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[发明专利]一种用于道岔制造过程自动化在线检测设备及方法-CN201910421820.0在审
发明人：吴钟敏;张朝富;徐光辉;席卫锋;朱鹏杰;张宜;张少华 -专利权人：中铁宝桥(南京)有限公司;中铁宝桥集团有限公司;中铁高新工业股份有限公司
申请日： 2019-05-21 - 公布日： 2019-07-12 - 主分类号： G05B19/19 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于道岔制造过程自动化在线检测设备及方法，该检测设备包括：机架；轮廓测量模块，设置于机架上，对道岔轨件的轮廓进行测量，得到轮廓测量数据；距离测量模块，与机架相对设置，对距离测量模块与机架之间的距离进行测量，得到距离测量数据；数据接收与存储模块接收轮廓测量数据和距离测量数据并进行存储，同时调取道岔轨件并进行存储；数据处理模块调用轮廓测量数据、距离测量数据并进行处理，得到道岔轨件的三维轮廓数据，并调用道岔轨件标准数据与三维轮廓数据进行对比通过该检测设备，实现对数控铣削加工轮廓几何尺寸的自动检测，提高了测量精度。
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[实用新型]一种用于道岔制造过程自动化在线检测设备-CN201920726708.3有效
发明人：吴钟敏;张朝富;徐光辉;席卫锋;朱鹏杰;张宜;张少华 -专利权人：中铁宝桥(南京)有限公司;中铁宝桥集团有限公司;中铁高新工业股份有限公司
申请日： 2019-05-21 - 公布日： 2020-03-17 - 主分类号： G05B19/19 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于道岔制造过程自动化在线检测设备，该检测设备包括：机架；轮廓测量模块，设置于机架上，用于对道岔轨件的轮廓进行测量，得到轮廓测量数据；距离测量模块，与机架相对设置，用于对距离测量模块与机架之间的距离进行测量，得到距离测量数据；数据接收与存储模块接收轮廓测量数据和距离测量数据并进行存储，同时调取道岔轨件并进行存储；数据处理模块调用轮廓测量数据、距离测量数据并进行处理，得到道岔轨件的三维轮廓数据，并调用道岔轨件标准数据与三维轮廓数据进行对比该检测设备，实现对数控铣削加工轮廓几何尺寸的自动检测，提高了测量精度。
一种用于道岔制造过程自动化在线检测设备

[实用新型]干涉轮廓测量设备-CN202320675405.X有效
发明人：夏勇;何梓铭;王华 -专利权人：长川科技（苏州）有限公司
申请日： 2023-03-30 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种干涉轮廓测量设备，包括底座、位移平台、光学干涉模块及相机。位移平台包括压电陶瓷及与导向机构，导向机构与压电陶瓷配合，能够将电信号转化成导向机构的移动端在第一方向上的动作。光学干涉模块的干涉物镜能够在位移平台的带动下沿第一方向移动以获得不同光程差或相位差的干涉光束，从而实现干涉测量。因此，上述干涉轮廓测量设备具有较高的测量精度及稳定性。
干涉轮廓测量设备

[发明专利]表面轮廓测量设备-CN200980102872.6无效
发明人：刘永雄;崔永珍;曺哲熏 -专利权人：奔创科技有限公司
申请日： 2009-03-30 - 公布日： 2011-02-09 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种用来检测物体的表面的二维图像的表面轮廓测量设备。根据本发明的表面轮廓测量设备包括：第一光源，其向物体的表面照射第一单色光；第二光源，其向物体的表面照射颜色不同于第一单色光的第二单色光；黑白相机，其捕捉从第一光源和第二光源照射并从物体的表面反射的第一单色光和第二单色光
表面轮廓测量设备

[发明专利]轮廓测量装置及方法-CN201710032651.2在审
发明人：桂杰;刘国强;周千琪 -专利权人：北京聚利科技股份有限公司
申请日： 2017-01-16 - 公布日： 2017-06-20 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明提供一种轮廓测量装置及方法，涉及测量技术。轮廓测量装置包括十字光源，用于向测量区域发射十字光；图像传感器，用于采集十字光的投影图像；终端设备，用于根据投影图像以及十字光源与图像传感器的位置关系，确定测量区域中的待测物体的三维轮廓。轮廓测量方法的步骤与前述轮廓测量装置的功能相对应。通过十字光源向测量区域发射十字光，通过图像传感器采集十字光的投影图像，通过终端设备根据投影图像以及十字光源与图像传感器的位置关系，确定测量区域中的待测物体的三维轮廓，从而根据待测物体自身的二维轮廓得到待测物体的三维轮廓，不仅简化了轮廓测量装置的结构，并且简化对待测物体的三维轮廓的测量过程。
轮廓测量装置方法

[发明专利]一种使用非接触式非球面轮廓仪测量离轴非球面的方法-CN202110214153.6有效
发明人：李昂;王永刚;孟晓辉;栗孟娟;王刚;王培培 -专利权人：北京空间机电研究所
申请日： 2021-02-25 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种使用非接触式非球面轮廓仪测量离轴非球面的方法，包括如下几个步骤：1)确定待测面的理论轮廓定义；根据轮廓定义构造一组与该离轴非球面对等的三维坐标点集；2)使用步骤(1)中生成的点集，采用非线性最小二乘法拟合计算，找到一个最优化的逼近同轴非球面作为轮廓扫描仪的测量轨迹轮廓；3)将待测离轴镜放置到轮廓扫描仪的测量区域，使用校正量规将元件中心对准设备主轴；向轮廓扫描仪输入步骤2)中获取的测量轮廓以及相关测量设置，启动设备检测；当待测离轴镜面形精度优于60nm时，检测过程中通过力学仿真选择元件底面支撑方式；4)从检测设备测控软件中导出测量结果的轮廓数据，即离轴镜几何中心坐标系下，设备实测的样件轮廓点集；进行空间五维误差去除以及噪声点去除处理
一种使用接触球面轮廓仪测量离轴非方法

[实用新型]轮廓测量装置-CN201720055212.9有效
发明人：桂杰;刘国强;周千琪 -专利权人：北京聚利科技股份有限公司
申请日： 2017-01-16 - 公布日： 2017-08-04 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本实用新型提供一种轮廓测量装置，涉及测量技术。轮廓测量装置包括用于向测量区域发射十字光的十字光源、用于采集十字光的投影图像的图像传感器、用于根据投影图像以及十字光源与图像传感器的位置关系确定测量区域中的待测物体的三维轮廓的终端设备；十字光源与图像传感器之间具有预设位置关系，图像传感器与终端设备电连接。通过十字光源向测量区域发射十字光，通过图像传感器采集十字光的投影图像，通过终端设备根据投影图像以及十字光源与图像传感器的位置关系，确定测量区域中的待测物体的三维轮廓，从而根据待测物体自身的二维轮廓得到待测物体的三维轮廓，不仅简化了轮廓测量装置的结构，并且简化对待测物体的三维轮廓的测量过程。
轮廓测量装置

[发明专利]有砟轨道道床断面测量装置-CN202310961657.3在审
发明人：崔瀚钰;余佳磊;龚一帆;董兆立;徐雪丹;朱飘;李向辉;胡强;陶甄斌;杨浩;孙周军;翟东阳;谈志群;赵康云;邓婕 -专利权人：上海欣铁机电科技有限公司;上海欣铁智能科技有限公司
申请日： 2023-08-01 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： B61L23/04 文献下载
摘要：本申请提供了有砟轨道道床断面测量装置，属于铁路轨道测量技术领域。针对有砟轨道道床断面测量精度低、测量连续性差、道砟量计算误差大的问题，本申请提供了有砟轨道道床断面测量装置，包括车体，车体上设置有激光发射机构和多个图像获取设备；激光发射机构用于向道床发射激光，且激光覆盖道床的断面轮廓，以形成道床的轮廓图像；多个图像获取设备位于车体在垂直行走方向上的两侧，且多个图像获取设备沿车体行走方向与轮廓图像间隔设置，使得多个图像获取设备的视野至少覆盖轮廓图像。本申请在保证图像获取设备能够获取完整的轮廓图像的同时，保证了测量装置在钢轨上行走时图像获取设备的准确性，提高了道床断面的测量精度。
轨道道床断面测量装置

[发明专利]建盏尺寸测量方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品-CN202310084130.7在审
发明人：邓维峰;李仁义;段文科;周宓;姚伟 -专利权人：广州南天电脑系统有限公司;云南南天电子信息产业股份有限公司
申请日： 2023-01-13 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： G06T7/62 文献下载
摘要：本申请涉及一种建盏尺寸测量方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取待测建盏的建盏图像；对建盏图像进行轮廓识别，确定至少一个轮廓数据；从各轮廓数据中筛选出目标轮廓数据；目标轮廓数据包括第一目标轮廓数据和第二目标轮廓数据；目标轮廓数据对应的轮廓面积大于或等于预设面积阈值，且目标轮廓数据在相应方向上的尺寸均满足预设尺寸条件；根据第一目标轮廓数据，确定待测建盏的直径测量信息，以及根据第二目标轮廓数据，确定待测建盏的高度测量信息；将直径测量信息和高度测量信息，作为待测建盏的尺寸测量信息采用本方法能够准确测量建盏尺寸。
尺寸测量方法装置计算机设备存储介质程序产品

[实用新型]壳体组件和测量设备-CN202021630404.6有效
发明人： G·莫伦;陈世泽;陈俊邦 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2020-08-07 - 公布日： 2021-03-12 - 主分类号： G01D11/24 文献下载
摘要：本申请提供壳体组件和测量设备。该壳体组件包括：本体，其具有第一硬度并且形状构造为与测量设备的外壳轮廓相匹配；其中，本体面朝外壳轮廓的一侧上形成多个凹部，凹部构造为在远离外壳轮廓的方向上延伸，使得当壳体组件套接到外壳轮廓上时，本体与外壳轮廓在凹部处分离，以便在凹部处形成充满空气的间隔部；其中，外壳轮廓具有第二硬度，并且第一硬度小于第二硬度；本体上设置有多个窗，使得外壳轮廓通过窗是可接近的，并且其中，外壳轮廓中的光学器件布置为与窗对齐。本申请的壳体组件和测量设备具有简单可靠、易于实施、使用方便等优点。测量设备的抗冲击能力得到进一步改善，使得使用寿命延长。
壳体组件测量设备

[发明专利]用于测量长轮廓的方法和设备-CN201680018270.2有效
发明人： G·克莱门斯;K·弗里德里希·皮特;L·爱德华德;N·阿尔伯特 -专利权人：耐克斯特森斯有限责任公司
申请日： 2016-03-23 - 公布日： 2020-03-13 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于测量长轮廓(2)、特别是温度升高的长轮廓(2)的方法，其中所述长轮廓(2)的截面被确定，其中所述长轮廓(2)是使用可移置地安装在回转装置(3)上的光切传感器(4)测得的。本发明还涉及一种用于测量长轮廓(2)、特别是温度升高的长轮廓(2)的设备(1)，所述设备(1)包括用于确定所述长轮廓(2)的截面的测量装置，其中回转装置(3)被提供并且所述测量装置被形成为光切传感器(4本发明进一步涉及这类设备(1)的使用。
用于测量轮廓方法设备

[发明专利]一种高精度激光投影视觉三维测量系统-CN202010864806.0在审
发明人：王立之 -专利权人：安普森智能科技（江苏）有限公司
申请日： 2020-08-25 - 公布日： 2021-01-01 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种高精度激光投影视觉三维测量系统，包括多个大型高精度、高像素的CMOS相机以及相应的多色光源、主视觉光学测量系统、高精度轮廓测量的投影系统、高精度轮廓测量的线激光测量系统、镜头、设备框架支座和三维测量控制软件系统，三维测量控制软件系统协调控制视觉光学测量系统、高精度轮廓测量的投影系统和高精度轮廓测量的线激光测量系统，镜头设于设备框架支座上。本发明属于光学测量检测领域，具体提供了一种高精度激光投影视觉三维测量系统，该系统基于多目视觉测量，同时引入激光和轮廓投影进行测量数据的修正和补偿，通过创新的深度神经网络学习算法来进一步提高测量精度。
一种高精度激光投影视觉三维测量系统

[发明专利]一种核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置和方法-CN201811415985.9在审
发明人：赵建平;吴康彪;冯常;廖礼斌;陈志波;张闰;黄冰峰;蔡根 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2018-11-26 - 公布日： 2019-02-26 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种在核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置和方法，属于核工业测量设备领域，测量装置包括辐射屏蔽壳体(1)、测量模块(2)、安装壳体(3)和控制处理系统(4)。测量模块(2)安装在安装壳体(3)上，安装壳体(3)安装在辐射屏蔽壳体(1)上。本发明主要用于核辐射的环境下，对待测件表面轮廓进行测量。使用上述核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置实现在核辐射环境下对待测件表面轮廓进行高精度的测量，同时该设备具备一定耐辐射能力，结构紧凑，操作简便，适应性和抗干扰强，可获取不同形状待测件的表面轮廓参数。
核辐射环境物体表面轮廓测量安装壳体表面轮廓测量模块辐射屏蔽壳体测量表面轮廓参数控制处理系统核辐射测量设备测量装置装置实现抗干扰待测件耐辐射核工业

[实用新型]一种核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置-CN201821971462.8有效
发明人：赵建平;吴康彪;冯常;廖礼斌;陈志波;张闰;黄冰峰;蔡根 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2018-11-26 - 公布日： 2019-07-05 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种在核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置，属于核工业测量设备领域，测量装置包括辐射屏蔽壳体(1)、测量模块(2)、安装壳体(3)和控制处理系统(4)。测量模块(2)安装在安装壳体(3)上，安装壳体(3)安装在辐射屏蔽壳体(1)上。本实用新型主要用于核辐射的环境下，对待测件表面轮廓进行测量。使用上述核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置实现在核辐射环境下对待测件表面轮廓进行高精度的测量，同时该设备具备一定耐辐射能力，结构紧凑，操作简便，适应性和抗干扰强，可获取不同形状待测件的表面轮廓参数。
核辐射环境物体表面轮廓测量安装壳体本实用新型表面轮廓测量模块辐射屏蔽壳体测量表面轮廓参数控制处理系统核辐射测量设备测量装置装置实现抗干扰待测件耐辐射核工业

[发明专利]一种激光扫描设备的校准装置及校准方法-CN202111492066.3在审
发明人：张俊;王伟;王祥;李柯蓉;周芷萱;缑飞鹏 -专利权人：中航西安飞机工业集团股份有限公司
申请日： 2021-12-08 - 公布日： 2022-03-11 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：一种激光扫描设备的校准装置及校准方法，含有基座、转动台、支撑柱，转动台镶嵌在基座上，在转动台的上表面分布有多个测量靶标，两个支撑柱中心对称，垂直的设置在转动台的上表面，在支撑柱的柱体表面同样分布有多个测量靶标，在两个支撑柱的内侧分别设有相向的纵向卡槽，该纵向卡槽与测量标准件的本体匹配，使测量标准件通过卡槽可以镶嵌在两个支撑柱之间，通过激光扫描设备扫描测量校准装置上的测量靶标位置和标准测量面的轮廓度，得到测量靶标的扫描测量值和标准测量面的扫描轮廓度，将测量靶标的扫描测量值与测量靶标的标定值进行比较，得到激光扫描设备的定位误差，将标准测量面的扫描轮廓度与标准测量面的标定轮廓度进行比较，得到激光扫描设备的扫描测量误差。
一种激光扫描设备校准装置方法

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