专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种晶圆的电容测试方法和测试装置-CN201711465714.X有效
  • 王俊美;郝瑞庭;尹诗龙 - 北京华峰测控技术股份有限公司
  • 2017-12-28 - 2020-07-17 - G01R27/26
  • 本发明公开了一种晶圆的电容测试方法和测试装置。测试方法包括获取对应晶圆第一测试位置处的误差寄生电容误差寄生电容电容测试设备中测试线路的寄生电容;获取第一测量电容;根据晶圆第一测试位置处的误差寄生电容和第一测量电容获取晶圆第一测试位置处的实际被测电容;更新晶圆第一测试位置处的误差寄生电容至晶圆第二测试位置处的误差寄生电容;获取第二测量电容;根据更新后的误差寄生电容和第二测量电容获取晶圆第二测试位置处的实际被测电容,直至获取晶圆的所有测试位置的实际被测电容通过本发明的技术方案,提高了晶圆各测试位置的实际电容的测试准确性。
  • 一种电容测试方法装置
  • [发明专利]一种SAR型ADC的高精度校准装置-CN201710488915.5有效
  • 李婷;郭仲杰 - 西安微电子技术研究所
  • 2017-06-23 - 2021-01-22 - H03M1/10
  • 本发明公开了一种SAR型ADC的高精度校准装置,包括比较器,比较器的负向输入端和正向输入端之间一次连接有高位电容阵列和低位电容阵列;高位电容阵列与高位和偏移误差校准模块连接,低位电容阵列与低位和桥接电容校准模块连接;高位电容阵列和低位电容阵列通过开关阵列控制与数字控制逻辑的导通;其中开关阵列通过refp/refn方式连接;所述高位和偏移误差校准模块包括第一增益电容,便宜误差校准与多个高位电容校准并联,第一增益电容与其连接;所述低位和桥接电容校准模块包括第二增益电容,第二增益电容余低位校准单元连接。能够对电容的匹配性误差、寄生电容引入的误差以及桥接电容的精度误差进行全方位校准,大幅度提高了ADC的整体转换精度。
  • 一种saradc高精度校准装置
  • [发明专利]一种应用于斐波那契电容阵列的自校准方法-CN202310017165.9在审
  • 曹超;甘泽标;徐辉;赵伟;段宇豪;郭海君 - 山东大学
  • 2023-01-06 - 2023-05-09 - H03M1/10
  • 本发明涉及一种应用于斐波那契电容阵列的自校准方法,该方法包括:主DAC电容阵列采用斐波那契数列的比值排列布局;对主DAC电容阵列的误差电压进行量化,得到的数字化的误差电压作为非线性校准项;并将非线性校准项存储在数据寄存器中;当对主DAC电容阵列进行自校准时,从数据寄存器中获取非线性校准项,并加载到校准DAC中,然后回补到主DAC电容阵列,使得由校准DAC输出端产生的模拟信号与主DAC电容阵列产生的误差电压抵消,完成对主DAC电容阵列的自校准。该方法可以减小由于寄生电容和工艺制造误差带来的电容之间的失配误差而带来的电容间失配,极大的修正了在电容阵列中相邻电容由于失配造成的误差
  • 一种应用于电容阵列校准方法

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