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- [发明专利]混合检查系统-CN201780042408.7有效
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尾形洁;表和彦;伊藤义泰
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株式会社理学
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2017-07-14
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2022-09-27
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G01N23/2251
- 该混合检查系统是包括第一检查设备(1)和第二检查设备(2)的检查系统,其中第一检查设备(1)基于通过用X射线照射样本(11)获得的X射线测量数据来检查样本(11),并且第二检查设备(2)通过使用不采用X射线的测量技术来检查样本(11)。由第一检查设备(1)获得的X射线测量数据或X射线测量数据的分析结果被输出到第二检查设备(2)。此外,第二检查设备(2)利用从第一检查设备(1)输入的X射线测量数据或X射线测量数据的分析结果来分析样本(11)的结构。
- 混合检查系统
- [发明专利]地层中低渗透率储层的视渗透率解释方法及系统-CN201410558826.X有效
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卢德唐;刘聪;李道伦
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中国科学技术大学
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2014-10-20
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2014-12-24
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G01N15/08
- 本发明公开地层中低渗透率储层的视渗透率解释方法及系统,首先确定测试样本的渗透率测量值随气体压力变化的曲线,之后确定测试样本在不同压力下的克努森数,将测试样本的渗透率测量值随气体压力变化的曲线转换为测试样本的渗透率测量值随克努森数变化的曲线,通过对测试样本的渗透率测量值随克努森数变化的曲线进行最小二乘法数据拟合,确定测试样本的固有渗透率、测试样本的壁面影响参数,以及测试样本的滑移距离和分子平均自由程的比值,在确定地层中低渗透率储层的视渗透率时,利用测试样本的壁面影响参数,以及测试样本的滑移距离和分子平均自由程的比值对壁面滑移效应进行修正,从而更准确的解释地层中低渗透率储层的视渗透率。
- 地层渗透率储层解释方法系统
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