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[发明专利]一种磁性材料产品表面缺陷模拟方法及装置-CN202010299408.9有效
发明人：艾国;张帅 -专利权人：创新奇智（重庆）科技有限公司
申请日： 2020-04-16 - 公布日： 2023-01-20 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请提供一种磁性材料产品表面缺陷模拟方法及装置，所述方法包括：获取多组磁性材料产品的带缺陷表面图像及对应的缺陷掩码图；根据多组带缺陷表面图像及缺陷掩码图，裁剪得到多组带缺陷局部图像及对应的局部缺陷掩码图；根据多组带缺陷局部图像及局部缺陷掩码图，构建得到缺陷库；获取磁性材料产品的无缺陷表面图像；从缺陷库中选取目标缺陷图像及对应的目标缺陷掩码图；根据目标缺陷图像、目标缺陷掩码图及图像的结构相似性，在无缺陷表面图像模拟缺陷，得到模拟缺陷图像。本申请可在无缺陷表面图像模拟缺陷，得到模拟缺陷图像，为基于深度学习实现磁性材料产品表面缺陷检测的方式提供更多的训练数据。
一种磁性材料产品表面缺陷模拟方法装置

[发明专利]缺陷检测方法、装置及计算机存储介质-CN202210215068.6在审
发明人：申云鹏 -专利权人：重庆中科云从科技有限公司
申请日： 2022-03-04 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请提供一种缺陷检测方法、装置及计算机存储介质，包括：针对待检测图像中的待检测对象执行缺陷检测，获得各缺陷各自的位置信息、置信度信息、缺陷预测信息；根据各缺陷各自的位置信息、置信度信息，确定各缺陷中的非抑制缺陷和被抑制缺陷；根据各缺陷的非抑制缺陷或被抑制缺陷的确定结果、各缺陷各自的缺陷预测信息，确定各缺陷对应的各缺陷类别；根据各缺陷对应的各缺陷类别，确定待检测对象的缺陷检测结果。借此，本申请可快速执行缺陷检测，并可有效提高缺陷检测结果的准确性。
缺陷检测方法装置计算机存储介质

[发明专利]PCB产品的过程管控方法和系统-CN201711098243.3在审
发明人：刘文敏;李学喆;邱勇萍;李文杰;宫立军 -专利权人：广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司
申请日： 2017-11-09 - 公布日： 2018-05-15 - 主分类号： G05B19/418 文献下载
摘要：所述方法包括：根据历史缺陷信息构建缺陷库，缺陷库中的信息包括多条缺陷记录，每条缺陷记录包括缺陷名称、缺陷情况信息、缺陷产生站点、缺陷侦测站点以及缺陷产生机理。检测PCB产品生产过程时，在每个站点检测产生的缺陷事件信息，缺陷事件信息包括缺陷情况信息、缺陷侦测站点以及缺陷产生站点；根据缺陷事件信息查询所述缺陷库，得到缺陷事件对应的缺陷记录；根据缺陷记录中的缺陷产生机理信息，生成针对缺陷事件的管控指令，根据管控指令管控所述PCB产品生产过程中的缺陷事件。无需根据人经验判断，提高PCB产品生产过程中管控的准确性以及全面性，进而从根本上消除生产PCB产品过程中的缺陷。
pcb 产品过程方法系统

[发明专利]一种变速箱齿轮表面缺陷检测方法-CN202210897809.3有效
发明人：周益新 -专利权人：南通新思迪机电有限公司
申请日： 2022-07-28 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种变速箱齿轮表面缺陷检测方法，包括以下步骤：步骤S1、表面缺陷进行类别分组得到多个类别的缺陷样本集，对每个缺陷类别的缺陷样本集进行区域特征提取以构建出每个缺陷类别的缺陷画像；步骤S2、定位出缺陷易发区域和非缺陷易发区域，并将缺陷易发区域的表面图像进行增强优化；步骤S3、对缺陷易发区域的缺陷类别进行排序得到单类别缺陷识别顺序，并确定出缺陷易发区域的缺陷产生结果以及产生缺陷的缺陷类别。本发明为缺陷易发区域构建单类别缺陷识别模型，为非缺陷易发区域构建多类别缺陷识别模型，对易发生缺陷的区域和不易发生缺陷的区域进行差别识别，提高缺陷检测时效性，降低运算冗余。
一种变速箱齿轮表面缺陷检测方法

[发明专利]一种屏幕缺陷的检测方法-CN202110588028.1有效
发明人：徐博超;张莲莲;李伟;田永军;陶平;靳松;陈永超;陈晨 -专利权人：北京兆维科技开发有限公司
申请日： 2021-05-27 - 公布日： 2022-07-12 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种屏幕缺陷的检测方法，属于屏幕缺陷检测技术领域。本检测方法包括以下步骤：将屏幕处于黑画面和亮画面状态下拍摄，获得黑画面图像和亮画面图像，确定缺陷位置；当在黑画面存在缺陷时，根据黑画面图像对缺陷提取，并对缺陷检测，确定缺陷所在层级，即为缺陷信息A；当在亮画面存在缺陷时，根据亮画面图像对缺陷提取，并对缺陷检测，确定缺陷所在层级，即为缺陷信息B；根据亮画面图像，获得屏幕表面灰尘脏污的干扰缺陷；将缺陷信息A或缺陷信息B去除得到的干扰缺陷，即检测出屏幕缺陷。本检测方法可以获取缺陷所在层级，从而确定缺陷是否为可修复缺陷，提高产量，并能判别出表面脏污与内部真实缺陷，降低了过检率。
一种屏幕缺陷检测方法

[发明专利]一种探伤图像缺陷的处理方法、系统及电子设备-CN202310697437.4在审
发明人：李沁阳;吴楚澔;计效园;周圣智;李硕宏;董淏;李宁;殷亚军;周建新;高亮 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2023-06-12 - 公布日： 2023-09-26 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种探伤图像缺陷的处理方法、系统及电子设备，包括：确定图像内的缺陷种类和位置；缺陷包括第一类缺陷和第二类缺陷，第一类缺陷为尺寸跨度未超出阈值且密集出现的缺陷，第二类缺陷为尺寸跨度超出阈值的缺陷；针对第一类缺陷内的任意一种缺陷，将密集的缺陷进行合并；针对第二类缺陷内的任意一种缺陷，将被重复标记或者分段标记的缺陷进行合并。本发明分别设计了不同的缺陷合并方式，将密集出现的缺陷或者被重复和分段识别的缺陷进行合并。此外，本发明设计了缺陷扩充的方式，以避免缺陷检测不完整，减少缺陷区域漏检的情况。本发明通过设计不同的缺陷合并和缺陷扩充，提高了缺陷检测的精度，实现了缺陷的精准识别。
一种探伤图像缺陷处理方法系统电子设备

[发明专利]一种缺陷管理方法及设备-CN201710698534.X在审
发明人：荆帅帅 -专利权人：郑州云海信息技术有限公司
申请日： 2017-08-15 - 公布日： 2017-12-15 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种缺陷管理方法及设备，涉及软件缺陷管理技术。本文公开的缺陷管理方法，包括从预先配置的缺陷模板中提取缺陷信息；在缺陷的生命周期内根据所提取的缺陷信息确定缺陷状态；从所述缺陷模板中导出缺陷状态为确认缺陷的缺陷信息，进行多维度缺陷分析。
一种缺陷管理方法设备

[发明专利]基于典型缺陷库的缺陷辅助处理方法及系统-CN201611249669.X在审
发明人：李雪莹;刘丰;王添;成鑫 -专利权人：北京市天元网络技术股份有限公司
申请日： 2016-12-29 - 公布日： 2017-06-09 - 主分类号： G06F17/30 文献下载
摘要：本发明涉及通信网络运维技术领域，公开了一种基于典型缺陷库的缺陷辅助处理方法，包括步骤S1创建典型缺陷库，所述典型缺陷库记录了通信设备的典型缺陷，所述典型缺陷包括属性缺陷标题、设备类型、设备厂家、缺陷描述、缺陷原始信息和缺陷处理措施；S2当出现新缺陷时，将典型缺陷的一种或几种属性与所述新缺陷的一种或几种属性进行匹配，将匹配上至少一种属性的典型缺陷作为分析结果展示。本发明还公开了一种基于典型缺陷库的缺陷辅助处理系统。本发明的基于典型缺陷库的缺陷辅助处理方法及系统，通过将新缺陷与典型缺陷库中的缺陷进行关联分析，能够快速匹配出新缺陷的解决措施并展示，从而提高了新缺陷的处理效率。
基于典型缺陷辅助处理方法系统

[发明专利]基于深度学习的二维PCB外观缺陷实时自动检测技术-CN202010412967.6有效
发明人：罗贵明;何悦 -专利权人：清华大学
申请日： 2020-05-15 - 公布日： 2022-10-14 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提出了一种基于深度学习的二维PCB外观缺陷实时自动检测技术，含有依赖于标准PCB板作比对的CNN检测、无标准PCB板比对的CNN检测(非监督学习检测)、混合CNN检测三种PCB缺陷检测方法，包括：训练PCB缺陷图片库的每一种类缺陷，将待测PCB图片分割成多个图片块；利用PCB缺陷特征搜索缺陷块识别待测PCB图片中的缺陷并标记疑似缺陷块；利用PCB缺陷类别特征进行缺陷分类，判断缺陷类别，判断不在类别中的疑似缺陷是假缺陷还是新类别的缺陷，将新类别缺陷补充至缺陷图片库；利用PCB缺陷级别特征判断疑似缺陷，若为假缺陷，则删除对应缺陷并分析原因，若为真缺陷，则标记在缺陷记录中。该方法检测PCB缺陷速度快、精度高。
基于深度学习二维 pcb 外观缺陷实时自动检测技术

[发明专利]一种基于对抗生成网络的缺陷图像生成方法-CN202111240124.3在审
发明人：李斌;牛拴龙;唐立新;邱园红;牛通之;李威风;彭亚茹;林雨枫;李鹤 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2021-10-25 - 公布日： 2022-02-08 - 主分类号： G06T11/00 文献下载
摘要：本发明属于图像处理相关技术领域，其公开了一种基于对抗生成网络的缺陷图像生成方法，方法包括以下步骤：(1)采集工件的缺陷图像及无缺陷图像以分别构建缺陷数据集及无缺陷数据集，并对缺陷数据集进行像素级标注；(2)分别构建缺陷掩码输入模块及缺陷生成对抗网络；(3)构建缺陷方向向量模块；(4)构建缺陷注意损失，缺陷注意损失包括缺陷全图损失及缺陷区域损失；(5)训练缺陷生成对抗网络以得到缺陷生成参数模型，采用该缺陷生成参数模型生成缺陷图像本发明能够生成“以假乱真”且超越现有采样数据空间限制的缺陷图像数据集，生成缺陷图像单张图像质量高，生成缺陷图像数据集缺陷多样性好，具有生成采样数据空间之外数据的能力。
一种基于对抗生成网络缺陷图像方法

[发明专利]一种规则缺陷分析方法及系统-CN202211545396.9在审
发明人：笪仲跃;李宝同;李先军;包振健;杨艺 -专利权人：凌云光技术股份有限公司
申请日： 2022-12-01 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请提供一种规则缺陷分析方法及系统，所述方法在获取物料的检测图像后，会对检测图像进行特征提取，提取检测图像中的缺陷特征，缺陷特征包括缺陷参数，再根据缺陷判定规则集确定缺陷特征的缺陷等级，以根据缺陷等级生成缺陷分析结果其中，缺陷判定规则集包括至少一个缺陷判定规则，缺陷判定规则包括缺陷参数关联的多个区间阈值，多个所述区间阈值分别用于判定不同的缺陷等级。所述方法通过对物料的检测图像进行特征提取，可以提取到物料表面缺陷的缺陷特征。同时，通过多个缺陷判定规则对缺陷特征进行数据规则化处理，确定缺陷特征的缺陷等级，以生成缺陷分析结果，将质量数据和生产设备关联，预测生产趋势，降低物料报废率。
一种规则缺陷分析方法系统

[发明专利]一种配置管理和缺陷管理的集成方法及系统-CN201010603556.1有效
发明人：曹文倩;李志;刘江宁 -专利权人：山东中创软件工程股份有限公司;山东中创软件商用中间件股份有限公司
申请日： 2010-12-23 - 公布日： 2011-05-04 - 主分类号： G06F17/30 文献下载
摘要：本申请公开了一种配置管理和缺陷管理的集成方法，包括：接收用户更新的执行文件，获取所述执行文件的执行属性；依据所述执行属性获取缺陷列表；选择所述缺陷列表中的缺陷及所述缺陷的目标状态；关联缺陷库，将所述缺陷库中与所述缺陷对应的缺陷状态修改为所述缺陷的目标状态本发明提供的一种配置管理和缺陷管理的集成方法，在配置管理的基础上，依据执行文件的属性获取缺陷列表，选择缺陷列表中的缺陷及缺陷的目标状态，关联缺陷库，直接将缺陷库中缺陷对应的缺陷状态修改为缺陷的目标状态；脱离了手动修改状态的过程，修改缺陷过程更加方便快捷，提高了工作效率。
一种配置管理缺陷管理集成方法系统

[发明专利]设备缺陷消除排班方法及装置-CN202210368150.2在审
发明人：裴昌胜;韩飙;赵广家;武小舟 -专利权人：陕西清水川能源股份有限公司
申请日： 2022-04-08 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本申请提供一种设备缺陷消除排班方法及装置，该排班方法包括：接收设备缺陷消除排班指令，设备缺陷消除排班指令携带需要进行缺陷消除的各设备的设备标识、缺陷消除完成时间、缺陷领域、缺陷内容；获取缺陷消除员工信息，缺陷消除员工信息包括缺陷消除员工的员工数量、员工编号与技术领域；根据缺陷消除员工的员工数量、员工编号与技术领域及缺陷消除完成时间、缺陷领域、缺陷内容，生成满足排班规则的设备缺陷消除排班信息，排班信息为缺陷消除员工编号、值班开始时间、设备标识、缺陷内容之间的对应关系；向缺陷消除员工的终端发送设备缺陷消除排班信息。由此可知，本申请提高了设备缺陷管理效率。
设备缺陷消除排班方法装置

[发明专利]一种缺陷图像标注方法、装置、设备及介质-CN202310331564.2有效
发明人：陈秀睿;晏文仲;田楷;王如义;黄金;陈立名;胡江洪;曹彬 -专利权人：菲特（天津）检测技术有限公司
申请日： 2023-03-31 - 公布日： 2023-06-16 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种缺陷图像标注方法、装置、设备及介质。其中，方法包括：获取待标注PCB缺陷图像的缺陷类型；根据所述待标注PCB缺陷图像的缺陷类型，确定与所述待标注PCB缺陷图像对应的标注规则；根据与所述待标注PCB缺陷图像对应的标注规则，对所述待标注PCB缺陷图像进行标注。本发明实施例可以根据待标注PCB缺陷图像的缺陷类型，将可以有效区分缺陷类型和缺陷类型对应的接近缺陷类型的PCB缺陷图像的标注规则，确定为待标注PCB缺陷图像对应的标注规则，对待标注PCB缺陷图像进行标注，便于PCB缺陷检测模型在训练过程中准确判别PCB缺陷图像的缺陷类型，提高PCB缺陷检测模型的检测精度。
一种缺陷图像标注方法装置设备介质

[发明专利]电池片缺陷检测方法、装置、计算机设备及可读存储介质-CN202211201816.1在审
发明人：曹建伟;朱亮;傅林坚;刘华;文灿华 -专利权人：浙江求是半导体设备有限公司
申请日： 2022-09-29 - 公布日： 2022-12-27 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种电池片缺陷检测方法、装置、计算机设备及可读存储介质。所述方法包括：获取待检测电池片图像；将所述待检测电池片图像输入至第一缺陷检测模型中，得到主缺陷，所述主缺陷包括连续缺陷区域；将所述待检测电池片图像输入至第二缺陷检测模型中，得到局部缺陷，所述局部缺陷包括至少一个缺陷源点，所述缺陷源点包括缺陷端点或缺陷交点；基于所述主缺陷和所述局部缺陷确定目标缺陷。本申请实施例提供的电池片缺陷检测方法，一方面通过局部缺陷来补足或纠正主缺陷检测结果的遗漏或错误；另一方面，局部缺陷可以更准确地表达诱发缺陷的位置，为分析导致电池片缺陷原因提供了重要参考依据，有效提高了电池片缺陷检测的准确率和检测效率
电池缺陷检测方法装置计算机设备可读存储介质