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[发明专利]拉曼散射光的测量方法及拉曼散射光测量样本用的容器-CN201310051962.5无效
发明人：堂胁优;中川和博;松居惠理子 -专利权人：索尼公司
申请日： 2013-02-17 - 公布日： 2013-09-11 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：本发明提供了拉曼散射光的测量方法及拉曼散射光测量样本用的容器，该测量拉曼散射光的方法能够以高灵敏度检测从样本获得的拉曼散射光。该测量拉曼散射光的方法包括向位于片状部件上的样本照射激发光，所述片状部件设置在容纳部内并由与所述容纳部不同的材料制成，由此检测拉曼散射光。
散射测量方法测量样本容器

[发明专利]用于散射光测量仪的测试装置，用于散射光测量仪的测试装置的制造方法和用于检验散射光测量仪的方法-CN201480021618.4有效
发明人： K.施滕格尔;G.哈加;M.诺伊恩多夫;R.霍斯;D.施特拉克 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2014-02-26 - 公布日： 2017-12-12 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于散射光测量仪的测试装置(10)，散射光测量仪具有透光体(20)，该基体可以布置在散射光测量仪的测量室(16)中和包括多个散射中心(22)，借此从散射光测量仪的光源(12)射出的光(14)可以散射，其中，散射中心(22)位于透光体(20)的一个散射体段(24)中，该散射体段布置在透光体(20)的上游的区域(26)和透光体(20)的下游的区域(28)之间，和其中，该上游的区域(26)和下游的区域(28)分别没有散射中心(22)。本发明也涉及一种用于散射光测量仪的测试装置的制造方法。此外本发明涉及一种用于检验散射光测量仪的方法。
用于散射测量仪测试装置制造方法检验

[发明专利]用于确定散射光测量设备的测量结果质量的方法和装置-CN201180011085.8有效
发明人： K.施坦格尔;G.哈加;M.诺伊恩多夫;R.西格 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2011-01-03 - 公布日： 2012-10-31 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：用于确定散射光测量设备（3）的测量结果质量的一种方法，其中该散射光测量设备具有至少一个散射光测量室（26）、至少一个光源（4）和至少一个光传感器（6a,6b），其中该方法包含以下的步骤：确定在该散射光测量设备的参考状态中所记录的两个散射光传感器信号（S1,S2）之间的差R；确定在该散射光测量设备的使用状态中所记录的两个散射光传感器信号（M1,M2）之间的差（D）；比较在使用状态中所记录的信号差（D）与在参考状态中所记录的信号差（R）。
用于确定散射测量设备结果质量方法装置

[发明专利]一种测量悬浮亚微米颗粒物大小的装置与方法-CN201610277805.X在审
发明人：廖然;欧学桁;陶益 -专利权人：清华大学深圳研究生院
申请日： 2016-04-28 - 公布日： 2016-09-28 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：一种测量悬浮亚微米颗粒物大小的装置及方法，该装置包括光源、后向散射光接收透镜、前向散射光接收透镜、后向散射光探测模块、前向散射光探测模块以及处理模块，光源发出的光经过后向散射光接收透镜后入射到待测悬浮亚微米颗粒物上，产生前向散射光和后向散射光，经过前向散射光接收透镜的前向散射光的光强值由前向散射光探测模块探测，经过后向散射光接收透镜的后向散射光的光强值由后向散射光探测模块探测，处理模块计算出后向散射光与前向散射光的光强值的比值本发明尤其能够实现单个悬浮亚微米颗粒物的简便可靠的测量。
一种测量悬浮微米颗粒大小装置方法

[发明专利]一种测量悬浮颗粒物的二维光散射角度分布的装置及方法-CN201610277996.X在审
发明人：廖然;欧学桁;陶益 -专利权人：清华大学深圳研究生院
申请日： 2016-04-28 - 公布日： 2016-09-21 - 主分类号： G01N15/00 文献下载
摘要：一种测量悬浮颗粒物的二维光散射角度分布的装置及方法，其中光源发出的光经过后向散射光接收透镜后入射到待测悬浮颗粒物上，产生前向散射光和后向散射光，经过前向散射光接收透镜的前向散射光由前向散射光探测模块探测，经过后向散射光接收透镜的后向散射光由后向散射光探测模块探测，由此获得颗粒物的二维光散射角度分布，二维光散射角度分布包括前向散射光探测模块和后向散射光探测模块一起所能够探测到的颗粒物的散射角的覆盖范围，以及对应于不同散射角的方位角的覆盖范围。本发明可在大角度范围内测量悬浮颗粒物的光散射二维角度分布，为获得悬浮颗粒物更多、更全面的信息提供可能。
一种测量悬浮颗粒二维散射角度分布装置方法

[发明专利]一种颗粒测量装置及流式细胞分析仪-CN202011520270.7在审
发明人：李水艳 -专利权人：上海微电子装备(集团)股份有限公司
申请日： 2020-12-21 - 公布日： 2021-04-20 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种颗粒测量装置及流式细胞分析仪。该颗粒测量装置包括：光源模块，用于产生入射光并将所述入射光投射到颗粒容纳模块的探测区域；散射光探测模块，用于探测待测颗粒被所述入射光照射后产生的散射光；分析模块，用于根据散射光探测结果确定所述待测颗粒的粒径；散射光增强模块，用于增强被所述散射光探测模块探测到的所述散射光的光强。本发明实施例的方案提高了微小颗粒的尺寸测量精度。
一种颗粒测量装置细胞分析

[发明专利]测量高精度大动态绝对应变量的分布式传感系统及方法-CN202310252110.6在审
发明人：朱涛;吴昊庭;尹国路;刘涛 -专利权人：重庆大学
申请日： 2023-03-15 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01B11/16 文献下载
摘要：本发明提供一种测量高精度大动态绝对应变量的分布式传感系统及方法，其中第一耦合器将激光器提供的激光信号分成两路，一路传输给测量支路，另一路通过第二耦合器分别传输给φ‑OTDR测量支路和BOTDR测量支路；测量支路将根据激光信号生成的测量光传输给传感光纤，以使传感光纤反向传输回背向散射光，背向散射光分为两路，分别传输给φ‑OTDR测量支路和BOTDR测量支路；φ‑OTDR测量支路对背向散射光中的瑞利散射光与根据激光信号生成的第一参考光进行拍频，获得瑞利散射信号；BOTDR测量支路对背向散射光中的布里渊散射光与根据激光信号生成的第二参考光进行拍频，生成布里渊散射信号；处理器根据瑞利散射信号和布里渊散射信号，确定传感光纤上各个位置处的合成绝对应变量
测量高精度动态绝对变量分布式传感系统方法

[发明专利]颗粒物光散射测量系统及方法-CN201610334706.0在审
发明人：宾泽明;刘燕林;文新江;邱致刚 -专利权人：中兴仪器（深圳）有限公司
申请日： 2016-05-18 - 公布日： 2016-10-12 - 主分类号： G01N15/00 文献下载
摘要：一种颗粒物光散射测量系统，包括散射测量室、光源、散射光探测器、数据采集分析模块、光源起偏装置及多个散射光检偏装置。所述散射测量室包括光通道及颗粒物进样通道，所述光通道的中心线和所述颗粒物进样通道的中心线相交于一交汇点。所述光源安装于所述散射测量室一侧。所述光源起偏装置位于所述散射测量室及所述光源之间。所述多个散射光检偏装置位于以所述交汇点为起点与所述光通道的中心线成不同角度位置上，所述散射光探测器对应所述多个散射光检偏装置设置，用于接收来自所述多个散射光检偏装置的光线。本发明还提供一种颗粒物光散射测量方法。本发明是基于颗粒物多角度散射法对颗粒物测量，可测定颗粒物的粒径及属性。
颗粒散射测量系统方法

[发明专利]微粒测量装置-CN201380052651.9有效
发明人：竹内太一;今西慎悟 -专利权人：索尼公司
申请日： 2013-08-30 - 公布日： 2017-09-08 - 主分类号： G01N15/14 文献下载
摘要：提供一种微粒测量装置，能够精确检测在通道内流动的微粒的位置。该微粒测量装置具有用于利用光照射通道内流动的微粒的光照射单元以及用于检测从微粒发出的散射光的散射光检测器，其中该散射光检测器设有用于收集从微粒发出的光的物镜，用于将由物镜收集的光中的散射光分离成第一散射光和第二散射光的光分离元件，用于接收S偏振光分量的第一散射光检测器，以及设置在光分离元件与第一散射光检测器之间并且向第一散射光施加象散的象散元件；并且该散射光检测器被设置使得从物镜的后侧主点至象散元件的前侧主点的长度(L)与象散元件的焦距
微粒测量装置

[发明专利]一种光散射颗粒测量装置及方法-CN201110176897.X有效
发明人：沈建琪;王华睿 -专利权人：上海理工大学
申请日： 2011-06-28 - 公布日： 2012-02-15 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种光散射颗粒测量装置及方法，装置依次设置发散光束模块、测量区、接收透镜、多元光电探测器、透射光探测器、信号处理电路和模数转换器，测量区中的颗粒被发散光束照射，散射光与透射光同时被接收透镜收集，散射光投射到多元光电探测器的各个探测单元，得到散射光分布信号，入射光中未被散射的部分光被透射光探测器接收，得到透射光信号，信号处理电路和模数转换器对散射光分布信号和透射光信号进行放大、采集和转换，根据散射光分布信号和透射光信号计算得到颗粒粒径分布和浓度信息本发明的有益效果是，解决了测量区与探测器过近引起的信号干扰问题，降低颗粒测量下限，可用于颗粒测量的多个领域。
一种散射颗粒测量装置方法

[发明专利]散射光测量装置-CN201380047195.9有效
发明人：伊藤辽佑 -专利权人：奥林巴斯株式会社
申请日： 2013-09-09 - 公布日： 2015-05-13 - 主分类号： A61B1/00 文献下载
摘要：一种散射光测量装置，具有光学测量装置(1)和散射光测量探头(101)，其中，光学测量装置(1)具有：光源(10)，其射出至少包含测量对象波长的光；光检测器(12)，其检测由散射光测量探头(101)接收到的光；分支部(11)，其将来自光源(10)的光引导至散射光测量探头(101)，并且将来自散射光测量探头(101)的光引导至光检测器(12)；以及控制部(13)，其基于由光检测器(12)检测出的光来评价被检查物的表层的散射特性，该散射光测量探头(101)具有光纤(102)，该光纤(102)在一端与光学测量装置(1)进行连接，传播来自光源的光并对被检查物进行照射，并且在另一端与被检查物接触，接收照射到被检查物的光在被检查物的内部进行传播并返回来的光，将该光作为光信号而向光检测器(12)引导，光纤(102)传播光，具有大致棒状的芯部(1020)，该芯部(1020)具有根据被检查物的检测深度来确定的直径。
散射测量装置

[发明专利]一种水下布里渊散射光谱测量装置及测量方法-CN202110760424.8在审
发明人：田斌;梁琨;王元庆;陈子豪;张厶允 -专利权人：田斌;梁琨;王元庆;陈子豪;张厶允
申请日： 2021-07-06 - 公布日： 2021-12-10 - 主分类号： G01D5/353 文献下载
摘要：本发明公开了一种水下布里渊散射光谱测量装置及测量方法，测量装置中，碘分子吸收池接收散射光信号，并对布里渊散射光进行滤波；滤波处理后的布里渊散射光依次通过分束镜、扩束镜和双通道FP标准具；分束镜提取小部分布里渊散射光并由参考光能量探测装置接收及探测参考能量值；扩束镜控制光路发射角以控制双通道FP标准具的线宽；双通道FP标准具用于通过布里渊光谱两侧的两部分散射光，并分别发送至第一通过光能量探测装置和第二通过光能量探测装置来探测能量值。通过本发明的技术方案，能够实时计算得到布里渊散射光的光谱，扩展了边缘探测技术的测量功能，实现整体布里渊散射光谱的测量，且具备良好的时效性与稳定性。
一种水下布里渊散射光谱测量装置测量方法

[发明专利]一种水下温度遥感测量方法及系统-CN202110159193.5在审
发明人：张维 -专利权人：江苏建筑职业技术学院
申请日： 2021-02-04 - 公布日： 2021-06-11 - 主分类号： G01K11/32 文献下载
摘要：本发明公开了一种水下温度遥感测量方法及系统，该方法包括如下步骤：步骤A：由激光器发出的450nm激光经聚焦系统汇聚在海水的监测点,之后海面反射回散射光,散射光包含了入射激光、与入射激光同频率的米散射光、瑞利散射光和入射激光有频移的布里渊散射光，以及与入射激光有频移的拉曼散射光；步骤B：散射光经卡塞格林望远镜接收；本发明的有益效果是：能够通过调整两个透镜之间的间距改变聚焦深度，来实现不同深度水温的测量，将面阵CCD的时间累加方式和空间累加方式相结合，有效提高了拉曼光谱遥感系统的测量速度、灵敏度和信噪比，实现了微弱拉曼光谱信号的快速测量。
一种水下温度遥感测量方法系统

[发明专利]免疫层析试纸条散射光场空间分布的测量装置及方法-CN201510687786.3有效
发明人：黄立华;肖阳;胡卓非;何薇羽;凌丽青;郭凯;黄惠杰 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2015-10-21 - 公布日： 2016-02-24 - 主分类号： G01N33/53 文献下载
摘要：一种免疫层析试纸条散射光场空间分布的测量装置，包括照明光路机构、参考光路机构、入射光路机构、供待测免疫层析试纸放置的二维倾斜平台、散射光路机构、三维平移平台和数据采集与控制系统，及测量方法。本发明消除光源不稳定性所带来的影响，实现免疫层析试纸条上入射角的改变，从而使整个装置实现不同入射角下散射光场空间分布的测量，实现在同一入射角的情况下，在不同空间点处一连续区域内散射光场的测量，可满足混浊介质散射光场的测量，对同一空间点，采用相对荧光光场强度相对激发光散射光场强度比值，对提高免疫层析类仪器的信噪比提供了有力的工具。
免疫层析试纸散射空间分布测量装置方法

[发明专利]散射光测量方法-CN201180037983.0有效
发明人： K.施滕格尔;G.哈加;M.诺伊恩多夫;R.西格 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2011-07-18 - 公布日： 2013-04-03 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：根据本发明的用于测量气体的与微粒有关的参数（17、18、19）、尤其内燃机尾气或其他胶体的与微粒有关的参数（17、18、19）的散射光方法，其具有以下的步骤：把含微粒气体导入测量室（2）中；把光束（6）照射到该测量室（2）中；利用至少两个散射光传感器（12a、12b）来接收在微粒（14）上所散射的光线（7），其中该散射光传感器（12a、12b）生成散射光传感器信号（U1、U2），该散射光传感器信号分别是由相应散射光传感器（12a、12b）所接收的光线（7）的函数；由至少两个散射光传感器（12a、12b）的散射光传感器信号（U1、U2）来确定平均微粒大小（d），以及由之前所确定的平均微粒大小（d）和散射光传感器信号（U1
散射测量方法

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