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[发明专利]LED显示屏亮色度校正方法以及LED箱体亮色度校正方法-CN201410292607.1有效
发明人：杨城 -专利权人：西安诺瓦电子科技有限公司
申请日： 2014-06-25 - 公布日： 2014-09-24 - 主分类号： G09G3/32 文献下载
摘要：本发明提出一种LED显示屏亮色度校正方法，包括步骤；读取LED显示屏中的多个待校正LED箱体中存储的硬件标识信息；利用读取的多个待校正LED箱体的硬件标识信息从校正系数数据库查找出所述多个待校正LED箱体的校正系数，其中校正系数数据库包括多个LED箱体的校正系数以及与校正系数相对应的多个LED箱体的硬件标识信息；以及将查找出的多个待校正LED箱体的校正系数上传至所述多个待校正LED箱体分别进行存储。此外，本发明还提出一种LED箱体亮色度校正方法。本发明中的校正系数可以实现自动化上传，无需工作人员过多干预，操作便捷，可以大大地提高校正系数上传效率。
led 显示屏亮色校正方法以及箱体

[发明专利]路线搜索设备和方法，信息提供设备和方法，及路线搜索系统-CN201080047258.7有效
发明人：小段友纪;清水泰博;宇佐见一郎;小酒井洋行 -专利权人：丰田自动车株式会社;株式会社电装;爱信艾达株式会社
申请日： 2010-10-20 - 公布日： 2012-07-11 - 主分类号： G01C21/32 文献下载
摘要：一种安装在移动单元上的路线搜索设备，包括：数据库(106)，其保存地图信息(1062)和设施信息(1064)，参考位置信息获取单元(104)，其从路线搜索设备外部获得参考位置信息，参考位置信息是给定点的位置信息，位置信息获取单元，其从路线搜索设备外部，获得期望设施的位置信息；对应位置信息获取单元(104)，其从数据库(106)获得对应位置信息，对应位置信息是与所述给定地点对应的地点的位置信息，位置校正系数计算单元(1042)，其根据参考位置信息和对应位置信息，计算位置校正系数，位置校正系数存储单元(108)，其保存位置校正系数，位置信息校正单元(110)，其利用位置校正系数，校正期望设施的位置信息，和路线搜索单元(110)，其根据期望设施的校正位置信息，搜索到达期望设施的路线。
路线搜索设备方法信息提供系统

[发明专利]校正系数的处理方法、装置、系统、电子装置和存储介质-CN202111018026.5在审
发明人：陈世达;张宏;李永配 -专利权人：浙江大华技术股份有限公司
申请日： 2021-08-30 - 公布日： 2021-12-03 - 主分类号： G06F3/14 文献下载
摘要：本申请涉及一种校正系数的处理方法、装置、系统、电子装置和存储介质，其中，该处理方法包括：获取LED显示屏中每个像素点对应的第一校正系数，对所述第一校正系数进行定点化处理得到第二校正系数；获取所述第二校正系数的高位信息，根据所述高位信息确定所述第二校正系数的压缩位数和共享基数，并基于所述压缩位数对所述第二校正系数进行压缩处理，得到目标校正系数；通过发送卡将所述目标校正系数和所述共享基数发送至接收卡。通过本申请，解决了校正系数的处理过程中存在资源浪费且效率低的问题。
校正系数处理方法装置系统电子存储介质

[发明专利]一种LED显示屏逐点校正方法-CN201510260709.X有效
发明人：赵星梅;郑瑞涛 -专利权人：西安诺瓦电子科技有限公司
申请日： 2015-05-20 - 公布日： 2017-09-05 - 主分类号： G09G3/32 文献下载
摘要：本发明涉及一种LED显示屏逐点校正方法，包括步骤获取多个LED像素点的已保存逐点校正系数和已保存校正目标值；利用已保存逐点校正系数和已保存校正目标值反算出所述多个LED像素点的初始亮度信息或亮色度信息；设定不同于已保存校正目标值的新校正目标值；以及利用所述多个LED像素点的所述初始亮度信息或亮色度信息和新校正目标值计算出所述多个LED像素点的新逐点校正系数。因此，本发明的LED显示屏逐点校正方法可以根据已有的校正系数和校正目标值在更改校正目标值后重新计算出新的校正系数，不需要校正人员架设校正设备重新校正，也无需保存过多的原始数据，节省时间、成本低、操作简单
一种 led 显示屏校正方法

[发明专利]图像处理的系统、方法和装置-CN202080099355.4在审
发明人：从洪春;杨城 -专利权人：西安诺瓦星云科技股份有限公司
申请日： 2020-03-31 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G09G3/32 文献下载
摘要：其中，该方法包括：获取LED显示屏的非线性亮度变化信息，并根据非线性亮度变化信息计算LED显示屏的线性度亮度校正系数；获取LED显示屏的亮色度非均匀信息，并根据亮色度非均匀信息计算LED显示屏的亮色度均匀性校正系数；依据线性度亮度校正系数和亮色度均匀性校正系数对输入的待处理图像进行校正。本发明解决了LED显示屏存在的均匀性校正存在的校正效果差的技术问题。
图像处理系统方法装置

[发明专利]断背斜型圈闭体积校正系数确定方法、装置、设备及介质-CN202310256816.X在审
发明人：陈彬滔;马峰;杨丽;马轮;史忠生;薛罗;雷明;郑茜;谢明贤;徐飞 -专利权人：中国石油天然气股份有限公司
申请日： 2023-03-08 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01V9/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种断背斜型圈闭体积校正系数确定方法、装置、设备及介质。其中，该方法包括：确定待测断背斜型圈闭在标准横截面上的目标参数信息；所述标准横截面用于代表所述待测断背斜型圈闭的底面所在平面；根据所述目标参数信息确定所述待测断背斜型圈闭的参考校正系数；所述参考校正系数是指幅度校正系数、断层校正系数和储层校正系数；根据所述参考校正系数确定所述待测断背斜型圈闭的体积校正系数。本技术方案，能够基于断背斜型圈闭的标准横截面，快速、准确地求取逼近地下真实情况的断背斜型圈闭的体积校正系数，有助于提高断背斜型圈闭的资源量预测速度和预测精度。
背斜圈闭体积校正系数确定方法装置设备介质

[发明专利]基于视频接口上传LED显示屏校正系数的方法-CN201210375843.0有效
发明人：陆威;梁伟;赵星梅 -专利权人：西安诺瓦电子科技有限公司
申请日： 2012-09-29 - 公布日： 2014-04-09 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于视频接口上传LED显示屏校正系数的方法，提高了上传校正系数的便捷性，缩短了校正时间；该方法，包括：（1）获得LED显示屏每个像素的校正系数；（2）每个校正系数通过协议及设定的数据格式转换分成N个校正信息；上位机根据所有像素的第M个校正信息生成一幅与LED显示屏上各个像素一一对应映射的校正画面，所述M依次取1,2,3，…N；（3）上位机软件通知硬件设备从视频接口依次采集第M幅校正画面，将第M幅校正画面解析成校正系数存储；直至完成最后一幅校正画面的采集、解析存储，即上传校正系数的过程完成。
基于视频接口上传 led 显示屏校正系数方法

[发明专利]LED显示屏的LED像素校正系数上传方法-CN201310347261.6有效
发明人：陆威;梁伟;赵星梅 -专利权人：西安诺瓦电子科技有限公司
申请日： 2013-08-09 - 公布日： 2013-11-20 - 主分类号： G09G3/32 文献下载
摘要：本发明涉及一种LED显示屏的LED像素校正系数上传方法，包括步骤：将LED显示屏的多个LED像素的校正系数转换成多幅校正图像数据，其中每个LED像素的校正系数包括多个校正信息，且每幅校正图像数据包含所述多个LED像素中的部分或者全部LED像素的校正系数中的一个或多个校正信息；以及向与所述LED显示屏电连接的LED显示屏控制系统的视频接口传送所述多幅校正图像数据，以由所述LED显示屏控制系统从所述多幅校正图像数据中解析出所述LED显示屏的所述多个LED像素的校正系数进行存储。本发明通过将校正系数转换成校正图像数据，再通过视频接口来上传，提高了校正系数的上传速度。
led 显示屏像素校正系数上传方法

[发明专利]搜索装置、搜索系统、搜索方法以及终端-CN201180068231.0有效
发明人：藤井馨一郎;安士光男;福田达也;大泽进 -专利权人：日本先锋公司
申请日： 2011-02-24 - 公布日： 2016-11-09 - 主分类号： G01C21/00 文献下载
摘要：接收部（101）从服务器（110）接收服务器（110）根据在其它移动体中设定的设定系数的变化量而计算出的与系数校正量有关的信息。取得部（102）取得实测能量消耗量。校正部（103）根据与系数校正量有关的信息来校正设定系数。计算部（104）根据校正后的设定系数来计算估计能量消耗量。此外，计算部（104）根据实测能量消耗量来计算设定系数的变化量。存储部（105）存储与系数校正量有关的信息。搜索部（106）根据计算出的估计能量消耗量来搜索移动体的路径。发送部（107）将计算出的设定系数的变化量发送到服务器（110）。
搜索装置系统方法以及终端

[发明专利]热式流量传感器装置以及流量校正方法-CN201910178942.1有效
发明人：中野正志;田中雅人 -专利权人：阿自倍尔株式会社
申请日： 2019-03-11 - 公布日： 2021-10-29 - 主分类号： G01F1/696 文献下载
摘要：本发明的热式流量传感器装置及流量校正方法降低校正系数设定的功夫及校正系数的偏差。热式流量传感器装置具备：阀开度‑流量特性信息存储部，存储与阀开度与流量的关系有关的信息；阀开度指示部，在计算、设定校正系数时，将指定预先规定的至少2点阀开度的开度指示信号发送到控制阀的控制装置；输出信号取得部，取得热式流量传感器的流量输出值；校正系数计算部，计算由输出信号取得部取得的2点的流量输出值的倍率，取得从阀开度‑流量特性信息存储部的信息得到的、与2点阀开度对应的2点流量的倍率，将2点流量的倍率与2点流量输出值的倍率之比作为校正系数而算出；以及流量校正部，在热式流量传感器的流量输出值上乘以校正系数而校正流量。
流量传感器装置以及流量校正方法

[发明专利]一种多通道测温校正方法、系统、存储介质及电子设备-CN202210778709.9在审
发明人：刘文军;江纬;叶立平;唐善斌;唐可信 -专利权人：湖南艾酷生科技有限公司
申请日： 2022-07-04 - 公布日： 2022-09-27 - 主分类号： G01K15/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种多通道测温校正方法、系统、存储介质及电子设备,该方法包括：采集第一时间的多个第一温度信息；开启一温度通道，根据一温度信息计算所述温度通道的校正系数；关闭当前温度通道并切换下一温度通道，直至计算出所有温度通道的校正系数，其中，一所述校正系数对应一所述第一温度信息；采集第二时间的多个第二温度信息；利用所述校正系数逐一对所述第二温度信息进行校正，以得到各温度通道最终的温度。本申请具有的技术效果是：降低了多通道测温及校正系统的生产成本。
一种通道测温校正方法系统存储介质电子设备

[发明专利]一种显示方法、驱动芯片、显示控制器及显示控制系统-CN202111680023.8在审
发明人：何国经;田征;王伙荣 -专利权人：西安钛铂锶电子科技有限公司
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： G09G3/30 文献下载
摘要：其中，该方法包括：获取电流校正系数，其中，电流校正系数基于显示屏显示目标图像的实际发光信息与目标发光信息得到；根据电流校正系数对流经显示屏的发光器件的电流进行校正，以使得显示屏的发光器件的发光信息由实际发光信息调整为目标发光信息本发明解决了无法对显示屏的亮度进行有效校正的技术问题。
一种显示方法驱动芯片控制器控制系统

[发明专利]断块型圈闭体积校正系数确定方法、装置、设备及介质-CN202310218355.7在审
发明人：陈彬滔;马峰;马轮;薛罗;王磊;郑茜;苏玉平;张斌;谢明贤;徐飞 -专利权人：中国石油天然气股份有限公司
申请日： 2023-03-08 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： E21B47/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种断块型圈闭体积校正系数确定方法、装置、设备及介质。其中，该方法包括：确定待测断块型圈闭在标准横截面上的目标参数信息；所述标准横截面用于代表所述待测断块型圈闭的底面所在平面；根据所述目标参数信息确定所述待测断块型圈闭的参考校正系数；所述参考校正系数是指断层校正系数和储层校正系数；根据所述参考校正系数确定所述待测断块型圈闭的体积校正系数。本技术方案，能够基于断块型圈闭的标准横截面，快速准确求取逼近地下真实情况的断块型圈闭的体积校正系数，有助于提高断块型圈闭的资源量预测速度和预测精度。
断块型圈闭体积校正系数确定方法装置设备介质

[发明专利]背斜型圈闭体积校正系数确定方法、装置、设备及介质-CN202310257129.X在审
发明人：陈彬滔;马峰;刘雄志;史忠生;洪亮;薛罗;马轮;王磊;苏玉平 -专利权人：中国石油天然气股份有限公司
申请日： 2023-03-08 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： E21B49/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种背斜型圈闭体积校正系数确定方法、装置、设备及介质。其中，该方法包括：确定待测背斜型圈闭在标准横截面上的目标参数信息；所述标准横截面用于代表所述待测背斜型圈闭的底面所在平面；根据所述目标参数信息确定所述待测背斜型圈闭的参考校正系数；所述参考校正系数是指幅度校正系数和储层校正系数；根据所述参考校正系数确定所述待测背斜型圈闭的体积校正系数。本技术方案，能够基于背斜型圈闭的标准横截面，快速准确求取逼近地下真实情况的背斜型圈闭的体积校正系数，有助于提高背斜型圈闭的资源量预测速度和预测精度。
背斜圈闭体积校正系数确定方法装置设备介质

[发明专利]构造圈闭体积校正系数确定方法、装置、设备及介质-CN202310257136.X在审
发明人：陈彬滔;马峰;杨丽莎;薛罗;马轮;洪亮;刘雄志;王磊;雷明;张斌;谢明贤;徐飞 -专利权人：中国石油天然气股份有限公司
申请日： 2023-03-08 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： G01V9/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种构造圈闭体积校正系数确定方法、装置、设备及介质。该方法包括：确定待测构造圈闭的圈闭类型，根据圈闭类型确定待测构造圈闭的标准横截面；圈闭类型包括背斜型、断背斜型和断块型，标准横截面用于代表待测构造圈闭的底面所在平面；确定待测构造圈闭在标准横截面上的目标参数信息，根据目标参数信息确定待测构造圈闭的参考校正系数；参考校正系数包括幅度校正系数、断层校正系数和储层校正系数中的至少两种；根据参考校正系数确定待测构造圈闭的体积校正系数。本技术方案，能够基于构造圈闭的标准横截面快速准确求取逼近地下真实情况的构造圈闭的体积校正系数，有助于提高构造圈闭的资源量预测速度和预测精度。
构造圈闭体积校正系数确定方法装置设备介质

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