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[实用新型]测量装置和测量系统-CN202120967274.3有效
发明人：李青;李赫然;陈英;郭志胜;张克俭;王海周;蒲兴龙;葛怀敏;宋义峰 -专利权人：河南旭阳光电科技有限公司;东旭科技集团有限公司;东旭光电科技股份有限公司
申请日： 2021-05-06 - 公布日： 2022-01-11 - 主分类号： G01N25/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及玻璃基板的热收缩测试技术领域，具体地涉及一种测量装置和测量系统。测量装置包括样品台(1)和测量单元，样品台(1)包括工作面(2)，以用于放置玻璃基板(3)，工作面(2)上设置有限位部，限位部设置为能够限定玻璃基板(3)在工作面(2)上的放置位置，以使得玻璃基板(3)能够始终放置到工作面(2)上的同一位置，测量单元设置为能够通过激光测量玻璃基板(3)的长度。测量装置的样品台1能够通过限位部将加热前后的玻璃基板3始终限定在工作面2上的同一位置，而且测量单元通过激光来测量玻璃基板的长度，提高了玻璃基板的测量数据的精准度，为研发和生产低热收缩玻璃基板提供了可靠的测量数据
测量装置系统

[实用新型]测量头及测量装置-CN202122001161.0有效
发明人：张秉君 -专利权人：深圳市裕展精密科技有限公司
申请日： 2021-08-24 - 公布日： 2022-03-08 - 主分类号： G01B21/00 文献下载
摘要：一种测量头，用于测量台阶孔。台阶孔包括连通的第一孔和第二孔，第一孔的孔径大于第二孔的孔径。测量头包括测量主体、连接件、定位件和弹性件。测量主体包括一测量部，测量部的外径大于第二孔的孔径。定位件设于测量主体内，定位件的外径与第二孔的孔径相匹配。弹性件设于测量主体内且抵持定位件，弹性件通过弹力推动定位件伸出测量部，使定位件穿过第一孔并伸入第二孔。定位件对测量主体进行导向，使测量部伸入第一孔并抵接第二孔的孔口，以测量第一孔的深度。上述测量头及测量装置，通过定位件与测量主体，利用弹性件推动定位件伸入第二孔，通过定位件伸入第二孔定位，测量主体在定位件的导向下伸入第一孔，测量第一孔的深度，提升检测精度。
测量装置

[实用新型]测量装置及测量设备-CN202221818229.2有效
发明人：刘云飞;李均强;赖浩勇;王浩然;刘铿;胡柳;杨羽 -专利权人：捷普电子（广州）有限公司
申请日： 2022-07-14 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： G01B21/00 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种测量装置及测量设备，所述测量装置包括：座体、第一滑块、第二滑块、第一检测元件和第二检测元件；所述第一滑块与所述第二滑块沿相平行的滑动方向分别滑动地设置于所述座体，所述第一滑块设置有第一接触面，所述第二滑块设置有第二接触面，所述第一接触面与所述第二接触面滑动接触，所述第一滑块包括测量部，所述测量部的沿与所述第一接触面相垂直的方向的长度尺寸等于待检测部的尺寸公差；所述第一检测元件和所述第二检测元件分别设置于所述座体本申请用于提升测量工件是否合格的便利性。
测量装置设备

[实用新型]测量装置及测量系统-CN202123390400.2有效
发明人：王旭辉 -专利权人：昆明闻讯实业有限公司
申请日： 2021-12-29 - 公布日： 2022-05-31 - 主分类号： G01B21/02 文献下载
摘要：本公开涉及测量技术领域，尤其涉及一种测量装置及测量系统。本公开提供的测量装置包括框架、移动机构和压力感应板组件；所述压力感应板组件包括第一压力感应板、第二压力感应板和第三压力感应板；所述第一压力感应板与X向垂直，用于在所述移动机构驱动所述第一压力感应板与产品抵接时用于在所述移动机构驱动所述第二压力感应板与所述产品抵接时，获得所述产品Y向的长度；所述第三压力感应板与Z向垂直，用于在所述移动机构驱动所述第三压力感应板与所述产品抵接时，获得所述产品Z向的长度，测试简单，测量方便
测量装置系统

[实用新型]测量工装和测量装置-CN202221210565.9有效
发明人：马睿;禹林业;杨梁;窦文平;吴健;林康博 -专利权人：中国船舶集团有限公司第七一一研究所
申请日： 2022-05-12 - 公布日： 2022-11-04 - 主分类号： G01B5/02 文献下载
摘要：本实用新型提供一种通用性较高的测量工装和测量装置。测量装置包括量表和测量工装，在测量工装中：第一量具体包括分别位于两端的安装端和第一连接端以及沿第一方向延伸的通孔，安装端用于安装量表；第二量具体包括分别位于两端的第二连接端和测量端，第二连接端与第一连接端可拆卸地连接，测量端包括垂直于第一方向的测量端面和与通孔相通的内孔；量棒可移动地插入通孔，量棒的内端用于与量表的测杆相抵，量棒的外端伸出通孔并伸入内孔；压簧两端分别与通孔的第一台阶面和内端相抵；限位机构用于限制量棒的行程；其中，测量工装包括多个不同规格的量棒和第二量具体，根据待测部位的结构和规格选择其中一个量棒和其中一个第二量具体进行装配。
测量工装装置

[实用新型]测量装置和测量设备-CN202222466358.6有效
发明人：吴永波 -专利权人：苏州汇川控制技术有限公司
申请日： 2022-09-16 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G01B21/02 文献下载
摘要：本实用新型公开一种测量装置和测量设备。该测量装置包括机架、测量组件、定心件及加载机构，测量组件设于机架，其背向机架的一端设有放置台，用于放置待测工件，定心件置于待测工件背向放置台的一侧，并设有定心凸起，定心凸起的中心与待测工件的轴心重合，加载机构设于机架并与放置台相对本实用新型通过该测量装置解决目前角接触轴承凸出量测量中的精度较差的问题，以达到提高配对轴承预负荷精度，提高轴承使用精度和延长轴承使用寿命的目的。
测量装置设备

[实用新型]工程测量滚轮测量尺-CN202222398318.2有效
发明人：张瑜;陈检;胡加兵;张艳 -专利权人：广州嘉汇工程咨询有限公司
申请日： 2022-09-09 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： G01B5/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了工程测量滚轮测量尺，包括收纳杆和转动调节组件，所述收纳杆的内侧设置有卡合组件，且卡合组件包括卡合限位板和橡胶垫，所述卡合限位板的左端粘接有橡胶垫，所述转动调节组件设置于收纳杆的下端，所述转动杆的下端设置有防护框该工程测量滚轮测量尺，与现有的工程测量滚轮测量尺相比，通过转动杆对防护框及滚动轮的折叠，使其收纳在收纳杆的内侧，在得以减少存放空间的同时也减少了的重量，提高便携性，通过卡接组件和多个斜坡槽之间的卡合，可以根据设备使用人员的操作习惯进行伸缩
工程测量滚轮

[实用新型]测量组件和测量系统-CN202121904351.7有效
发明人：王志强 -专利权人：皓骏科技（北京）有限公司
申请日： 2021-08-13 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： H04R29/00 文献下载
摘要：公开了一种测量组件和测量系统，该测量系统包括该测量组件，该测量组件在隔音罐的顶盖上设置第一接口和第二接口，第一接口通过气密性航空插头密封，并通过该气密性航空插头连接隔音罐的腔室内的待测麦克风与外部的音频测试仪本实用新型提供的测量组件和测量系统提供的隔音腔室可简单有效地实现气密性，抽真空的效果好，真空维持时间长，为麦克风的噪声测试提供了便利。
测量组件系统

[外观设计]测量工具（辅助测量用）-CN202230133538.5有效
发明人：王泊橙;王婧 -专利权人：王泊橙
申请日： 2022-03-15 - 公布日： 2022-05-17 - 主分类号： 10-04 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：测量工具（辅助测量用）。2.本外观设计产品的用途：用于辅助测量楼梯踏板平面、楼梯立面、窗台搁板、衣柜，以及对不规则空间布局的测量取型。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。
测量工具辅助

[发明专利]测量装置及测量探针-CN201780088814.7在审
发明人：今堀良夫;竹吉艳子;宫崎秀树;加藤进辅;竹内德秀;樱木红莉 -专利权人：康适智能护理系统株式会社;富士设计科技有限公司
申请日： 2017-02-24 - 公布日： 2019-11-15 - 主分类号： G01T3/06 文献下载
摘要：本发明的测量装置(1)包括：至少包含会因放射线作用而停止发出荧光的荧光物质的感应部(3)；以及测量部(5)，该测量部(5)基于由包含在感应部3中的荧光物质发出的荧光强度由于放射线作用于荧光物质的至少一部分而衰减时的衰减量，对照射到感应部(3)的放射线的放射剂量进行测量。测量部(5)基于从放射线照射到感应部(3)之前的荧光强度减去放射线照射到感应部(3)之后的荧光强度而得到的值来对放射线剂量进行测量。
感应部荧光物质荧光测量放射线照射放射线作用放射线测量装置放射剂量衰减量减去衰减照射

[发明专利]测量设备、测量方法-CN201280061217.2有效
发明人：佐藤英雄 -专利权人：索尼公司
申请日： 2012-11-22 - 公布日： 2016-10-19 - 主分类号： A61B5/1455 文献下载
摘要：提供了测量设备、测量方法、程序和记录介质，其允许设备的进一步小型化。该测量设备配备有测量单元和分析单元。测量单元具有如下单元：光源单元，发射具有至少一种波长的测量光，以用于测量活体内部所包括的生物成分；检测单元，检测从所述活体的内部发射的所述测量光；以及偏振控制单元，控制所述测量光的偏振方向，并且提供在所述光源单元与所述活体之间和分析单元使用来自所述测量单元的测量结果以基于所述测量光的偏振状态的改变来计算旋光度，并且基于计算出的旋光度来分析上述生物成分的浓度。
测量设备测量方法

[发明专利]测量装置和测量系统-CN201480035910.1有效
发明人：稲垣智裕 -专利权人：京瓷株式会社
申请日： 2014-06-24 - 公布日： 2019-04-30 - 主分类号： H04R29/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于评价电子装置(100)的测量装置(10)，该电子装置(100)通过按压振动体抵接人耳从而通过振动传递使声音被听到，测量装置(10)包括：模拟人耳的耳模型(50)；以及振动拾音器(57a
测量装置系统

[发明专利]测量装置和测量系统-CN201080013811.5有效
发明人：岸川喜代成;藤耕平 -专利权人：株式会社吉奥技术研究所
申请日： 2010-03-19 - 公布日： 2012-02-29 - 主分类号： G01C22/00 文献下载
摘要：提供一种测量装置和一种测量系统，即便在车辆能驶入的狭窄道路和即便路面起伏不平的情况下，它们也能高精度地测量地点间距离等。测量机构(5)包括转动体(51)，转动体以转动中心相互对准的方式安置在用于支承轮胎(T)的车轮(W)和车轮轮毂(WH)之间，还包括固定到车身骨架(F)上的光学探测器(52)。
测量装置系统

[发明专利]干涉测量的测量装置-CN200680035993.X有效
发明人： S·弗朗兹;M·弗莱斯彻 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2006-09-15 - 公布日： 2008-10-01 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于具有第一干涉仪和第二干涉仪的干涉测量的测量装置的设备，其中通过辐射源向所述第一干涉仪输送短相干的辐射，所述辐射通过第一辐射分配器分为两个部分辐射，并且其中光程长度在一个部分辐射中长于在另一个部分辐射中此外，本发明涉及一种用于在这样的干涉测量的测量装置中对光程差进行补偿的方法，其中通过以机械方式相耦合的活动的光学元件同时并且以相同的数值改变在所述两个干涉仪中的部分辐射之间的光程差。
干涉测量装置

[发明专利]干涉测量式测量装置-CN03811950.1无效
发明人： D·马沙尔;M·－H·迪瓦辛;D·布雷德;P·德拉巴雷克 -专利权人：罗伯特－博希股份公司
申请日： 2003-03-28 - 公布日： 2005-08-17 - 主分类号： G01B9/00 文献下载
摘要：用于利用一个调制干涉仪(2)获得一个测量物体(8)表面的形状、粗糙度或距离的干涉测量式测量装置，由一个辐射源(1)将短相干的射线输送到所述调制干涉仪，并且该干涉仪具有一个用于将输送的射线分配成一个通过一个第一臂导引的第一分射线在其光相位或光频率上偏移，并移动一个延迟距离(2.9’)，并且紧接着将所述分射线在调制干涉仪(2)的另一射线分配器(2.10)上与一个同调制干涉仪(2)在空间上分开的且与该干涉仪通过一个光导纤维系统(6)已耦联或可耦联的测量探头(3)联合，在该探头中所述联合的分射线在一个公共臂中在一个部分透射的部位(3.3)中分成一个测量射线和一个基准射线，并在其中使在表面上反射的测量射线(r₁ (t))和在一个基准面上反射的基准射线一种用于即使在狭窄的空心空间中也能够可靠测量的有利结构的特征在于，所述部分透射的部位(3.3)通过一个探头纤维(3.1)的一个相对于光学探头轴线(3.5)以一个出射角(α)倾斜的出射面(3.31)和一个衔接在物体端的纤维段
干涉测量装置