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- [发明专利]用于多个样品的辐射度测量的设备和方法-CN200880110577.0无效
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赖内·特雷普托;盖德·乔基姆·埃克特;安德烈亚斯·施依;赖内·施利塞尔;诺伯特·威特施夫
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艾本德股份有限公司
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2008-08-29
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2010-09-01
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G01N21/64
- 本发明涉及一种用于以辐射测量方式检测多个样品的装置，该装置具有：辐射设备，其提供多个辐射元件，一辐射元件至少包括一个发射器元件，其中辐射设备优选提供至少两个发射器元件，提供具有不同辐射光谱的辐射，其中在至少部分重叠的时间段内，所述发射器元件中的至少两个适于发出辐射，以及控制设备，其控制所述辐射元件，样品架构件，其提供支撑多个样品的多个样品位置，其中在检测进程中，至少部分所述辐射设备和所述样品架构件适于相对彼此移动，并且其中至少一个辐射元件适于通过第一光路以辐射照射样品，这使该样品通过第二光路向至少一个检测设备以至少一个样品辐射频率发出样品辐射，所述至少一个检测设备，适于在至少部分重叠的时间段内，检测至少两个样品的样品辐射作为和信号；以及估算设备，其适于由所述和信号估算至少一个单个样品的样品辐射本发明还涉及一种用于以光度测量方式检测至少一个样品的样品辐射的方法，该样品辐射是由至少一个辐射元件的N个发射元件的辐射引起的，其中在至少部分重叠的时间段内，所述N个发射器元件发出辐射，以在至少部分重叠的时间段内检测至少两个样品的样品辐射作为和信号，并且由所述和信号估算至少一个单个样品的样品辐射。
- 用于样品辐射测量设备方法
- [发明专利]一种用于分析样品的设备和方法-CN201410514959.7有效
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C.莫沃兹
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安东帕有限公司
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2014-09-29
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2019-02-22
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G01N21/01
- 一种用于分析样品的设备(20)，包括：电磁辐射源(1)，构造为产生入射电磁辐射束(2)；样品容器(5)，构造为容纳要分析的样品，成形该样品容器(5)，以具有对称轴(25)，布置该样品容器(5)，以接收入射电磁辐射束(2)，从而传播到样品容器(5)中，与样品相互作用，并且布置该样品容器(5)，以使要检测的散射电磁辐射束(6)传播到样品容器(5)的外部；以及电磁辐射检测器(12)，构造为以检测从样品容器(5)收到的要检测的散射电磁辐射束(6)，其中相对于入射电磁辐射束(2)的方向确定样品容器(5)的方位，使得入射电磁辐射束(2)刚好在传播到样品容器(5)中之前到对称轴(25)的入射轨迹相对于要检测的散射电磁辐射束(6)从对称轴(25)到散射电磁辐射束(6)刚好离开样品容器(5)后的位置的散射轨迹对称，使得样品容器(5)外的散射轨迹与样品容器(5)的和样品的折射率无关。
- 对称入射散射几何形状调节样品方位从而补偿折射率相关失真
- [实用新型]样品辐射探测装置-CN202220660512.0有效
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胡煜;方凤利;齐飞;孙瑞昌;陈哲;杨博锋;宋铎
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津海威视技术（天津）有限公司
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2022-03-22
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2023-01-13
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G01T1/36
- 本发明涉及一种样品辐射探测装置，样品辐射探测装置包括：辐射探测部件(1)，包括用于将辐射的射线的粒子能转变为光能的碘化钠晶体(11)和用于将光能转变为电信号的硅光电倍增管(12)；样品承载部件(2)，设在辐射探测部件(1)的下方，样品承载部件(2)被配置成以竖直的转动轴线转动，样品承载部件(2)包括沿转动轴线的周向布置的多个样品安置部(21)，多个样品安置部(21)被配置成随样品承载部件(2)转动至辐射探测部件(1)的检测位置，辐射探测部件(1)采用硅光电倍增管(12)和碘化钠晶体(11)相结合有效地增大了探测精度，可以实现对微量样品进行辐射检测。
- 样品辐射探测装置
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