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[发明专利]一种基于长短期记忆网络的日冕指数预报方法-CN202310746850.5在审
发明人：邓林华;向南彬;徐永华;向永源;蔡云芳 -专利权人：中国科学院云南天文台
申请日： 2023-06-25 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： G01W1/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于长短期记忆网络的日冕指数预报方法，预报方法包括以下步骤：S1、开启日冕指数预报系统，通过系统观测设备对日冕进行观测，根据观测设备实时采集获取图像数据；S2、预设日冕指数预报范围，获取采集图像，通过记忆模型进行对比并判断是否有日冕事件发生，并根据日冕指数预报范围进行分类预报，若有日冕物质抛射事件发生则执行S3；若无日冕物质抛射事件发生，则执行S5；所述记忆模型通过长短期记忆网络进行随时更新；本发明采用基于长短期记忆网络预测模型智能化对日冕指数观测方法能够自动判别日冕图像指数，且自动调节采集参数，获取的数据速度快，提高了准确率。
一种基于短期记忆网络日冕指数预报方法

[发明专利]智能化日冕物质抛射事件观测方法-CN201310391553.X有效
发明人：林佳本;郭娟;邓元勇;朱晓明;曾真 -专利权人：中国科学院国家天文台
申请日： 2013-09-02 - 公布日： 2014-01-01 - 主分类号： G01W1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种智能化日冕物质抛射事件观测方法，包括开启日冕物质抛射观测系统，根据观测系统的参数实时采集获取图像数据，并存于内存中；获取差分图像，并判断是否有日冕物质抛射事件发生，若有日冕物质抛射事件发生则报警并调整观测参数及图像的观测模式；再次判断是否有晕状日冕物质抛射事件发生，若有晕状日冕物质抛射事件发生则再次报警；并将采集图像数据存入硬盘中。应用本发明智能化日冕物质抛射事件观测方法能够自动判别日冕物质抛射事件和晕状日冕物质抛射事件的发生，并能够自动调节采集参数，获取的数据速度快，提高了准确率。
智能化日冕物质抛射事件观测方法

[发明专利]球面反射式日冕仪-CN201410300836.3无效
发明人：陈波;李达;刘鹏 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2014-06-26 - 公布日： 2014-09-17 - 主分类号： G02B17/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种球面反射式日冕仪，属于日冕仪技术领域。解决了现有技术中日冕仪结构复杂、存在渐晕和色差的技术问题。该日冕仪包括主物镜、次镜、成像镜、平面镜、第一光阑、第二光阑和CCD探测器，太阳光球层光线和日冕区域光线经第一光阑后，入射至主物镜，并经主物镜反射至次镜，太阳光球层光线被次镜的开孔遮挡，日冕区域光线依次经次镜该日冕仪没有色差的影响，可进行多波段工作，有效抑制了反射日冕仪的杂散光，结构简单，减少了日冕仪的几何尺寸。
球面反射日冕

[发明专利]一种天基全反射式远紫外与可见光双波段日冕成像系统-CN201910462213.9有效
发明人：陈波;王蕴琦;张广;朱锋;王孝东;郭权锋;何玲平;张宏吉 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2019-05-30 - 公布日： 2020-11-03 - 主分类号： G02B17/06 文献下载
摘要：本发明提供的天基全反射式远紫外与可见光双波段日冕成像系统，一种天基全反射式远紫外与可见光双波段日冕成像系统，其特征在于，包括：入瞳、离轴抛物面反射镜、环形凸球面反射镜、离轴椭球面反射镜、里奥光阑、远紫外/可见光波段平面分光镜、可见光平面反射镜、第一探测器和第二探测器及光陷阱，本发明提供的日冕成像系统，以天基观测方式，采用全反射离轴、长焦距光学结构，实现了对太阳内日冕在远紫外和可见光双波段的高分辨率、大动态范围成像，填补国内在天基日冕仪领域以及国外在远紫外波段内日冕成像仪的空白，提升日冕仪分辨率及动态范围，推动日冕仪设备研制相关技术的发展。
一种全反射紫外可见光波段日冕成像系统

[发明专利]日冕仪杂散光测试装置及测试方法-CN202110467765.6有效
发明人：刘维新;夏利东;左修辉;孙明哲;唐宁 -专利权人：山东大学
申请日： 2021-04-28 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提出一种日冕仪杂散光测试装置和测试方法。测试装置包括：激光器、第一光纤耦合器、保偏光纤、光纤环形器、扩束镜、第二光纤耦合器、分光镜及示波器等装置。通过上述光学部件构建入射光路和回馈光路。基于入射光路和回馈光路的光强度、幅值等信息，可完成日冕仪杂散光的检测。具体方法包括日冕仪杂散光测试方法及外掩体衍射光测试方法；进行日冕仪总杂杂散光测试时，将第二光纤耦合器设置在日冕仪探测器位置；进行外掩体边缘衍射光测试时，将第二光纤耦合器设置在日冕仪内掩体位置；根据示波器的测量结果判定日冕仪杂散光水平该装置和方法可以实现对外掩式日冕仪不同来源的微弱杂散光信号的高灵敏检测。
日冕散光测试装置方法

[发明专利]一种基于卡尔曼滤波的日冕物质抛射识别方法-CN201610355150.3在审
发明人：杨云飞;李强;季凯帆;冯松;王锋;邓辉 -专利权人：昆明理工大学
申请日： 2016-05-25 - 公布日： 2016-10-26 - 主分类号： G06K9/54 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于卡尔曼滤波的日冕物质抛射识别方法，属于天文技术和图像处理技术领域。本发明首先对日冕序列图像进行预处理：对齐、滤波降噪、转换到极坐标；接着，利用卡尔曼滤波的对预处理后的图像进行背景更新，再进行二值化运算得到二值化序列图像；再通过二值化图像进行日冕序列图像物质抛射的识别和筛选本发明很大程度上改善了传统日冕物质抛射识别方法的整体性能,提高了对日冕物质抛射提取的效率。同时，还能检测出运动速度缓慢和强度较弱的日冕物质抛射。
一种基于卡尔滤波日冕物质抛射识别方法

[发明专利]一种高灵敏度日冕仪杂光检测装置-CN201911377982.5有效
发明人：陈波;张广;何玲平;王蕴琦;郭权锋;张宏吉;宋克非;韩振伟;彭家浩 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2019-12-27 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种高灵敏度日冕仪杂光检测装置，涉及天文目标观测和检测领域，该装置包括：低亮度太阳模拟装置、带通滤光片和单光子计数成像探测器；所述的带通滤光片设置在待测日冕仪和单光子计数探测器中间，所述单光子计数探测器设置在待测日冕仪的焦面上；所述的低亮度太阳模拟装置发出32′全视场的模拟太阳光进入待测日冕仪，带通滤光片对待测波段进行波长选择，单光子计数成像探测器检测待测日冕仪的杂光亮度和太阳日面亮度。本发明通过分别测量太阳日面辐射和日冕仪杂光辐射，即可实现对日冕仪杂光抑制能力的检测，克服了在低海拔地区由于大气散射的影响导致无法利用太阳辐射直接进行日冕仪杂光抑制能力检测的困难。
一种灵敏度日冕仪杂光检测装置

[发明专利]内掩式日冕仪杂散光测量系统及测量方法-CN202211231647.6有效
发明人：刘大洋;孙明哲;夏利东;于晓雨;唐宁;刘维新;韩建平 -专利权人：山东大学
申请日： 2022-10-08 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种内掩式日冕仪杂散光测量系统及测量方法，其中内掩式日冕仪杂散光测量系统，设置于天文站台中，所述测量系统包括待测内掩式日冕仪、探测器及数据处理模组，所述内掩式日冕仪包括：沿入射光路依次设置的物镜光阑、物镜组件、消杂光光阑组件、内掩体、场镜组件、中继镜组件、Lyot光阑组件、第一成像镜组件、分光镜组件，所述分光镜组件用于将光束分裂为一主光路及一副光路，所述主光路用于将日冕图像聚焦至所述探测器，所述副光路用于经一第二成像镜组件将所述物镜组件的共轭像聚焦至一副光路探测器本申请实现在日冕仪正常运行时实时测量日冕仪的杂散光水平，解决日冕仪实际工作时杂散光水平无法定量的问题，提高科学数据获取数量。
内掩式日冕散光测量系统测量方法

[发明专利]日冕仪杂散光检测装置及检测方法-CN202310070190.3有效
发明人：孙明哲;刘大洋 -专利权人：山东大学
申请日： 2023-02-07 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明属于空间光学观测领域，尤其涉及一种日冕仪杂散光检测装置及检测方法，该日冕仪杂散光检测装置包括：模拟光源、外掩式日冕仪、探测器，外掩式日冕仪内沿光路方向依次安装有外窗口组件、外掩体组件、多个消杂光挡板本检测装置能获得日冕仪仪器本身的杂散光水平，还原天基外掩式日冕仪在太空条件下的杂散光水平，还能在一定程度上获得检测环境杂散光的相对量级，评估日冕仪杂散光检测环境的优劣。
日冕散光检测装置方法

[发明专利]一种基于低秩恢复模型的日冕物质抛射检测方法-CN202010939959.7在审
发明人：尚振宏;杨志鹏;辛泽寰;冼祥贵;耿成杰 -专利权人：昆明理工大学
申请日： 2020-09-09 - 公布日： 2020-12-18 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于低秩恢复模型的日冕物质抛射检测方法，包括以下步骤：步骤1，对从SOHO主页上下载的LASCO C2图像进行图像预处理，对日冕图像进行去噪声、筛选处理；步骤2，将经过步骤1得到的LASCOC2图像经过进行图像灰度化、图像旋转和翻转操作；步骤3，将经过步骤2处理后的日冕图像转换到极坐标下进行表示；步骤4，利用基于低秩恢复模型的方法提取日冕图像中的运动目标；步骤5：微调低秩恢复模型参数，将日冕物质抛射与冕旒区分开来，利用图像三帧差分进行运动目标提取，最终得到日冕物质抛射。
一种基于恢复模型日冕物质抛射检测方法

[发明专利]日冕观测的轨道设计方法-CN202011386020.9在审
发明人：王亚敏;张永合;陈昕;邱成波;王彬;朱洪斌 -专利权人：中国科学院微小卫星创新研究院;上海微小卫星工程中心
申请日： 2020-12-02 - 公布日： 2021-03-12 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种日冕观测的轨道设计方法，包括：通过日‑地L2点附近的太阳光照条件函数计算得到观测轨道，所述观测轨道位于日‑地连线上的特定位置；携带日冕观测仪的卫星发射至所述观测轨道，使地球位于太阳和卫星之间，利用地球遮挡全部或部分太阳光，在日冕观测仪的成像面上形成日全食观测图像或日偏食观测图像，进行日冕观测。
日冕观测轨道设计方法

[发明专利]日冕物质抛射事件识别方法-CN201410443408.6在审
发明人：张玲;尹建芹;冯志全;蔺永政;边俊霞;潘玉奇 -专利权人：济南大学
申请日： 2014-10-30 - 公布日： 2015-01-28 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种日冕物质抛射事件识别方法，先对具有CME现象和无CME现象的日冕观测图像进行切割，对切割块进行灰度信息特征的统计，找出有CME现象和无CME现象的日冕观测图像的差别。利用不同的切割尺寸进行切割，对比多种切割方式下有CME现象的日冕观测图像和无CME现象的日冕观测图像的灰度统计特征，选择较优的若干种切割方式。用强分类器对日冕观测图集中的图像进行随机抽样检测是否发生CME，检测其正确率。利用Adaboost技术来组合多个分类器来解决CME的检测会取得较好的效果，达到了较高的检测正确率。
日冕物质抛射事件识别方法

[发明专利]基于Faster R-CNN的日冕物质抛射检测方法-CN202010939534.6有效
发明人：尚振宏;辛泽寰;杨志鹏 -专利权人：昆明理工大学
申请日： 2020-09-09 - 公布日： 2022-05-17 - 主分类号： G06V10/764 文献下载
摘要：本发明公开了基于Faster R‑CNN的日冕物质抛射检测方法。该方法首先对截取的图像进行预处理，对齐、中值滤波降噪、极坐标转换、数据增强；接着构建Faster R‑CNN目标检测网络，设计多通道区域建议神经网络，采用2个RPN，分别用于强日冕物质抛射和弱日冕物质抛射目标候选框生成最后进行日冕序列图像物质抛射的识别。本发明很大程度上改善了传统日冕物质抛射识别方法的整体性能，提高不同尺度CME的检测精度。
基于 faster cnn 日冕物质抛射检测方法

[发明专利]用于日冕观测实验的高效太阳模拟装置-CN201210575012.8有效
发明人：孙明哲;张红鑫;卢振武;卜和阳 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2012-12-26 - 公布日： 2013-04-03 - 主分类号： G02B27/09 文献下载
摘要：用于日冕观测实验的高效太阳模拟装置，属于日冕观测领域，为提供一种仿真度高、成本低廉且更高效的太阳模拟装置，该装置包括光球层照明系统、光球层成像系统、日冕照明系统、准直系统和遮光系统，光球层照明系统、光球层成像系统和日冕照明系统置于遮光系统的内部，准直系统的入射端置于遮光系统的内部，且与日冕照明系统对接；光球层成像系统包括毛玻璃、第一金属板、第一透镜、第二透镜、衰减片、第二金属板；光球层照明系统发出的光经毛玻璃被匀化，匀化光经过第一金属板的开口部分入射到第一透镜，匀化光透过第一透镜后出射平行光，平行光入射到第二透镜后会聚到到衰减片上，光透过衰减片后经日冕照明系统进入准直系统，输出模拟太阳光。
用于日冕观测实验高效太阳模拟装置

[发明专利]基于改进的混合高斯模型日冕物质抛射检测方法-CN201910622450.7在审
发明人：尚振宏;郭敏;黎敬涛 -专利权人：昆明理工大学
申请日： 2019-06-27 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明设计了一种基于改进的混合高斯模型日冕物质抛射(Coronal Mass Fjection，CME)的检测方法，由于日冕物质抛射是一种运动的过程，我们可以人为CME的检测是一种复杂背景上(太阳冕流)采用SOHO卫星上的大视角分光日冕仪(LASCO)观测的日冕序列图像作为研究对象，主要步骤包括：对日冕序列图像的预处理、改进的混合高斯模型、CME的检测。首先，对由LASCO C2得到的日冕图像进行预处理，包括降噪，将图像转换到极坐标系等；接着，利用混合高斯背景模型和四帧差分法分别得到初步的运动前景目标；最后，利用形态学方法对得到的前景目标进行再处理，得到最终的
基于改进混合模型日冕物质抛射检测方法

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