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[发明专利]温度应力环向渗流耦合作用下岩石损伤与渗透测试系统和测试方法-CN201310554863.9有效
发明人：王军祥;姜谙男 -专利权人：大连海事大学
申请日： 2013-11-07 - 公布日： 2014-02-05 - 主分类号： G01N15/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种温度应力环向渗流耦合作用下岩石损伤与渗透测试系统，包括冻胀力测试装置和渗透测试装置；渗透测试装置包括装载待测岩石试件的压力室、压力加载装置、渗透压加压及测量装置、水浴加热装置、超声损伤测试装置和数据采集装置本发明公开了温度应力环向渗流耦合作用下岩石损伤与渗透测试系统和测试方法，利用冻胀力测试装置对岩石进行反复冻融实验后测量该岩石试件的冻胀力变化，再将岩石放置于压力室内，利用压力加载装置对岩石试件施加压力、在不同温度的流动液体和压力作用下，实现岩石渗透系数k的测定和超声波波速传播时间t的测定，从而研究岩石的渗透性和损伤情况。
温度应力渗流耦合作用岩石损伤渗透测试系统方法

[发明专利]一种晶体激光预处理与点对点损伤测试装置及测试方法-CN201611032322.X有效
发明人：程文雍;王军华;李晓芳;杨厚文;李大振 -专利权人：山东大学
申请日： 2016-11-22 - 公布日： 2019-05-07 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明涉及一种晶体激光预处理与点对点损伤测试装置及测试方法，属于激光预处理与损伤测试领域。本发明包括亚纳秒激光脉冲对待测样品晶体的激光预处理和纳秒激光脉冲对待测样品晶体预处理点的在线损伤阈值测试。通过测试装置中的半波片、偏振片和小孔光阑实现亚纳秒激光脉冲和纳秒激光脉冲的共线，从而准确实现晶体的在线点对点损伤阈值测试。本发明提供了一种简单有效的测试方法和测试装置，有效解决了晶体预处理之后再进行损伤阈值测试难以准确找到预处理点的问题，能实现晶体预处理之后的在线损伤阈值测试，具有结构简单、易于操作并且找点精准的特点。
预处理激光脉冲阈值测试点对点损伤损伤测试装置激光预处理测试装置晶体激光晶体的测试损伤测试小孔光阑有效解决半波片偏振片共线

[发明专利]应力‑瓦斯耦合作用煤体损伤红外辐射测试装置及方法-CN201711000309.0在审
发明人：李忠辉;殷山;程富起;王恩元;魏洋;孔艳慧 -专利权人：中国矿业大学
申请日： 2017-10-24 - 公布日： 2018-03-09 - 主分类号： G01N3/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种应力‑瓦斯耦合作用煤体损伤红外辐射测试装置及方法，应力‑瓦斯耦合作用煤体损伤红外辐射测试装置包括应力‑气体耦合可视缸体、红外热像仪、工业相机、高压瓦斯气瓶、真空泵、压力采集仪和微控伺服压机应力‑瓦斯耦合作用煤体损伤红外辐射测试方法通过利用应力‑瓦斯耦合煤体损伤红外辐射测试装置对煤体进行加载破坏测试，该方法能够准确的测试煤体在应力‑瓦斯耦合作用下破坏的红外辐射数据，为研究含瓦斯煤破坏的力学特征及红外辐射规律提供技术支持
应力瓦斯耦合作用损伤红外辐射测试装置方法

[发明专利]一种光学元件吸收缺陷损伤特性的测试系统及方法-CN201610255112.0有效
发明人：王凤蕊;刘红婕;耿锋;黄进;蒋晓东;李青芝;叶鑫;孙来喜;周晓燕 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2016-04-21 - 公布日： 2019-08-23 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供了一种光学元件吸收缺陷损伤特性的测试系统及方法，属于光学元件吸收缺陷的损伤特性测试领域。所述光学元件吸收缺陷损伤特性的测试系统包括光热弱吸收测试装置、损伤测试光源以及损伤监测显微镜。所述光热弱吸收测试装置用于测试待测光学元件的吸收缺陷对泵浦光的吸收值。所述损伤测试光源用于发出损伤测试激光作用于所述待测光学元件的所述吸收缺陷处。所述损伤监测显微镜用于获取所述待测光学元件的所述吸收缺陷在所述损伤测试激光的作用下的损伤特性。因此，本发明可以有效地实现对待测光学元件吸收缺陷的损伤性能的表征，进而获得待测光学元件的吸收缺陷的吸收水平与损伤特性的定量关系。
一种光学元件吸收缺陷损伤特性测试系统方法

[实用新型]一种光学元件吸收缺陷损伤特性的测试系统-CN201620345947.0有效
发明人：王凤蕊;刘红婕;耿锋;黄进;蒋晓东;李青芝;叶鑫;孙来喜;周晓燕 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2016-04-21 - 公布日： 2016-08-31 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种光学元件吸收缺陷损伤特性的测试系统，属于光学元件吸收缺陷的损伤特性测试领域。所述光学元件吸收缺陷损伤特性的测试系统包括光热弱吸收测试装置、损伤测试光源以及损伤监测显微镜。所述光热弱吸收测试装置用于测试待测光学元件的吸收缺陷对泵浦光的吸收值。所述损伤测试光源用于发出损伤测试激光作用于所述待测光学元件的所述吸收缺陷处。所述损伤监测显微镜用于获取所述待测光学元件的所述吸收缺陷在所述损伤测试激光的作用下的损伤特性。因此，本实用新型可以有效地实现对待测光学元件吸收缺陷的损伤性能的表征，进而获得待测光学元件的吸收缺陷的吸收水平与损伤特性的定量关系。
一种光学元件吸收缺陷损伤特性测试系统

[发明专利]一种光学元件激光损伤增长阈值的测试装置及方法-CN202211062433.0在审
发明人：单翀;李福建;夏兰;朱翔宇;崔勇;季来林;冯伟;赵晓晖;高妍琦;饶大幸;史建 -专利权人：中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
申请日： 2022-08-31 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学元件激光损伤增长阈值的测试装置及方法，本发明通过以损伤后入射光斑的调制度以及透过率作为依据，将传统测试方法中忽略的由于损伤产生的光场调制以及能量损耗效应进行分析，得到光学元件损伤增长过程中的功能性损伤增长阈值，从而规避了传统测试方法中只考虑损伤面积增长，而忽略损伤对于元件对装置产生影响以及元件本身功能性影响的评价，本发明的测试装置及测试方法不仅提高了测试精度，也为高功率激光装置中光学元件损伤阈值测试中提供了新的评价体系，并提供了更多相应的损伤信息。
一种光学元件激光损伤增长阈值测试装置方法

[实用新型]埋地式牺牲阳极测试装置-CN200720076995.5无效
发明人：高国兴;郑克敏;史美明;葛志祥 -专利权人：上海振邦建设工程有限公司
申请日： 2007-12-21 - 公布日： 2009-03-11 - 主分类号： C23F13/00 文献下载
摘要：本实用新型公开一种埋地式牺牲阳极测试装置，在金属管道上方设一测试井，测试井内安装一接线盒，电缆线穿过接线盒后与金属管道上的四根阳极连接。将金属管道设置在埋地式牺牲阳极测试装置下面，金属管道不占用埋地式牺牲阳极测试装置的空间，实现了埋地式牺牲阳极测试装置的小型化、不易被盗。埋地式牺牲阳极测试装置体积变小，使得其受地面汽车等载重负荷的损伤较小。接线盒直接置于被保护钢管上方，电缆线直接自底部向上由侧面引入接线盒，避免外力对其损伤。由于埋地式牺牲阳极测试装置采用密封圈密封，并在埋地式牺牲阳极测试装置内填充填料，使得其免受地面积水和地下水的渗透，避免受潮。
牺牲阳极测试装置

[发明专利]一种光学元件激光损伤测试设备及方法-CN202210110747.7在审
发明人：田野;徐振源;韩伟 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2022-01-29 - 公布日： 2022-07-12 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种光学元件激光损伤测试设备及方法，涉及光学元件激光损伤研究领域。光学元件激光损伤测试设备包括施力装置、测量装置、计算模块和损伤测试装置。通过施力装置向待测样品施加应力，使待测样品均匀地变形后，待测样品表面产生应力均匀分布的区域。测量装置由此能够方便、准确地测量出待测样品的最大形变量，进而由计算模块定量计算出待测样品上的最大应力，并在此基础上有损伤测试装置开展损伤测试实验，测试出待测样品在该最大应力下的损伤阈值和损伤增长阈值。调整应力的大小进行多次测试，即可模拟光学元件在使用过程中受到应力作用的情况，保证测试结果的精确性和有效性。
一种光学元件激光损伤测试设备方法

[实用新型]套管损伤检测仪的测试装置-CN201821007035.8有效
发明人：黎明;张智峰;郑利江;孟庆伟;魏高沁;付育成;杨高磊 -专利权人：中国石油天然气股份有限公司
申请日： 2018-06-27 - 公布日： 2019-02-05 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种套管损伤检测仪的测试装置，属于油气田设备的损伤检测技术领域，所述测试装置包括测试套管、底部固定筒、顶部起吊环和底座，所述测试套管的管壁上设有模拟损伤特征，所述顶部起吊环连接在所述测试套管的一端，所述测试套管的另一端与所述底部固定筒连接，所述底部固定筒可转动地固定在所述底座上。本实用新型能够避免套管损伤检测仪检测的准确性的降低。
测试套管测试装置套管损伤固定筒本实用新型起吊环底座检测油气田设备损伤检测检测仪可转动管壁损伤

[发明专利]一种复合装甲高速冲击损伤后剩余强度测试装置及测试方法-CN202110657663.0在审
发明人：徐颖强;陈智勇;肖立;吴正海;徐颢;孙谢文 -专利权人：西北工业大学
申请日： 2021-06-14 - 公布日： 2021-09-21 - 主分类号： G01N3/08 文献下载
摘要：本发明提出一种复合装甲高速冲击损伤后剩余强度测试装置及测试方法，复合装甲高速冲击损伤后剩余强度测试装置由夹具体和顶板组件两部分组成，与万能试验机配合使用可快速、便捷、准确地进行复合装甲高速冲击损伤后剩余压缩强度和剩余弯曲强度测试，克服了现有剩余强度测试方式主要针对于材料的低速冲击损伤、并不适用于高速冲击损伤、需要大量公式和难以测量获取的参数等弊端，可对弹击后的复合装甲的剩余力学性能进行有效、准确的评判。
一种复合装甲高速冲击损伤剩余强度测试装置方法

[发明专利]薄膜及光学元件激光损伤阈值组合测试装置及测试方法-CN200910219260.7有效
发明人：苏俊宏;徐均琪;梁海锋;杨利红;惠迎雪;杭凌侠;朱昌 -专利权人：西安工业大学
申请日： 2009-12-02 - 公布日： 2010-06-02 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明涉及一种薄膜及光学元件激光损伤阈值组合测试装置及利用该装置的测试方法。由于现有测试装置和测试方法存在较大的误差、对各种薄膜材料适应性差。本发明的一种薄膜及光学元件激光损伤阈值组合测试装置，包括测试组件和处理组件，测试组件包括Nd:YAG激光器、开关档板，第一分束器、聚焦透镜、第二分束器和样片台，光电二极管阵列、会聚透镜、光电探测器件和CCD照相机等，处理组件包括计算机；测试方法包括将测试结果送采用CCD摄像显微判别法等离子体闪光法来判别不同类型薄膜样品是否发生损伤，判别标准是一项显示损伤即确定。本发明的此种结构和测试方法，使得测试误差极小且无误判发生，并且适应性和实用性强。
薄膜光学元件激光损伤阈值组合测试装置方法

[发明专利]一种高峰值功率脉冲激光损伤阈值自动测试装置-CN201910368207.7在审
发明人：金光勇;王頔;张巍;王耀德;蔡继兴;马遥;苑博识;魏智;李昌立 -专利权人：长春理工大学
申请日： 2019-05-05 - 公布日： 2019-08-23 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种高峰值功率脉冲激光损伤阈值自动测试装置，包括：三维电控目标靶台、激光损伤时刻监测系统、损伤用激光器系统和程控计算机。本发明提供了一种高峰值功率脉冲激光损伤阈值自动测试装置，既适用于透明材料损伤阈值特性的测试，也适用于非透明材料损伤阈值特性的测试；既适用于单脉冲激光1‑on‑1模式，也适用于脉冲串激光S‑on‑1激光模式损伤阈值的判定；既可以实现ns秒级时间分辨的激光损伤时刻判定，也可以实现飞秒级时间分辨的激光损伤时刻判定。
激光损伤高峰值功率脉冲自动测试装置损伤判定时间分辨阈值特性程控计算机单脉冲激光非透明材料激光器系统测试激光模式监测系统透明材料脉冲串靶台电控三维激光

[发明专利]一种表面电阻测试探头及其测试装置及表面电阻测试方法-CN201610228925.0有效
发明人：李荐;黄祖琼;周宏明;王利华 -专利权人：中南大学
申请日： 2016-04-14 - 公布日： 2018-11-09 - 主分类号： G01R27/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种表面电阻测试探头及其测试装置及表面电阻测试方法，通过液态的水银作为测试探头取代四探针法测量表面电阻的机械探针，能有效的克服机械探头损伤涂层、薄膜和明显改变待测材料受力状态的缺陷，获得更准确的测量结果，并同时设计发明了对应的使用水银作为测试探头的电阻测试装置，能方便的使用水银探头测试样品表面电阻，并能方便快速的注入和收回水银，该装置设计简洁，使用方便，测试效果准确可重复，效果良好。使用本发明的水银探头测试方法及测试装置测试表面易损伤的样品能有效防止损伤样品表面和减小过大的测试压力对待测样品尤其是涂层样品的表面电阻的干扰。
一种表面电阻测试探头及其装置方法

[发明专利]一种光学元件后表面激光损伤阈值的测试装置及测试方法-CN202210031568.4在审
发明人：单翀;夏兰;冯伟;李福建;赵晓晖;饶大幸;崔勇;季来林;高妍琦;赵元安;刘晓凤 -专利权人：中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
申请日： 2022-01-12 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学元件后表面激光损伤阈值的测试装置及测试方法，本发明通过多次测量背向受激布里渊散射和自聚焦效应的增益情况，将传统测试方法中忽略的两种非线性效应考虑进来，得到了激光诱导光学元件后表面损伤时真实的激光能量与激光光斑大小，从而规避了不同形状的光学元件引入不同的非线性效应所带来的损伤阈值测试结果误差，本发明的测试装置和方法不仅提高了测试精度，也为开展激光诱导光学元件后表面损伤机理以及相应的提高损伤阈值工艺提供了更多的帮助
一种光学元件表面激光损伤阈值测试装置方法

[发明专利]可调式快速插拔非接触PER测试装置-CN202111449992.2在审
发明人：邹支农;朱松根;胡昌平 -专利权人：高安天孚光电技术有限公司
申请日： 2021-11-30 - 公布日： 2022-03-22 - 主分类号： H04B10/079 文献下载
摘要：本发明就是要提供一种可调式快速插拔非接触PER测试装置，括测试支架及设于测试支架的非接触PER测试装置，其所述非接触PER测试装置包括准直器单元，光学器件与旋转器件固定单元；有效解决了传统PER测试装置对不同PM类产品的非通用型和测试过程中出现的产品端面损伤问题，两者之间的耦合容差过小导致PER测试数据精度不高等，测试方法简单，实用性强，成本低。
调式快速插拔非接触 per 测试装置

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