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[发明专利]功率测量方法、装置以及相关设备-CN202110877281.9在审
发明人：刘帆;李明 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2021-07-31 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： H04B10/079 文献下载
摘要：本申请提供了一种功率测量方法，应用于光通信领域。功率测量方法包括：功率测量设备获取第一光信号在N个波长上的第一功率谱。N为大于1的整数。功率测量设备获取X个功率。X个功率和X个子光信号一一对应。功率测量设备根据X个功率对第一功率谱进行修正，得到目标功率谱。在本申请中，第一功率谱是不准确的功率谱。通过X个功率对不准确的功率谱进行修正，可以减少测量子光信号的次数，提高测量效率。
功率测量方法装置以及相关设备

[发明专利]同相路和正交路不平衡测量方法和装置-CN201710145930.X有效
发明人：陶振宁;宿晓飞;陈浩 -专利权人：富士通株式会社
申请日： 2017-03-13 - 公布日： 2021-01-12 - 主分类号： H04B10/079 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种同相路和正交路不平衡测量方法和装置，该方法包括：发射端发射单边带信号；测量发射的单边带信号经过调制后的光信号在各频率分量上的功率，得到主信号功率谱和镜像信号功率谱；其中，该主信号功率谱是与该单边带信号频率位置相同的信号功率谱，该镜像信号功率谱是与该单边带信号频率位置相反的信号功率谱；根据该主信号功率谱和镜像信号功率谱，计算同相路和正交路相位不平衡和/或时延不平衡，通过上述实施例测量相位不平衡和/或时延不平衡，测量过程简单且测量结果准确
正交不平衡测量方法装置

[发明专利]用于从噪声测量的功率频谱提取主要频谱分量的方法-CN201510272476.5有效
发明人：陈世钦 -专利权人： ABB技术有限公司
申请日： 2012-04-27 - 公布日： 2017-04-12 - 主分类号： G01N21/89 文献下载
摘要：本申请的系统基于使用两种或更多扫描速度获得的扫描测量的功率谱的频谱分量，确定被测量的材料的扫描测量内的机器横向(CD)变化和/或机器纵向(MD)变化。通过对功率谱的所有频谱分量进行排序以形成第一有序功率谱，可以从噪声测量的功率谱中提取主要频谱分量。用第一多项式表示有序功率谱的背景噪声，关于第一多项式设置第一阈值。将有序功率超过第一阈值的频谱分量从有序功率谱中去除，以形成噪声功率谱。用第二多项式表示功率谱中的噪声功率谱，关于第二多项式设置第二阈值。将功率谱超过第二阈值的频谱分量识别为功率谱的主要频谱分量。
扫描测量确定 cd md 变化

[发明专利]从片材的扫描测量确定CD和MD的变化-CN201280028248.8有效
发明人：陈世钦 -专利权人： ABB技术有限公司
申请日： 2012-04-27 - 公布日： 2014-03-05 - 主分类号： D21G9/00 文献下载
摘要：本申请的系统基于使用两种或更多扫描速度获得的扫描测量的功率谱的频谱分量，确定被测量的材料的扫描测量内的机器横向（CD）变化和/或机器纵向（MD）变化。通过对功率谱的所有频谱分量进行排序以形成第一有序功率谱，可以从噪声测量的功率谱中提取主要频谱分量。用第一多项式表示有序功率谱的背景噪声，关于第一多项式设置第一阈值。将有序功率超过第一阈值的频谱分量从有序功率谱中去除，以形成噪声功率谱。用第二多项式表示功率谱中的噪声功率谱，关于第二多项式设置第二阈值。将功率谱超过第二阈值的频谱分量识别为功率谱的主要频谱分量。
扫描测量确定 cd md 变化

[发明专利]带电粒子束装置以及粗糙度指标计算方法-CN202080094772.X在审
发明人：备前大辅;酒井计;角田纯一;白井真纯;山崎实 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2020-03-30 - 公布日： 2022-09-06 - 主分类号： G01B15/04 文献下载
摘要：实现校正了机差的粗糙度测量。因此，使用表示粗糙度指标计算中的基准机对预先形成于机差管理用晶片上的线图案测量出的线图案的功率谱密度的第一PSD数据和表示校正对象机对形成于机差管理用晶片上的线图案测量出的线图案的功率谱密度的第二PSD数据，求出将第二PSD数据的功率谱密度校正为第一PSD数据的功率谱密度的校正方法，根据形成于测量对象晶片上的线图案的扫描像，测量形成于测量对象晶片上的线图案的功率谱密度而作为第三PSD数据，计算通过求出的校正方法校正第三PSD数据的功率谱密度后的校正功率谱密度。
带电粒子束装置以及粗糙指标计算方法

[发明专利]一种风载引起的望远镜跟踪误差功率谱测量仪-CN201410134120.0有效
发明人：廖宏宇;马晓燠;饶长辉;魏凯;鲜浩 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2014-04-02 - 公布日： 2017-06-13 - 主分类号： G01H17/00 文献下载
摘要：一种风载引起的望远镜跟踪误差功率谱测量仪，包括风载测量单元、波前倾斜测量单元、时间同步单元、数据采集单元和数据分析单元，其特征在于在时间同步单元的控制下，数据采集单元同步采集风载测量单元探测得到的风载和波前倾斜测量单元探测得到的波前倾斜抖动，数据分析单元利用AR模型根据测量得到的波前倾斜抖动的功率谱拟合出大气湍流扰动的整体倾斜误差的功率谱，与波前倾斜抖动的功率谱差分后得到风载引起的望远镜跟踪误差的功率谱。本发明可以实时测量风载引起的望远镜跟踪误差的功率谱，为望远镜的设计和改良提供实验数据。
一种引起望远镜跟踪误差功率测量仪

[发明专利]路面功率谱测量方法-CN201711010085.1有效
发明人：魏晖 -专利权人：江西科技学院
申请日： 2017-10-25 - 公布日： 2020-03-20 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：本发明提供了一种路面功率谱测量方法，包括：获取矢距测量装置的频域响应函数，并依据所述频域响应函数确定反滤波频域响应函数；获得路面的矢距信号，并计算得到矢距序列的功率谱；根据所述矢距序列的功率谱获取和所述反滤波频域响应函数计算出路面的位移功率谱上述路面功率谱测量方法，利用矢距的反滤波方法计算路面位移功率谱，避免了惯性器件的随机游走与车身‑悬挂的解耦，且矢距的测量可采用非接触方法，其动态响应快、测量效率高、技术成本低，适合于道路质量的快速检测。
路面功率测量方法

[发明专利]确定到达角的方法、设备和非易失性存储介质-CN202210111237.1在审
发明人： T·默克;M·马利格;P·卡尔森;F·雷扎伊 -专利权人：瑞士优北罗股份有限公司
申请日： 2022-01-29 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： H04W4/02 文献下载
摘要：本公开涉及确定接收射频RF测量信号的到达角AoA的方法。所述方法包括以下步骤：基于来自天线阵列的接收RF测量信号获得测量数据，其中，RF测量信号表示多个频率信道。所述方法还包括以下步骤：确定功率谱，确定功率谱的步骤包括：通过使用测量数据来针对多个频率信道中的各个频率信道确定至少一个功率谱。所述方法还包括以下步骤：提供机器学习算法，该机器学习算法被预训练为基于多个频率信道的功率谱确定AoA。所述方法还包括以下步骤：通过使用机器学习算法和所确定的功率谱来确定接收RF测量信号的AoA。
确定到达方法设备非易失性存储介质

[发明专利]一种多相流的测量方法-CN200910160186.6有效
发明人：周国隆 -专利权人：周国隆
申请日： 2009-07-24 - 公布日： 2011-02-02 - 主分类号： E21B47/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种多相流的测量方法，包括如下步骤：第一步：对测得的时域信号变换得到水油气三项流功率谱；第二步：油水与气水的分离，用两相流的功率谱曲线特征拟合油气水三项流率谱，从而得到对应的油水功率谱和气水功率谱；第三步：根据标定的功率谱积分面积-流量或/和功率谱中心频率-流量关系得到实际流量。由于本发明采用曲线拟合分离，很好地解决了油水气的分离问题，克服了长期以来困扰多项流测量问题。经过实际多次试验测量，两相流测量误差5-10％左右，三项流误差在15％左右，完全能满足生产需求。
一种多相测量方法

[发明专利]一种测量连续激光器线宽的装置及方法-CN202010109480.0有效
发明人：元晋鹏;汪丽蓉;刘浩 -专利权人：山西大学
申请日： 2020-02-22 - 公布日： 2021-02-02 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本发明属于激光器线宽测量技术领域，为了解决现有技术中激光线宽测量精度不足，测量范围小的问题，提供了一种测量连续激光器线宽的装置及方法，装置包括频率鉴别装置、功率谱密度获取装置、伺服锁定装置和软件处理单元；频率鉴别装置用于根据待测激光器发出的激光得到频率参考信号；所述功率谱密度获取装置用于得到激光的残余误差功率谱密度；伺服锁定装置用于对待测激光器进行调制和伺服锁定；软件处理单元用于对残余误差功率谱密度数据进行分析得到激光线宽的大小本发明基于残余误差功率谱密度的几何划分，实现对激光线宽的测量及实时显示，具有可测量范围广，测量速度快，可移植能力强、测量精度高等诸多优点。
一种测量连续激光器装置方法

[实用新型]电子设备-CN201821101929.3有效
发明人：陈业旺;阮双琛;韩培刚;仇明侠;欧阳德钦;刘敏秋;陈燕平 -专利权人：深圳技术大学（筹）
申请日： 2018-07-12 - 公布日： 2019-08-02 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电子设备，涉及光学领域，该电子设备包括：多个光谱测量单元、滤波单元、功率测量单元和中央处理器。该光谱测量单元外接超连续谱光源。该滤波单元外接该超连续谱光源。该功率测量单元与该滤波单元相连。该中央处理器，与该光谱测量单元和该功率测量单元相连。该电子设备可提高测量超连续谱光源的总功率的精确度。
电子设备功率测量单元超连续谱光谱测量滤波单元光源中央处理器外接本实用新型光学领域总功率测量

[发明专利]基于气体活化的高通量快中子能谱测量系统及测量方法-CN202210303067.7在审
发明人：张文首;阿景烨;包利红;邬泽鹏;江新标;马燕 -专利权人：西北核技术研究所
申请日： 2022-03-24 - 公布日： 2022-06-21 - 主分类号： G01T3/00 文献下载
摘要：本发明提供一种基于气体活化的高通量快中子能谱测量系统及测量方法，主要针对目前固体活化探测器测量快中子能谱存在辐照实验孔道深处取样困难、强放射性样品无法及时取放、难以开展中子能谱测量及中子源变功率过程能谱测量以及中子源功率提升阶段对测量结果影响等问题本发明方法以流动活化气体作为活化介质，只需在待测点放置一个气体辐照装置及两条气体管路，将活化气体导入气体辐照装置辐照并导出至活化气体测量室测量。活化气体可在中子源不运行无辐射剂量时放入，活化气体可通过气体导管导出，可以方便测量短寿命放射性气体。当中子源变功率运行时，可待功率稳定后再进行气体收集测量，一次运行即可完成中子源变功率能谱测量。
基于气体活化通量快中子测量系统测量方法

[发明专利]一种基于相位噪声数学模型的相位噪声测量方法-CN201610004866.9在审
发明人：陈晓龙;詹劲松;张丽荣;任获荣;文枫;王家礼 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2016-01-04 - 公布日： 2016-04-20 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于相位噪声数学模型的相位噪声测量方法，所述的基于相位噪声数学模型的相位噪声测量方法是指：通过振荡器信号的功率谱模型，利用信号功率谱测量数据，采用非线性最小二乘法进行曲线拟合，得到功率谱模型中的参数；再根据信号功率谱与其相位噪声幂律模型的关系，将求得的参数代入相位噪声幂律模型中，进而得到被测信号的相位噪声测量结果。本发明的方法相对于现有相位噪声测量方法的主要优势是回避了硬件相位噪声提取电路对测量性能的影响。
一种基于相位噪声数学模型测量方法

[发明专利]一种已敷设光电复合缆的温度和应变同时测量方法-CN201210566695.0无效
发明人：吕安强;李永倩;李静 -专利权人：华北电力大学(保定)
申请日： 2012-12-21 - 公布日： 2013-04-10 - 主分类号： G01K11/32 文献下载
摘要：本发明公开了属于测量技术领域，特别涉及一种已敷设光电复合缆的温度和应变同时测量方法。该方法测量光电复合缆中传感光纤样纤的布里渊散射频移初值、谱峰功率初值和瑞利散射功率值，计算布里渊散射谱峰功率与瑞利散射功率之比；通过标定实验获得传感光纤样纤布里渊散射频移的温度和应变系数、布里渊散射相对谱峰功率的温度和应变系数；计算已敷设光电复合缆中传感光纤的布里渊谱峰功率分布初值的估计值；通过布里渊散射测量系统实时测量已敷设光电复合缆中传感光纤的布里渊散射频移分布和谱峰功率分布，计算传感光纤上的实时温度和应变分布；本发明在没有明显增加系统复杂性的前提下，解决了温度和应变同时测量的难题。
一种敷设光电复合温度应变同时测量方法

[发明专利]光学传输线路-CN03104228.7无效
发明人：片冈智由;平野章;松浦晓彦 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2003-02-08 - 公布日： 2003-08-20 - 主分类号： H04B10/12 文献下载
摘要：本发明的光学传输线路拥有光调制器12、偏压施加单元14、光功率谱测量单元17、控制电路，其中所述光调制器12利用重复频率为fo赫兹的信号调制波长为λo的连续光，并输出交变相位反转脉冲光；所述偏压施加单元14给光调制器12施加偏压；所述光功率谱测量单元17的频率分辨率小于fo赫兹，它测量从光调制器12输出光的光功率谱；所述控制电路根据对光调制器12的输出光的输出功率谱的测量控制经偏压施加单元14的偏压，以使波长为λo的载波谱分量的功率密度最小，或者使双边带中的谱分量的功率密度最大。
光学传输线路

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