专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种串级谱分析装置及谱分析方法-CN201010301257.2有效
  • 蒋公羽;穆辉;丁力 - 岛津分析技术研发(上海)有限公司
  • 2010-02-05 - 2011-08-31 - H01J49/26
  • 本发明涉及一种和离子阱联用的串级质谱仪,及在其中实现单级到多级谱分析的多模式分析方法。仪器包含置于真空环境的离子源、位于离子源下游的、位于下游的线形离子阱以及置于离子阱侧边的离子检测。该仪器可通过配合偏转模式线形离子阱获得符合标准谱库查询标准的谱,也可实现轴向碰撞与共振激发两种解离模式下的任意多级谱,并通过预测并优化离子阱分析模式下的样品注入量及种类。本发明还给出了一种利用对离子阱中的离子进一步进行母离子选择,并利用同阱间的电位差来加速离子,实现高能碰撞解离,低子离子质量歧视效应,且可多次重复的串级谱分析方法。
  • 一种串级质谱分析装置方法
  • [发明专利]质谱仪-CN201380076420.1有效
  • 藤田慎二郎 - 株式会社岛津制作所
  • 2013-05-08 - 2017-03-08 - H01J49/42
  • 质谱仪在进行SIM测量过程中,在为了切换测量对象离子的荷比而对给及其他离子输送光学系统施加的施加电压进行切换用的停顿时间中,使施加给预的直流电压的极性暂时反转。如果施加给预的施加电压的极性反转的话,因预表面附着的污垢等引起的绝缘性皮膜或绝缘性的支持构造体的电荷就将离散且充电得以消除。又,因为离子不通过,所以后段的主的充电也得以减轻。
  • 质谱仪
  • [发明专利]质量分析装置-CN201880097161.3在审
  • 西口克 - 株式会社岛津制作所
  • 2018-09-06 - 2021-04-09 - H01J49/42
  • 本发明的质量分析装置(100)具备:(21),具有预;离子化室(2);离子光学系统(5、15),将在离子化室(2)生成的离子引导至(21)的预(9、19),离子光学系统(5、15)的射出侧电极(5c)的电势低于离子化室(2)及(21)的预(9、19)的电势,在射出侧电极(5c)与预(9、19)之间不存在使离子减速的、具有比射出侧电极(5c)更高的电势的结构物。
  • 质量分析装置
  • [实用新型]一种新型-CN202122430781.6有效
  • 刘宏举;柯友清;张鹏龙;罗翔荣;周腾;史留勇 - 海南大学
  • 2021-10-09 - 2022-05-06 - H01J49/42
  • 本发明公开了一种用于过滤具有在一定荷比范围内离子束的一种新型,所述利用直流与交流电场来对正负离子的荷比进行分析,包括根间距相等的平行圆柱形金属组成,被加速的离子束穿过对准之间空间的离子束出口所述的圆柱形正东金属(1)与相对的正西金属(3)串联,正南金属(2)与正北金属(4)串联,相邻正东金属(1)与正南金属(2)、正西金属(3)与正北金属(4)直流电势方向相反、交流电势的相位相反
  • 一种新型四极滤质器
  • [发明专利]型质量分析装置-CN201180018313.4有效
  • 水谷司朗 - 株式会社岛津制作所
  • 2011-03-03 - 2012-12-19 - H01J49/42
  • 本发明的型质量分析装置具备具有如下响应特性的直流电压源(62、63):与被导入(2)的离子中的质量电荷比最大的离子穿过该过滤器(2)所需的时间相比,直流电压的响应时间短,主电极(31-34)和前电极(41-44)通过一次微分电路(65、66)相连接。由此,能够在随着质量电荷比的切换而产生的电压变化的过渡状态下,在前电极部(4)中排除入射到(2)的离子中的低m/z的离子,在主电极部(3)中排除高m/z的离子,因此能够防止大量的离子穿过该(2)而入射到离子检测(5)。
  • 四极型质量分析装置
  • [发明专利]三重型质量分析装置-CN201180071986.6有效
  • 下村学 - 株式会社岛津制作所
  • 2011-06-28 - 2014-03-19 - H01J49/06
  • 对各元件进行配置,使得离子源(11)、第一离子透镜(12)、前级(13)的直线状的离子光轴(C1)与碰撞单元(14)内的离子导向(15)、后级(18)的直线状的离子光轴(C2)在前级与碰撞单元之间的空间内以规定的角度倾斜地交叉由离子源产生的亚稳定状态的He分子(He*)即使通过前级,也到达不了碰撞单元的出口而被去除。另一方面,通过前级的前体离子在由入口侧离子透镜(16)形成的直流电场的作用下沿着折线状的离子光轴弯转,被高效地导入到碰撞单元。
  • 三重四极型质量分析装置
  • [发明专利]谱分析装置-CN201680087990.4有效
  • 奥村大辅 - 株式会社岛津制作所
  • 2016-07-27 - 2020-09-25 - H01J49/40
  • 在不使离子裂解地进行通常的谱分析时,m/z范围限定时电压设定部(52)以对(12)的各电极施加高频电压、并且施加比MS/MS分析时的离子选择时小的直流电压的方式控制电压发生部(40若施加小的直流电压,则质量扫描线被设定成遍及长的范围地横穿马修曲线图上的稳定区域,因此不进入稳定区域的高m/z的离子被(12)拦截。通过调整包含正交加速部(17)的OA‑TOFMS的根据测定周期进行拦截的高m/z侧的截止点,能够防止会发生周期滞后的重的离子被导入到正交加速部(17),由此获取不存在源自周期滞后的离子的峰的重叠的、良好的
  • 谱分析装置
  • [发明专利]改进的质谱仪及用于该质谱仪的-CN03811001.6有效
  • 菲利普·马里奥特 - 萨默费舍科学股份有限公司
  • 2003-05-13 - 2005-08-10 - H01J49/42
  • 本发明公开了一种用于过滤离子束的设备,包括用于发射离子束的离子束源,和串联的第一、二级,以接收来自离子束源的离子束。真空系统将第一、二级维持在低于10-3托的工作压力下。第一级包括具有第一带通的,其仅选择具有一子范围的荷比的离子,以向前传输到所述第二级,子范围包括所选的荷比。第二包括具有比第一带通窄的第二带通的分析,其仅选择所选荷比的离子。第二可获得高的检测精度,不会遇到在现有技术中经历的问题。第一器用作粗滤器,其通常传输从离子源接收的离子的1%,提高了质谱仪的检测精度和使用寿命。
  • 改进质谱仪用于滤质器

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