包括:生产系统和纯化系统;纯化系统包括:碱洗器、冷凝器、1#吸附器、2#吸附器和冷阱;本方案一种高纯的纯化生产工艺,其方法简单和易于操作,能制备高纯度5.5N,克服了现有技术制备高纯度需要投资大
  • 一种高纯纯化生产工艺及其生产系统
  • [实用新型]一种气体深度除杂用吸附器-CN202120559143.1有效
  • 龚施健;林海宁;陈国富;陈金彬;施宏伟;彭王生;吴春弟;于胜;胡超群 - 博纯材料股份有限公司
  • 2021-03-18 - 2022-01-14 - B01D53/78
  • 本实用新型提供一种气体深度除杂用吸附器,所述气体深度除杂用吸附器包括机体、内槽、顶槽和隔板,所述机体内部开设有内槽,所述内槽上方固定有隔板,所述隔板上方开设有顶槽,本实用新型提供的气体深度除杂用吸附器通过气泵将气体导入气槽内部,通过固定杆转动,使铁球形成一个平行状,使铁球的重量拉动密封板将气孔打开,配合气体的冲击力将挡板冲开,使气体进入内槽,实现碱液与气体的混合搅拌,与现有技术相比,本装置通过气泵将气体直接导入内槽与碱液混合,通过装置高速旋转,配合离心的方式将气体夹带的酸性气体吸附,使装置更加完善,而且装置体积较小,降低了成本,也可以放置空间较小的地方。
  • 一种气体深度杂用吸附
  • [发明专利]一种提纯的方法-CN200910095215.5无效
  • 席珍强;杜平凡;张瑞丽;张秀芳;张亚萍;姚晓辉 - 浙江理工大学
  • 2009-01-05 - 2009-07-22 - C01B6/06
  • 本发明公开了一种提纯的方法。根据纯度为92%~96%的中所含气体分子的相关物理参数以及分子筛的吸附特性,选用4A和5A两种分子筛;粗依次通过装有4A和5A分子筛的吸附柱后,用收集系统收集得到纯度为99%~99.99%的纯本发明采用的分子筛吸附提纯法除了能有效除去粗的主要杂质之外,对粗的痕量杂质同样具有很好的吸附能力,用这种方法提纯的更易获得高纯度;分子筛的性质稳定,不会对提纯的气体产生污染;吸附饱和的分子筛可以通过活化再生处理得到重复利用因此,分子筛吸附提纯法是一种高效、洁净、低成本的提纯方法。
  • 一种提纯方法
  • [发明专利]纯化-CN200980154667.4无效
  • 加里·D·米勒 - 伏太斯公司
  • 2009-11-16 - 2011-12-14 - C01G17/00
  • 一种用于纯化含有磷化氢的,以提供纯化的产品的方法和系统。本发明的一方面是制备含有低于50ppb磷化氢的纯化的产品的方法,其包括提供磷化氢污染的气体和氢气的混合物;使气体氢气混合物通过选择性吸附磷化氢的吸附剂,以及产生纯化的气体和氢气的混合物;以及从氢气气体混合物中分离纯化的气体。
  • 纯化
  • [发明专利]废气的处理装置-CN201010563954.5无效
  • 陈国富;施宏伟;胡超群 - 福建博纯材料有限公司
  • 2010-11-30 - 2011-06-01 - B01D53/78
  • 本发明公开了一种含废气的处理装置,所述装置包括塔体,在所述塔体内部具有填料层,所述填料层下方为进气通道,所述塔体底部设置有储液槽,顶部具有抽风机,所述装置还包括将储液槽的液体泵入填料层的循环泵,所述含废气经由所述进气通道,在抽风机的作用下进入所述填料层内部与填料层的液体反应,除去气体,剩余气体由抽风机排出塔体。本发明的含废气的处理装置能够直接应用于太阳能电池和集成电路制造企业的含废气的处理。
  • 含锗烷废气处理装置
  • [发明专利]监控硅外延反应腔设备参数变化的方法-CN200710094160.7无效
  • 季伟 - 上海华虹NEC电子有限公司
  • 2007-10-23 - 2009-04-29 - C30B25/16
  • 本发明公开了一种监控硅外延反应腔设备参数变化的方法,包括如下步骤:(1)编辑硅淀积程序时将淀积分为不同的步数,每一步淀积的每一层膜不一样,或掺入,或不掺入;(2)编辑对应的膜厚测量程序,不掺的层次监控设备温度,掺的层次监控流量;(3)对设备温度、流量拉偏,画出不同层膜厚随温度、流量的变化曲线;(4)当测量结果异常时,根据上述膜厚随温度、流量的变化曲线,将每一层膜厚调整至目标值。本发明利用硅淀积程序和膜厚测试程序的配合,对设备温度和流量的变化及时监控,通过膜厚的变化反映出设备参数的变化,利于发现工艺参数变化的根本原因,以恢复设备的初始状态。
  • 监控外延反应设备参数变化方法

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