专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种可视差热分析-CN200620022965.1无效
  • 储少军;宋耀欣;吴铿;李京善 - 北京科技大学
  • 2006-05-11 - 2007-04-25 - G01N25/02
  • 一种可视差热分析仪,属于仪器仪表领域,特别涉及一种差热分析仪器,广泛应用于化学、物理学、地学、生物学等许多基础科学技术领域和化工、冶金、地质、电工、陶瓷、轻纺、食品、医学、农林、消防等工业部门。其特征在于该分析仪由体视显微镜(1)、差热分析仪(2)和可精密调节的X-Y调整平台(6)组成;差热分析仪(2)设置了观察窗口(4),与体视显微镜(1)对应。分析仪结合了体视显微镜与差热分析仪两者功能,可在获得样品差热分析曲线的同时,连续观察样品形貌的动态变化情况,为样品提供更为详尽的理化分析信息。
  • 一种可视差热分析
  • [实用新型]一种方便清洗的差热分析-CN202321120627.1有效
  • 徐娟;蒋和義 - 上海和晟仪器科技有限公司
  • 2023-05-10 - 2023-09-15 - G01N25/00
  • 本实用新型涉及差热分析仪技术领域,且公开了一种方便清洗的差热分析仪,包括差热分析仪和炉体,所述差热分析仪的顶部固定有炉体,所述炉体的内壁上设置有安装机构,所述安装机构包括:螺纹孔,所述炉体的内壁底部开设有螺纹孔该方便清洗的差热分析仪,通过设置了安装机构,转动螺杆,将螺杆向远离限位块的方向移动,此时螺杆与限位块不再抵触,一只手按住连接套,一只手拉动立柱件,使得限位块与相应的限位槽抵触,然后转动螺杆将限位块抵触固定
  • 一种方便清洗差热分析
  • [发明专利]差热-气相色谱联用分析装置-CN200910093342.1无效
  • 潘斌;邓昊 - 中国林业科学研究院木材工业研究所
  • 2009-09-28 - 2010-10-20 - G01N25/48
  • 本发明是差热-气相色谱联用分析装置,属于分析仪器领域,涉及差热分析仪和气相色谱分析仪的间歇联用装置。本发明包括差热分析仪(1)和气相色谱仪(2),并在差热分析仪(1)气体出口处安装气体采样部件(3)及温度传感器,气体采样部件(3)的输出经自动进气控制机构接到气相色谱仪(2)的采样口。本发明装置是在传统差热-气相色谱间歇联用分析装置的基础上,加装气体采样部件(3)和自动进气控制机构,实时采集差热分析仪(1)的差热信号、炉温信号以及尾气出口处的温度信号,通过对这些信号的时间序列曲线进行预测判别这套联用分析装置可实现自动化操作,适合无人看护环境下的操作。
  • 色谱联用分析装置
  • [实用新型]一种差热-气相色谱联用分析装置-CN200920222589.4无效
  • 潘斌;邓昊 - 中国林业科学研究院木材工业研究所
  • 2009-09-28 - 2010-08-11 - G01N25/48
  • 本实用新型是一种差热-气相色谱联用分析装置,属于分析仪器领域,涉及差热分析仪和气相色谱分析仪的间歇联用装置。本实用新型包括差热分析仪(1)和气相色谱仪(2),并在差热分析仪(1)气体出口处安装气体采样部件(3)及温度传感器,气体采样部件(3)的输出经自动进气控制机构接到气相色谱仪(2)的采样口。本实用新型装置是在传统差热-气相色谱间歇联用分析装置的基础上,加装气体采样部件(3)和自动进气控制机构,实时采集差热分析仪(1)的差热信号、炉温信号以及尾气出口处的温度信号,通过对这些信号的时间序列曲线进行预测判别这套联用分析装置可实现自动化操作,适合无人看护环境下的操作。
  • 种差色谱联用分析装置
  • [发明专利]含晶核剂玻璃核化条件的确定方法-CN200810059152.3无效
  • 杨辉;郭兴忠;张玲洁;曹明 - 浙江大学
  • 2008-01-14 - 2008-07-09 - C03B32/02
  • 本发明公开了一种含晶核剂玻璃核化条件的确定方法,采用差热分析方法获得最佳核化温度和最佳核化时间。获得最佳核化温度具体为:将退火后的含晶核剂玻璃进行差热分析,选取不同的温度点进行预核化处理;再对预核化处理后的玻璃进行差热分析;最小析晶峰温度对应的预核化温度即为微晶玻璃的最佳核化温度;获得最佳核化时间具体为:在最佳核化温度下,选取不同的时间点进行预核化处理;再对预核化处理后的玻璃进行差热分析;最小析晶峰温度对应的预核化时间即为微晶玻璃的最佳核化时间。
  • 晶核玻璃条件确定方法
  • [发明专利]差热分析-CN202110938275.X在审
  • 张倩;李建涛;李卓 - 张倩
  • 2021-08-16 - 2021-11-12 - G01N25/20
  • 本发明涉及一种差热分析仪领域,尤其涉及差热分析仪。要解决的技术问题是:现有装置只能对相邻的两组样品进行对比实验。技术方案为:差热分析仪,包括第一机架、第一直角架和提取组件等;第一机架上方后侧安装有两组第一直角架。本发明使用时实现了自动将多组坩埚中的任意一组放入至差热分析仪中的任意位置,即实现了自动将任意两组样品进行对比实验,提高了实验数据的多样性,同时无需人工更换对照组,降低安全隐患的同时提高了效率,同时在实验过程中可减小热量散失
  • 差热分析

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