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[发明专利]集成电路测试的预处理集成电路-CN02822201.6无效
发明人： I·W·J·M·鲁特坦 -专利权人：皇家飞利浦电子股份有限公司
申请日： 2002-10-28 - 公布日： 2005-02-16 - 主分类号： G01R31/316 文献下载
摘要：配置的测试系统(300)包括预处理集成电路(350)，预处理集成电路连接在自动化测试设备(ATE)(310)与被测试装置(DUT)(150)之间。配置预处理集成电路(350)对传送给被测试装置(150)和从其传出的信号进行预处理，特别是对高频信号进行预处理以便避免由自动化测试设备(310)与被测试装置(150)之间的长引线(311)所引起的不利影响预处理集成电路(350)用来提供与被测试装置(150)的直接接触，由此提供了至被测试装置(150)的非常短的引线(351)。根据来自自动化测试设备(310)的控制信号或其他测试信号，在预处理集成电路(350)产生或转换出传送给被测试装置(150)的高频信号。从被测试装置(150)接收到的高频或时间限制信号由预处理集成电路(350)进行处理和/或转换，用于到自动化测试设备(310)的后继传输。
集成电路测试预处理

[发明专利]测试装置、测试装置的程式、测试图案记录媒体以及测试装置的控制方法-CN200480011478.9无效
发明人：熊木德雄 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2004-03-12 - 公布日： 2006-05-31 - 主分类号： G01R31/3183 文献下载
摘要：本发明是有关于一种测试装置、测试装置的程式、测试图案记录媒体以及测试装置的控制方法。该测试装置用以测试被测试元件，其中使用于被测试元件的测试的测试图案档案是包括多数个分割图案记录区域，以记录多数个分割图案，该些分割图案是分割用来测试该被测试元件的测试图案。前述测试装置具备多数个变换处理部，彼此并行地变换在互相不同的该些分割图案记录区域所记录的该些分割图案；以及测试图案产生器，用以供应被该些变换处理部所变换的该测试图案给被测试元件。
测试装置程式图案记录媒体以及控制方法

[发明专利]测试系统、附加装置以及测试方法-CN200710079962.0无效
发明人：渡辺雄也;菅森茂 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2007-02-27 - 公布日： 2007-09-19 - 主分类号： G01R31/3181 文献下载
摘要：本发明能够以良好的效率进行事件库的测试。本发明提供一种测试系统，用来对被测试装置进行测试，此测试系统具备：测试装置，利用事件库对被测试装置进行测试；以及附加装置，当装置输出信号变化的间隔小于测试装置可处理的间隔时，附加在被测试装置与测试装置之间；并且，附加装置具备：信号输入部，输入被测试装置对应于装置输入信号而输出的装置输出信号；变化检测部，检测所输入的装置输出信号是否有变化；变化定时检测部，检测装置输出信号的变化定时；存储部，对应于装置输出信号变化的情况，将装置输出信号的变化定时及变化后的信号值作为输出事件依次进行存储；以及读出部，从存储部中依次读出输出事件，并输入到测试装置。
测试系统附加装置以及方法

[发明专利]无线重联设备测试系统和方法-CN201811260667.X在审
发明人：罗皓中;何宇强;何占元;孟宪洪;王远波;任虎 -专利权人：中国神华能源股份有限公司;朔黄铁路发展有限责任公司;株洲中车时代电气股份有限公司
申请日： 2018-10-26 - 公布日： 2019-02-22 - 主分类号： B61L27/00 文献下载
摘要：本发明提供了无线重联设备测试系统和方法，属于无线重联设备测试领域。所述无线重联设备测试系统包括：测试装置，用于接收测试指令，根据所述测试指令对被测机车进行功能测试并向所述被测机车反馈测试结果；传输装置，用于通过800M电台及天线系统来进行所述测试装置与所述被测机车之间的信息传输；编组模块，用于在进行所述功能测试之前对所述测试装置和所述被测机车进行编组；以及解编模块，用于在所述功能测试结束之后对所述测试装置和所述被测机车进行解编。本发明通过单独的测试装置对被测机车进行功能测试，可以随时完成对机车无线重联系统的测试工作，不需要陪试机车的配合，大大提高了测试效率，降低了测试成本，解放了机车的运输能力。
机车测试装置无线重联设备功能测试测试系统无线重联系统编组模块测试成本测试领域测试效率测试指令传输装置反馈测试接收测试天线系统信息传输运输能力编组指令测试电台配合

[实用新型]一种用于检测焓差实验室风量箱漏风的测试装置-CN202022998005.1有效
发明人：刘世清;李强荣;韦汝煌;房锦涛 -专利权人：珠海市精实测控技术有限公司
申请日： 2020-12-11 - 公布日： 2021-06-15 - 主分类号： G01M3/32 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种用于检测焓差实验室风量箱漏风的测试装置，包括：测试装置主体、被测设备和测试装置控制系统，所述测试装置主体设置有风容腔、风机和风量测试装置，风机和风量测试装置设置于风容腔内，所述风容腔前后两侧设备设置有进风口Ι和出风口Ι，所述被测设备设置有进风口Ⅱ，所述测试装置主体出风口Ι与被测设备的进风口Ⅱ进行连接并密封，所述测试装置控制系统包括数字控制器和显示屏，所述数字控制器用于风机的风速，所述显示屏用于实时显示计算出的风量
一种用于检测实验室风量漏风测试装置

[发明专利]测试系统和测试方法-CN202211071353.1在审
发明人：陈明;马力 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2022-09-01 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G06F11/267 文献下载
摘要：一种测试系统和测试方法，涉及计算机技术领域。该测试系统包括：控制装置和测试装置；测试装置，用于识别被测对象的测试边界，并根据该测试边界执行被测对象的测试并输出测试结果，测试装置与被测对象相连，测试边界用于标识对被测对象进行测试的测试单元和被测对象的类别，该测试结果指示被测对象与测试单元的兼容性；控制装置，用于向认证中心获取自动化测试程序，控制测试装置对被测对象进行测试，认证中心与控制装置通过互联网连接。如此，当被测对象与测试单元兼容时，对于处于该测试边界以内除被测对象之外的其他元件均能够与被测对象兼容，从而可以有效降低测试工作量，缩短测试耗时。
测试系统方法

[实用新型]一种电流测试系统-CN202120678855.5有效
发明人：李升根 -专利权人：深圳市广和通无线股份有限公司
申请日： 2021-04-02 - 公布日： 2022-01-18 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种电流测试系统，包括辅助测试装置，辅助测试装置的输出端与被测电源的输出端及接地负载连接，辅助测试装置的输出电压高于被测电源的输出电压；与辅助测试装置连接、用于根据辅助测试装置的输出电流值得到被测电源的输出电流值并输出的结果输出装置本申请在对被测电源电流进行测试时，不需要对被测电源的相关电路进行处理，适用范围广，应用于高密度电路板时，不需要破坏高密度电路板上原有精细的电路走线，提高测试效率及测试可靠性。
一种电流测试系统

[其他]具有磁泡存储器的可编程序测试仪-CN88103019无效
发明人：理查德·J·安德烈亚诺 -专利权人：格鲁曼航天公司
申请日： 1988-04-22 - 公布日： 1988-11-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：公开了一种能够自动测试大量不同类型电子装置的可移动式可编程序电子测试仪。通过测试仪内的微计算机控制测试仪的操作。可编程序激励子系统对被测试装置提供所需的激励，可编程序响应测量子系统测量被测试装置的规定输出参数。可编程序开关子系统通过接口装置把被测试装置有选择地连接到激励子系统和响应测量子系统，该接口装置适用于把被测试装置连接到测试仪。为测试一个特定被测试装置的操作特性设计的测试程序存储在一个磁泡存储器盒中。
具有存储器程序测试仪

[发明专利]具有磁泡存储器的可编程序测试仪-CN88103019.8无效
发明人：理查德·J·安德烈亚诺 -专利权人：格鲁曼航天公司
申请日： 1988-04-22 - 公布日： 1991-07-31 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：公开了一种能够自动测试大量不同类型电子装置的可移动式可编程序电子测试仪。通过测试仪内的微计算机控制测试仪的操作。可编程序激励子系统对被测试装置提供所需的激励，可编程序响应测量子系统测量被测试装置的规定输出参数。可编程序开关子系统通过接口装置把被测试装置有选择地连接到激励子系统和响应测量子系统，该接口装置适用于把被测试装置连接到测试仪。为测试一个特定被测试装置的操作特性设计的测试程序存储在一个磁泡存储器盒中。
具有存储器程序测试仪

[发明专利]误比特率测试方法和装置-CN202210194757.3在审
发明人：王学寰;张兴新;鲍鹏鑫 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2021-01-08 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： H04L1/20 文献下载
摘要：本申请提供一种误比特率测试方法和装置。本申请误比特率测试方法，包括：测试装置向被测传输装置发送第一序列；被测传输装置接收第三序列，第三序列与测试装置发送的第一序列相对应；被测传输装置根据第三序列和第二序列获取第一BER；测试装置获取来自被测传输装置的第一BER；当第一BER大于或等于预设比特位比例时，测试装置向被测传输装置发送第二序列；被测传输装置接收第四序列，第四序列与测试装置发送的第二序列相对应；被测传输装置根据第四序列和第二序列获取第二BER，第二BER指示被测传输装置的BER。本申请可以适用于测试速率非对称的被测传输装置的BER。
比特率测试方法装置

[发明专利]误比特率测试方法和装置-CN202180000407.2有效
发明人：王学寰;张兴新;鲍鹏鑫 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2021-01-08 - 公布日： 2022-03-08 - 主分类号： H04L1/20 文献下载
摘要：本申请提供一种误比特率测试方法和装置。本申请误比特率测试方法，包括：测试装置向被测传输装置发送第一序列；被测传输装置接收第三序列，第三序列与测试装置发送的第一序列相对应；被测传输装置根据第三序列和第二序列获取第一BER；测试装置获取来自被测传输装置的第一BER；当第一BER大于或等于预设比特位比例时，测试装置向被测传输装置发送第二序列；被测传输装置接收第四序列，第四序列与测试装置发送的第二序列相对应；被测传输装置根据第四序列和第二序列获取第二BER，第二BER指示被测传输装置的BER。本申请可以适用于测试速率非对称的被测传输装置的BER。
比特率测试方法装置

[发明专利]芯片级电磁干扰传导注入测试方法及装置-CN202311205204.4在审
发明人：黄保成;赵扬;高杰;翟振;成睿琦;杨小娟;仝傲宇 -专利权人：北京智芯微电子科技有限公司;国网江苏省电力有限公司常州供电分公司;国家电网有限公司
申请日： 2023-09-19 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请提供一种芯片级电磁干扰传导注入测试方法及装置，属于芯片电磁抗扰度测试技术领域。所述芯片级电磁干扰传导注入测试方法包括：构建测试装置；根据当前被测芯片标定测试装置不同参数对应的注入能量及波形特征；将当前被测芯片连接到测试装置上；采用测试装置注入电磁干扰到当前被测芯片；记录当前被测芯片的不同注入能量及波形特征以及对应的芯片状态通过上述技术手段，在对被测芯片进行测试前标定被测芯片在测试装置采用不同参数时注入的能量及波形特征，然后将被测芯片连接到测试装置上进行测试，最后记录被测芯片状态及对应的注入能量及波形特征，为研究干扰注入能量及波形特征对芯片失效的影响提供数据基础
芯片级电磁干扰传导注入测试方法装置

[发明专利]一种无线多媒体传感网定位测试系统及方法-CN201510032282.8有效
发明人：付勇;刘瑞霞;陈长英;胡一帆;孔祥龙;朱亮;赵雪;王英龙 -专利权人：山东省计算中心(国家超级计算济南中心)
申请日： 2015-01-22 - 公布日： 2017-03-22 - 主分类号： G01S5/00 文献下载
摘要：本发明的无线多媒体传感网定位测试系统，包括数据管理服务器、多个主测试装置以及多个终端测试装置，利用主测试装置上的多个定向天线和接收到的被测试节点的信号强度来实现定位。本发明的定位和测试方法包括a).安装被测试节点；b).布设主测试装置；c).建立测试网络；d).被测试节点的数据发送；e).数据的接收和转发；f).被测试节点的角度定位；g).获取被测试节点的坐标；h)本发明的定位测试系统及方法，可通过被测试节点与定向天线的夹角和信号强度来计算节点坐标，也可通过与两个主测试装置的夹角来实现；通过比较计算方法得到的坐标与通过卫星获取坐标的差值，来评价定位计算方法的优劣。
一种无线多媒体传感定位测试系统方法

[发明专利]测试装置及测试方法-CN200980149135.1无效
发明人：石川慎一;杉村一;基石优;中山浩康;津藤胜 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2009-05-29 - 公布日： 2011-11-16 - 主分类号： H04L12/56 文献下载
摘要：本发明提供一种测试装置，是测试被测试装置的测试装置，包括：取得部，从对被测试器件的动作进行模拟的模拟环境中取得与被测试器件之间进行通信的数据包列；数据包通信程序生成部，根据数据包列生成测试用的数据包通信程序，所述测试用的数据包通信程序由该测试装置执行，并进行与被测试器件之间的数据包列中所包含的数据包的通信，以及测试部，执行数据包通信程序，与被测试器件之间进行数据包通信的测试。
测试装置方法

[发明专利]测试插座-CN200810149161.1有效
发明人：斋藤仁;辻诚 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2008-09-12 - 公布日： 2009-03-18 - 主分类号： H01R33/76 文献下载
摘要：本发明提供一种测试插座，该测试插座可以根据固体摄像装置的形状而加以灵活地应对，且可以更准确地实施固体摄像装置的定位。所述测试插座(1)用以在测试时收纳作为固体摄像装置的被测试装置，所述测试插座(1)包括：第1定位机构(12)，在和收纳状态下的被测试装置的顶面平行的X方向上，定位被测试装置；施力机构(13)，在和收纳状态下的被测试装置的顶面垂直的Z方向上，对第1定位机构(12)施力；以及位置设定机构(14)，设定通过施力机构(13)使第1定位机构(12)在Z方向上移动的上限，从而设定第1定位机构(12)在Z方向上相对于被测试装置的位置。
测试插座