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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]质量分析装置-CN202310302863.3在审
发明人：藤田慎二郎 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2023-03-27 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： H01J49/02 文献下载
摘要：本发明的质量分析装置具备：检测器(3)，根据与检测器电压相对应的增益，与入射的离子相对应而生成电流脉冲信号；电压产生部(6)，对检测器提供检测器电压；分支部(41)，将基于从检测器的阳极(30)取出的电流脉冲信号的电压脉冲信号分支为多个
质量分析装置

[发明专利]质量分析装置-CN201310218253.1有效
发明人：诸熊秀俊;石黑浩二;熊野峻 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2013-06-04 - 公布日： 2013-12-18 - 主分类号： H01J49/42 文献下载
摘要：本发明提供质量分析装置（100），其测定试样的更换容易，且能抑制带水。该质量分析装置具有：分离被离子化的试样气体的质量分析部（102）；利用来自质量分析部的差动排气对内部进行减压，并对上述试样气体进行离子化的离子源（101）；使测定试样气化，并且产生试样气体的试样容器（17
质量分析装置

[发明专利]质量分析装置-CN201210031337.X有效
发明人：能田弘行;大沼满;佐藤庸子;石黑浩二;诸熊秀俊;大月繁夫;衣斐奈美 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2012-02-13 - 公布日： 2012-10-17 - 主分类号： H01J49/00 文献下载
摘要：本发明提供一种排热效果及重量平衡良好的小型质量分析装置。该质量分析装置是将重量件配置在高度尺寸H小于横宽尺寸W且进深尺寸D小于该高度尺寸H的箱体(100)的中央，并在横宽方向的两侧设置将多个电路基板9(50)分散收放的电路基板收放部(60)，该重量件包括：真空室
质量分析装置

[发明专利]质量分析装置-CN201110353331.X有效
发明人：诸熊秀俊;桥本雄一郎;杉山益之;山田益义;长谷川英树 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2011-11-07 - 公布日： 2012-05-23 - 主分类号： H01J49/04 文献下载
摘要：本发明涉及质量分析装置。本发明提供小型轻量且可进行高精度的质量分析的质量分析装置(100)。该质量分析装置具有：为了使测定试样(4)离子化而对从外部流入的气体(23)进行离子化的离子源(101)和分离已离子化的测定试样(4)的质量分析部(102)；离子源(101)通过来自质量分析部(102)的差动排气来使内部减压，在吸入气体(23)而使气压上升时使气体(23)离子化，质量分析部(102)在吸入气体(23)后内压下降时将已离子化的测定试样(4)分离。
质量分析装置

[发明专利]质量分析装置-CN201280075869.1有效
发明人：藤田慎二郎 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2012-09-20 - 公布日： 2016-10-19 - 主分类号： H01J49/06 文献下载
摘要：本发明提供一种质量分析装置。每次从LC部（1）的喷射器（12）注入目标试料并针对该试料中的目标成分执行质量分析时，切换施加于离子检测仪（29）的转换打拿极的CD电压。在实测结束后，最优CD电压决定部（34）比较每个CD电压的SN比，并将提供最大SN比的CD电压作为最优于此时的分析条件和分析对象的m/z的CD电压而存储在最优CD电压存储部（42）中。
质量分析装置

[发明专利]质量分析装置-CN201380075121.6有效
发明人：小仓泰郎 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2013-03-26 - 公布日： 2018-04-06 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明的装置将能够取得对成分的识别有用的MSn谱的、包含各阶段的CID中的前体离子的组合信息的一览表存储于前体离子一览表存储部(33)。一旦得到分析过程中不进行CID的MS1谱，前体离子选择部(32)就根据存储部(33)存储的一览表，判定作为第1段的CID的前体离子登记的离子是否存在于MS1谱上，如果存在，就立即实施以该离子为前体离子的MS2分析。接着，判定对应于上述第1段的CID的前体离子登记为第2段的CID的前体离子的离子是否存在于MS2谱上，如果存在，就立即实施以该离子为前体离子的MS3分析，获取MS3谱。由此，能够避免实施利用不适当的前体离子的组合的徒劳的MS3分析，能够高效率地收集对成分的识别有用的信息。
质量分析装置

[发明专利]质量分析装置-CN201280071666.5有效
发明人：向畑和男 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2012-03-22 - 公布日： 2014-12-10 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：调整对象的m/z越大，则相对于电压变化表示强度变化的峰的宽度越宽，因此即使扩大搜索最佳电压时的电压步宽也不会看漏最大强度。在此，将针对低m/z提供窄的电压步宽、针对高m/z提供宽的电压步宽的关系式预先存储到电压步级信息存储部(32)，在电压自动调整时，最佳电压调整控制部(31)利用该存储信息来求出与调整对象的m/z相应的最佳电压步宽，控制电源部(21)使得对第一离子导向器(8)施加的电压阶段性地变化。判断施加电压每次变化时获得的离子强度，求出提供最大强度的电压值并保存到最佳电压信息存储部(33)。由此，当对离子导向器等离子输送光学元件施加的电压自动调整时，不会看漏提供最大离子强度的最佳电压值，并且能够缩短调整所需的时间。
质量分析装置

[发明专利]质量分析装置-CN201180076207.1有效
发明人：朝野夏世 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2011-11-04 - 公布日： 2014-09-03 - 主分类号： H01J49/26 文献下载
摘要：由此，能够通过针对最多两次的试样注入的分析来决定CE电压的最佳值。
质量分析装置

[发明专利]质量分析装置-CN201280072343.8有效
发明人：朝野夏世 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2012-04-12 - 公布日： 2014-12-24 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：当在循环时间Tp、滞留时间Td等测量条件下对目标试样执行质量分析时，色谱制作部(41)基于分析结果制作色谱并求出峰面积值A。这是仅包含数据的统计上的误差因素的基准CV值，因此通过将实测CV值与基准CV值以能够进行比较的方式进行显示，分析者能够判断实测数据是否优良等，该实测CV值是基于与多次测量对应的实际的峰面积值的误差而计算出的
质量分析装置

[发明专利]质量分析装置-CN200880127811.0有效
发明人：西口克 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2008-03-05 - 公布日： 2011-05-18 - 主分类号： H01J49/06 文献下载
摘要：前者的离子聚集性、质量选择性较强，后者的离子透过性、离子接受性较强。离子光学系统能够通过根据所配置的环境、前后的条件适当地调整离子光学特性，来综合地改进离子的输送效率。
质量分析装置

[发明专利]质量分析装置-CN200880129936.7有效
发明人：谷口纯一 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2008-06-20 - 公布日： 2011-05-18 - 主分类号： H01J49/42 文献下载
摘要：由此，冷却后的离子的空间分布变窄，离子射出时的初始位置的偏差变小，从而质量分辨率提高。另一方面，由于能够与以往同样地对高m/z的离子以较高的qz值进行离子的析出，因此也能够确保较高的质量选择性。
质量分析装置

[发明专利]质量分析装置-CN200880130156.4有效
发明人：梶原茂树 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2008-07-03 - 公布日： 2011-05-25 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：提供一种质量分析装置，对试样上的指定的质量分析范围内的各微小区域执行MS分析，根据由此得到的数据制作出指定的m/z或者m/z范围的分布图像并描绘在显示画面上(S10～S14)。当操作员观察该分布图像来确定关心物质并指示该关心物质的m/z值时(S15)，提取在MS谱上该关心物质的m/z强度为阈值以上的微小区域，将关心物质的m/z作为前体来对该微小区域执行MS/MS分析(S26、
质量分析装置

[发明专利]质量分析装置-CN201280066503.8有效
发明人：长谷川英树;佐竹宏之;管正男;桥本雄一郎 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2012-12-21 - 公布日： 2014-09-10 - 主分类号： H01J49/06 文献下载
摘要：为了解决上述课题，本发明提供如下质量分析装置(1)，其特征在于，电极(13)的离子导入孔(14)被分割为第一区域(14-1)、第二区域(14-2)以及第三区域(14-3)，第一区域和第三区域双方或者任一方的离子导入孔的中心轴方向与第二区域的离子导入孔的内部的离子的流动方向的轴不同
质量分析装置

[发明专利]质量分析装置-CN201180074291.3有效
发明人：奥村大辅;上田学 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2011-10-20 - 公布日： 2014-06-25 - 主分类号： H01J49/06 文献下载
摘要：在多级差动排气系统的质量分析装置中，以离子透镜（13）的开口的周缘部位于以最短距离将前级的第2离子导向器（12）的后缘端的内切圆和后级的第3离子导向器（14）的前缘端的内切圆连接起来的虚拟的筒状体的周面的外侧的方式离子导向器（12）产生的高频电场和由第3离子导向器（14）产生的高频电场通过离子透镜（13）的开口而实质上相连，自第2离子导向器（12）向第3离子导向器（14）更有效地、即损失较小地输送离子，从而能向质量分析提供更多的离子
质量分析装置

[发明专利]质量分析装置-CN201180075013.X有效
发明人：丹羽明彦 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2011-11-22 - 公布日： 2014-07-23 - 主分类号： H01J49/26 文献下载
摘要：在具备对用色谱仪的柱分离出的试样成分依次进行MS分析、并基于该分析结果来自动确定MS/MS分析的执行定时的功能的质量分析装置中设置有：色谱图制作单元，其根据上述MS分析的结果来制作表示规定的质量范围内的离子强度随时间的变化的色谱图；以及定时确定单元，其基于上述色谱图来确定MS/MS分析的执行定时，其中，定时确定单元将上述色谱图上的信号强度超过规定的下限值之后达到规定的上限值的时间点、或者超过上述下限值之后没有达到上述上限值就到达峰顶的时间点确定为MS/MS分析的执行定时。
质量分析装置

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