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[发明专利]一种防尘电子产品的质量检测方法-CN202310151858.7在审
发明人：赵阳;吴继承;刘志军;欧文灏 -专利权人：深圳市磐锋精密技术有限公司
申请日： 2023-02-15 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及电子产品检测技术领域，公开了一种防尘电子产品的质量检测方法，通过将待测电子产品放置于防尘试验箱中，检测电子产品的防尘性能，接着将防尘性能合格的待测电子产品安放在跌落测试装置上，进行跌落测试，一次跌落测试结束后，将待测电子产品再次放置于防尘试验箱中，再次该待测电子产品的防尘性能，上述方法有助于生产厂家对防尘电子产品不同部位的做工和质量进行判断和调整，本发明在跌落测试过程中，让两个T形夹爪可以随着待测电子产品一同进行自由落体运动，在下落过程中，始终对待测电子产品进行固定，防止待测电子产品发生偏转，使得待测电子产品与跌落检测板的撞击点与初始设置好的撞击点相吻合，进而可大幅提高测试精度。
一种防尘电子产品质量检测方法

[发明专利]电子产品的测试方法及电子产品测试装置-CN202210346004.X在审
发明人：齐素慈;郝敏钗;刘爽爽;乔振民;曹学文;张华;张立强 -专利权人：河北工业职业技术学院
申请日： 2022-03-31 - 公布日： 2022-09-06 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种电子产品的测试方法及电子产品测试装置。本发明的电子产品的测试方法中，首先，固定待测电子产品，并为待测电子产品提供电源；进而，利用多个探针分别抵接待测电子产品上的各测点，并将各探针通断可控地与控制单元中相应的信号接口连接；通过定义各信号接口的类型、控制各信号接口与相应的探针的通断、并获取待测电子产品的测试数据。本发明的电子产品的测试方法，通过控制信号接口与相应探针的通断，能够对待测电子产品的整体或者局部进行检验。同时，通过定义各信号接口的类型、获取待测电子产品的测试数据，可以根据不同待测电子产品的情况，灵活调配信号接口类型和探针的分布情况，利于提升测试方法及其装置的适用范围。
电子产品测试方法装置

[发明专利]电子产品热设计最佳化方法-CN201610635584.9在审
发明人：李筱俊 -专利权人：常州星诺斯达电子科技有限公司
申请日： 2016-08-03 - 公布日： 2018-02-13 - 主分类号： G06F11/267 文献下载
摘要：一种电子产品热设计最佳化方法，其步骤是先准备一测试环境并在其内部设置温度侦测器，将待测电子产品设于测试环境内并连接一讯号产生装置和一计算机，随后使待测电子产品处于高性能状态而导致升温超过其保护温度，之后调整或更换待测电子产品的散热或能耗的软件或硬件，再重新将待测电子产品回复到高性能状态；藉此，能够测试出待测电子产品在散热管理的各项性能参数，以进行电子产品热设计最佳化。
电子产品设计最佳方法

[发明专利]电子产品热设计最佳化方法-CN201410479959.8有效
发明人：廖友志;张召辉;邱信雄 -专利权人：环旭电子股份有限公司
申请日： 2014-09-19 - 公布日： 2018-02-02 - 主分类号： G06F11/267 文献下载
摘要：一种电子产品热设计最佳化方法，其步骤是先准备一测试环境并在其内部设置温度侦测器，将待测电子产品设于测试环境内并连接一讯号产生装置和一计算机，随后使待测电子产品处于高性能状态而导致升温超过其保护温度，之后调整或更换待测电子产品的散热或能耗的软件或硬件，再重新将待测电子产品回复到高性能状态；藉此，能够测试出待测电子产品在散热管理的各项性能参数，以进行电子产品热设计最佳化。
电子产品设计最佳方法

[发明专利]电子产品自动化测试系统和方法-CN200810198112.7无效
发明人：李晓莉 -专利权人：佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司
申请日： 2008-08-29 - 公布日： 2010-03-03 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明提供一种提供的电子产品自动化测试系统及方法，该系统包括：一待测电子产品；一交流电源供应器、一服务器。该方法主要包括步骤：服务器对交流电源供应器的控制功能开启；服务器对待测电子产品设置一个测试环境；服务器控制交流电源供应器对待测电子产品产生该测试环境；服务器控制待测电子产品初始化并使待测电子产品进入操作系统；待测电子产品在其操作系统下运行测试软件；待测电子产品收集测试结果并关闭测试软件；服务器控制待测电子产品登出操作系统并关闭电源；服务器对交流电源供应器的控制功能关闭；服务器判断测试是否完成；如果为“否”
电子产品自动化测试系统方法

[发明专利]电子产品测试程序引导系统及方法-CN200910308651.6无效
发明人：康健;王太诚 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2009-10-22 - 公布日： 2011-05-04 - 主分类号： G06F11/26 文献下载
摘要：一种电子产品测试程序引导方法。该方法包括：为待测电子产品创建测试流程并设定该测试流程的数据信息，所述测试流程的数据信息包括待测电子产品的名称，该待测电子产品包括的测试项目、每个测试项目所需的测试程序、每个测试程序的路径及启动顺序；测试脚本生成模块根据上述设定的测试流程数据信息生成该待测电子产品的测试脚本通过本发明提供的电子产品测试程序引导系统，为每个电子产品生成一个测试脚本，在该测试脚本的引导下按照预先设定的启动顺序启动相应的测试程序完成对电子产品的某个功能的测试，节约了测试时间。
电子产品测试程序引导系统方法

[发明专利]一种用于电子产品EMC传导发射的测试系统及方法-CN202010723407.2在审
发明人：申艳强;周敏;董明哲;周天翼;喻延福 -专利权人：上海擎度汽车科技有限公司
申请日： 2020-07-24 - 公布日： 2020-10-16 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于电子产品EMC传导发射的测试系统及方法，所述测试系统包括电源、采集设备以及待测电子产品，所述电源与所述待测电子产品连接，所述采集设备的探头连接至所述电源与所述待测电子产品之间的端口，所述采集设备将采样获得的时域波形数据通过预设软件进行FFT频域分析以获得频域幅值，并根据所述频域幅值对所述待测电子产品进行变更，并对所述待测电子产品进行多次采样和FFT频域分析以达到变更后的频域幅值降低到预期值以下。本发明的一个或多个实施例可有效降低电子产品EMC测试成本，缩短了产品开发整改周期，提高开发效率，并且测试灵活，可针对不同的信号线或电源线做独立分析。
一种用于电子产品 emc 传导发射测试系统方法

[发明专利]一种具有天线的EMC检测装置-CN202210760658.7在审
发明人：张贵兵;伍小兵 -专利权人：武汉市鑫宇环检测技术有限公司
申请日： 2022-06-30 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明的有益效果是：设置限位组件，在使用时，将待测电子产品放置在夹板与箱体侧壁之间，通过弹簧的弹力作用，能够对待测电子产品的位置进行固定，保证在测试时，待测电子产品不会发生移动；设置可调节式天线组件，将天线上的信号线与外接信号接收器进行连接，然后通过推动推板，使得天线逐渐靠近待测电子产品，通过外接信号接收器感应到天线信号的变化情况，来判断不同位置处该电子产品的电磁骚扰，当天线信号变化不大时，说明该待测电子产品的电磁骚扰能力较低，因此不会对其他电子产品产生过大的影响
一种具有天线 emc 检测装置

[发明专利]一种电子产品的存储单元的测试系统及测试方法-CN202311140061.3在审
发明人：余玉;许展榕 -专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司
申请日： 2023-09-06 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提供了一种电子产品的存储单元的测试系统及测试方法，包括：至少一个集成子板，用以通讯连接于不同的待测电子产品；以及服务端，用以通讯连接于所述集成子板，以向所述待测电子产品供电，并根据所述待测电子产品的类型，搭建对应的测试环境；其中，所述服务端还用以根据所述测试环境，以选择对应的系统镜像文件进行烧录，生成测试文件，并将所述测试文件发送到对应的所述待测电子产品中进行测试，以生成测试结果。通过本发明提供的一种电子产品的存储单元的测试系统及测试方法，能够提升测试效率。
一种电子产品存储单元测试系统方法

[发明专利]生产线上的单细胞架构式自动化检测方法和系统-CN201711307217.7有效
发明人：林淼;张春平;薛春花;陈志列 -专利权人：研祥智能科技股份有限公司
申请日： 2017-12-11 - 公布日： 2020-02-28 - 主分类号： G01R31/01 文献下载
摘要：本发明涉及一种生产线上的单细胞架构式自动化检测方法，通过设置于生产线工位上的检测装置获取用户选择的功能测试项，根据所述功能测试项对所述待测电子产品进行测试；通过设置于生产线工位上的至少一个待检测工位，所述检测装置当检测到待测电子产品时，将下一个待测电子产品置于所述待检测工位上。即将待测电子产品置于待检测工位，使得在检测装置完成检测后，即时将待检测工位上的待测电子产品送去检测装置进行检测。从而实现即使检测的待测电子产品增多，也能保证在一个工位停留的预设时间内，能完成该阶段的检测项目的测试，且检测装置的利用率高，以满足流水线节拍。此外，还提供一种生产线上的单细胞架构式自动化检测系统。
生产线上单细胞架构自动化检测方法系统

[实用新型]一种电子产品的测试装置-CN202022567432.4有效
发明人：唐徽艳;李观鸿;梁锦星;李世林 -专利权人：意力（广州）电子科技有限公司
申请日： 2020-11-09 - 公布日： 2021-07-09 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电子产品的测试装置，涉及电子产品测试技术领域。该电子产品的测试装置包括测试模块、光源和电桥。测试模块上设置有待测产品放置区，待测产品放置区内设置有ALS位；光源安装于测试模块上，且位于待测产品放置区的一侧，光源发出的光线能够照射ALS位；电桥与测试模块连接，用于测试待测产品的电感值。本实用新型提供的电子产品的测试装置，将NFC测试功能和ALS测试功能集成在一起，提高了电子产品的测试效率，降低了成本。
一种电子产品测试装置

[实用新型]一种信号采集辅助装置及手机壳-CN202122100832.9有效
发明人：杨学志;孟子妍;刘雪南 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2021-09-01 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： H04M1/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种信号采集辅助装置及手机壳，属于电子产品配件领域，包括包裹电子产品摄像头部位的采集部，所述采集部上正对电子产品的主摄像头位置设有限制待测物移动的凹槽，所述凹槽底部设有贯穿所述采集部的通孔使用时，将待测物按压在凹槽内，使用电子产品摄像头穿过通孔接收待测物信号。在这个过程中，按压待测物时，待测物受到凹槽引导，始终被限制在凹槽内。因此，能够避免采集信号时，待测物发生偏移导致漏光问题，提高采集信号的准确性。
一种信号采集辅助装置机壳

[实用新型]电子产品老化自动测试平台-CN201620211064.0有效
发明人：顾力保;贾佳;姚雁;吴文光;罗茂 -专利权人：深圳长城开发科技股份有限公司
申请日： 2016-03-18 - 公布日： 2016-08-17 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：一种电子产品老化自动测试平台，其包括：主机；主控单元，与该主机通讯连接；继电器通道选择单元，受控于该主控单元，用于建立该主机与选中的待测电子产品之间的连接；可编程电源单元，受控于该主控单元，用于经由该继电器通道选择单元提供待测电子产品所需的电压；电子噪声干扰隔离单元，其设置在该主机与该继电器通道选择单元之间，用于实现内部地与外部地之间的隔离；以及测试架单元，用于装载多个待测电子产品。本实用新型能够很好地兼顾电子产品的老化和功能测试。
电子产品老化自动测试平台

[发明专利]电子产品脚垫高度检测设备-CN202111154657.X在审
发明人：张大荣;黄良 -专利权人：深圳宝龙达信息技术股份有限公司
申请日： 2021-09-29 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G01B21/08 文献下载
摘要：本发明公开一种电子产品脚垫高度检测设备，包括机架、检测台以及检测装置；检测台设于机架；检测台具有水平台面，用于放置待测电子产品；检测台对应待测电子产品的脚垫设有贯穿水平台面的安装孔；检测装置设于安装孔内本发明技术方案电子产品脚垫高度检测设备中接触式传感器能够检测待测电子产品的脚垫的底部与水平台面之间的间距，从而得到待测电子产品的脚垫高度的尺寸。本实施例中，通过接触式传感器直接对脚垫高度进行检测，不会对电子产品的脚垫造成磨损，相比于现有的塞尺检测，也不会对塞尺造成磨损，保证了测量准确度的同时提高了检测效率。
电子产品脚垫高度检测设备

[发明专利]一种产品检测方法及装置-CN202111521018.2在审
发明人：张波;张二坤;刘凤龙;吕炜俊 -专利权人：北京创源微致软件有限公司
申请日： 2021-12-13 - 公布日： 2022-03-18 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请提供了一种产品检测方法及装置，通过CCD相机获取待测电子产品的目标表面的产品图像以及深度信息；从产品图像中识别出目标产品区域；根据目标产品区域的深度信息，确定待测电子产品的目标表面的整体平均深度值；根据整体平均深度值和第一阈值范围，确定待测电子产品的目标表面的整体平整性是否满足平整性检测合格条件；若整体平整性满足平整性检测合格条件，则确定待测电子产品的目标表面的平整性检测合格。通过本申请，在不接触电子元器件的情况下，快速、准确的对电子元器件的表面平整性进行检测。
一种产品检测方法装置

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