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- [发明专利]绝对位置测量-CN02801179.1有效
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艾恩·罗伯特·戈顿-英格拉姆
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瑞尼斯豪公司
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2002-04-11
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2003-12-10
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G01D5/347
- 本发明公开了一种绝对位置测量标尺(18),包括增量式标尺(10),所述增量式标尺具有一系列相互交替排列的光反射线(12)和非光反射线(14),绝对数据以离散代码形式通过移动光反射线(22)嵌入增量式标尺内采用查询表,通过比较从标尺中提取的绝对位置数据和查询表中的绝对代码,来确定大致的绝对位置。通过将大致的绝对位置和提取的初识代码起始位置相结合,从而确定绝对位置。通过将绝对位置与增量位置结合,可以在一个标尺间距内确定绝对位置。
- 绝对位置测量
- [发明专利]一种绝对式光栅尺及位移测量方法-CN201711218552.X在审
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柴宁;王晗;陈新;陈新度;尹自强;刘强
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广东工业大学
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2017-11-28
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2018-04-27
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G01B11/02
- 本发明实施例公开了一种绝对式光栅尺及位移测量方法。其中,光栅尺主体根据伪随机码原理设有表征绝对位置信息的绝对码道;光电探测器采集光源模块出射的平行光束照射至光栅尺主体后反射的绝对码道光栅图像的光信号作为绝对码道图像信息,绝对码道图像信息包括光电探测器起始端光敏元对应的起始条纹和码区信息;光电探测器与绝对码道光栅图像成预设夹角;绝对位置测量值计算模块对接收的绝对码道图像信息中的码区信息进行解码以得到绝对位置粗测值;根据起始条纹处的光敏元分布状态及细分倍数计算绝对位置精测值;根据绝对位置粗测值和绝对位置精测值计算得到的绝对位置测量值本申请提高了绝对式光栅尺的分辨率与可靠性,降低了制作成本。
- 一种绝对光栅尺位移测量方法
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