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[发明专利]光拾取器-CN200410045185.4无效
发明人：南功治;上山徹男;三宅知之;中田泰男 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2004-05-14 - 公布日： 2005-04-27 - 主分类号： G11B11/10 文献下载
摘要：一个对光源(22)发出的和磁光记录介质(21)反射的光束进行分支的分光元件(24)，具有四个分光部分(25a至25d)，和三个放置在被四个分光部分中除了第一个分光部分(25a)之外的其余的三个分光部分(25b至25d)分支的光束路径上的相位补偿装置(27b至27d)，该相位补偿装置为由第M(M＝2至4)个分光部分分支的光束提供固定的相位δM。在此光拾取器(20)中，使用从四组光接收部分(26a至26d)中选出的三组或更少组光接收部分检测到的光束，分别地检测四种光记录介质(21a至21d)的伺服信号。
拾取

[发明专利]一种光学探头-CN201811105937.X在审
发明人：吴海洋;殷建东;朱帅帅 -专利权人：苏州华兴源创科技股份有限公司
申请日： 2018-09-21 - 公布日： 2018-11-23 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学探头，包括沿光束传播方向依次布置的前置光学组件、均光组件、成像组件和光探测组件；均光组件包括光纤束，光纤束包括主光纤束和由主光纤束分出的至少一束分支光纤束；前置光学组件用于将光束耦合至均光组件中主光纤束的光输入端；均光组件中的光纤束用于光束进行均光，并将均光后的光束耦合至成像组件；成像组件用于将均光组件中各分支光纤束的光输出端输出的光束分别聚焦至光探测组件；光探测组件用于各光束进行探测。本发明的光学探头，采用光纤束对输入的光束进行均光，光的传输效率高，提高检测设备的检测精度和灵敏度，光学探头结构简单，实现光学探头小型化。
均光光学探头光纤束光探测组件成像组件主光纤束前置光学组件分支光纤束光束耦合传输效率光输出端光输入端光束传播检测设备依次布置组件包括灵敏度分出探测聚焦输出检测

[实用新型]一种光学探头-CN201821547970.3有效
发明人：吴海洋;殷建东;朱帅帅 -专利权人：苏州华兴源创科技股份有限公司
申请日： 2018-09-21 - 公布日： 2019-04-09 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光学探头，包括沿光束传播方向依次布置的前置光学组件、均光组件、成像组件和光探测组件；均光组件包括光纤束，光纤束包括主光纤束和由主光纤束分出的至少一束分支光纤束；前置光学组件用于将光束耦合至均光组件中主光纤束的光输入端；均光组件中的光纤束用于光束进行均光，并将均光后的光束耦合至成像组件；成像组件用于将均光组件中各分支光纤束的光输出端输出的光束分别聚焦至光探测组件；光探测组件用于各光束进行探测。本实用新型的光学探头，采用光纤束对输入的光束进行均光，光的传输效率高，提高检测设备的检测精度和灵敏度，光学探头结构简单，实现光学探头小型化。
均光光学探头光纤束光探测组件成像组件主光纤束前置光学组件本实用新型分支光纤束光束耦合传输效率光输出端光输入端光束传播检测设备依次布置组件包括灵敏度分出探测聚焦输出检测

[发明专利]MEMS探针硅片切割装置-CN202210368510.9有效
发明人：金永斌;贺涛;王强;丁宁;朱伟 -专利权人：法特迪精密科技（苏州）有限公司
申请日： 2022-04-09 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： B23K26/38 文献下载
摘要：本发明MEMS探针硅片切割装置属于半导体加工和精密仪器技术领域；该装置包括平行光源，x向光束汇聚机构和y向光束汇聚机构，用于切割MEMS探针硅片；平行光源发出平行光束；x向光束汇聚机构包括多个平行设置的x向柱透镜，设置在x向柱透镜两侧的x向均分支架和用于承载x向光束汇聚机构运动的第一二维水平运动机构；y向光束汇聚机构包括多个平行设置的y向柱透镜，设置在y向柱透镜两侧的y向均分支架和用于承载y向光束汇聚机构运动的第二二维水平运动机构；x向柱透镜和y向柱透镜之间的距离为x向柱透镜焦距和y向柱透镜焦距的差；本发明不仅能够同步切割所有连接筋，而且能够适应不同尺寸探针，在x向和y向分别调整光束位置。
mems 探针硅片切割装置

[发明专利]激光加工装置-CN201510789075.7有效
发明人：能丸圭司 -专利权人：株式会社迪思科
申请日： 2015-11-17 - 公布日： 2019-05-31 - 主分类号： B23K26/067 文献下载
摘要：提供激光加工装置，不使每1脉冲的功率密度减半地将激光光线分支成多个而形成多个聚光点。激光加工装置的光学系统包含：以规定的重复频率振荡激光光线的脉冲激光振荡器；主偏振光束分光器；1/4波长板；将穿过1/4波长板的脉冲激光光线调制成P偏振光脉冲激光光线和S偏振光脉冲激光光线的光弹性调制元件；将由光弹性调制元件调制后的P偏振光脉冲激光光线和S偏振光脉冲激光光线分支的辅偏振光束分光器。光学系统还包含：使相对于由辅偏振光束分光器分支的P偏振光的脉冲激光光线的往路光路稍微倾斜的返路光路逆行的第1反射镜；使相对于由辅偏振光束分光器分支的S偏振光的脉冲激光光线的往路光路稍微倾斜的返路光路逆行的第
激光加工装置

[发明专利]光拾取装置-CN200710188645.2无效
发明人：森和思;日比野克俊;浅野贤二;永富谦司;铃木昌吾;高木直之 -专利权人：三洋电机株式会社
申请日： 2007-11-21 - 公布日： 2008-05-28 - 主分类号： G11B7/135 文献下载
摘要：在该光拾取装置中，将衍射元件置于光束分支元件(例如，分束器)和光电探测器之间。衍射元件进一步分割由衍射光栅引入到杂散光中的干涉条纹，其中衍射光栅将从激光束源发出的激光束分为主光束和两个次光束。
拾取装置

[发明专利]衍射光栅、光拾取器和光盘装置-CN200610007748.X无效
发明人：川村友人;泉克彦;大西邦一;嶋田坚一 -专利权人：日立视听媒介电子股份有限公司
申请日： 2006-02-20 - 公布日： 2006-09-06 - 主分类号： G11B7/135 文献下载
摘要：对聚光于光盘上的主光束在光盘旋转方向的前方与后方的至少一方上聚光两束副光束，在令n为整数，光盘的导向槽间隔为t时，所述两束副光束在光盘半径方向上离开t×(n+0.5)间隔地聚光。此外作为把光束分支成多个的分支机构用在光束的出射面的上下以相等的间隔形成不同角度的光栅槽的衍射光栅。
衍射光栅拾取光盘装置

[发明专利]激光加工装置-CN202211100019.4在审
发明人：野村哲平;冈田繁史 -专利权人：株式会社迪思科
申请日： 2022-09-09 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： B23K26/00 文献下载
摘要：激光加工装置包含：激光束照射单元，其包含空间光调制器，该空间光调制器配设于激光振荡器与聚光器之间，根据显示于显示部的相位图案对入射的激光束进行调制而射出；光检测单元，其对激光束的强度进行检测；图案控制部，其对显示于显示部的相位图案进行控制；存储部，其将当在显示部上显示出用于使激光束分支的相位图案即分支图案时由光检测单元检测的激光束的强度作为基准强度而存储；以及判定部，其根据光检测单元所检测的激光束的强度是否相对于基准强度发生了变化而判定空间光调制器是否正常地进行动作
激光加工装置

[发明专利]土壤分析计-CN202010142966.4在审
发明人：杉原加寿雄 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2020-03-04 - 公布日： 2020-10-20 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：土壤分析计包括利用从燃烧器发出的火焰加热试样的原子化部、光源、用于使从光源发出的光分支为第1光束和第2光束的分支部、分光器、检测器、用于供要利用分光光度法测量的试样在内部流动的流动池、使第1光束通过所述火焰之后将其引导向分光器7的第1光学系统、在使第2光束不通过所述火焰而是通过了流动池之后将其引导向分光器的第2光学系统、以及用于将光源、分支部、分光器、检测器及流动池以外部光不进入的状态收纳于内部的壳体，原子化部以所述火焰位于壳体的外侧的方式配置
土壤分析

[发明专利]用二极管激光器对气体中杂质量进行分析的方法和仪器-CN96105144.2无效
发明人：卡特琳·荣杰;法布里斯·布奈克斯;帕特里克·莫韦;弗雷德里克·斯托克尔 -专利权人：乔治·克劳德方法的研究开发空气股份有限公司
申请日： 1996-04-19 - 公布日： 1997-04-23 - 主分类号： G01N21/39 文献下载
摘要：一种分析一气体试样中至少一种杂质含量的方法，通过测量所检测杂质对二极管激光器发出光束的吸收能力从而分析出来杂质含量，所述光束分离成至少两个分支，一个称为测量光束，它聚焦于测量用光探测器之前先穿过多通道容器中的气体试样；另一分支称为参考光束，它不经过气体试样直接聚焦在一参考光探测器上，此方法中气体试样的压力至少等于大气压以及采用了对二极管输入电流进行调制的技术，调制函数至少包括一指数型函数。
二极管激光器气体杂质进行分析方法仪器

[发明专利]激光加工装置及激光加工方法-CN200410092705.7有效
发明人：梅津一成;泽木大辅 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2004-11-11 - 公布日： 2005-05-18 - 主分类号： B23K26/067 文献下载
摘要：激光加工装置(100)具有：产生光束的激光发生装置(10)、将光束(50)分成等间隔配置的多根光束(51)的分支装置(16、18)、将多根光束(51)以配置间隔的自然数倍的间距在对象体上进行相对移动的移动装置(30)、与多根光束(51)的该移动间距同步而控制该光束强度的控制装置(40)。
激光加工装置方法

[发明专利]形状测定装置以及方法-CN201080001241.8无效
发明人：滨野诚司;太田祯章;菅田文雄;菊池义弘 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2010-03-09 - 公布日： 2011-02-09 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种形状测定装置以及方法，使从光源(90)射出的光成为平行光，将该平行光分支为两束，分支后的光中的一束通过圆锥透镜(104)，变为在规定距离上在光轴上的能量密度达到极大的光(光束)，并使其照射于被测定物(105)的表面，分支后的光中的另一束照射于参照镜(107)，通过对照射于被测定物的表面的光(光束)的后方散射光与来自参照镜的反射光的干涉光进行检测，测定被测定物的形状。
形状测定装置以及方法

[发明专利]光学拾取装置与光盘装置-CN200510092217.0无效
发明人：斋藤政宏;深泽宣雄;丰田清;铃木润一 -专利权人：索尼株式会社
申请日： 2005-06-22 - 公布日： 2006-03-15 - 主分类号： G11B7/12 文献下载
摘要：本发明涉及一种光拾取装置与光盘装置，该装置包含：光发射部件，用于发出波长为λ1的第一激光束和不同于λ1的波长为λ2的第二激光束；表面凹凸型第一衍射光栅，具有由第一和第二相栅而产生两个台阶的相高，该第二相栅设置在第一相栅的相对一侧，该第一衍射光栅适于将波长为λ1的激光束分成三束光束、并透射几乎所有波长为λ2的激光束；表面凹凸型第二衍射光栅，具有由第一和第二相栅而产生两个台阶的相高，该第二相栅设置在第一相栅的相对一侧，该第二衍射光栅适于将波长为λ2的激光束分成三束光束、并透射几乎所有波长为λ1的激光束；物镜，用于将从光发射部件发出的激光束会聚到光盘上；光学元件，用于分支被光盘反射的返回光的光路；以及光接收部件，用于接收被光学元件分支的返回光。
光学拾取装置光盘

[发明专利]基板加工装置及基板加工方法-CN201110395139.7有效
发明人：中谷郁祥;岩坪佑磨 -专利权人：三星钻石工业股份有限公司
申请日： 2011-11-28 - 公布日： 2012-08-29 - 主分类号： B23K26/38 文献下载
摘要：所述基板加工装置包括：短脉冲激光光源(31)；光路分支部(35)，将短脉冲激光光束分支成第一光路侧和第二光路侧；脉冲选择部(39)，转换重复振荡频率，使得第二光路侧以小于第一频率的第二频率重复振荡；输出调整部(36)，以第二光路侧的输出功率大于第一光路侧的输出功率的方式进行调整；光路合成部(46)，形成使第一光路侧及第二光路侧重合而成的合成激光光束；合成激光光束照射光学部(48)，包含物镜(49)，且朝向基板照射合成激光光束；及扫描机构，使合成激光光束相对地进行扫描。
加工装置方法

[发明专利]光拾取头及信息记录再现装置-CN02122260.6有效
发明人：林秀树;水野定夫;绪方大辅;门胁慎一;佐野晃正;安西穰児;安田昭博 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2002-06-04 - 公布日： 2003-01-08 - 主分类号： G11B7/12 文献下载
摘要：具有光源(1)、生成多个衍射光的衍射装置(58)、将衍射光会聚在光记录媒体上的会聚装置、对光记录媒体41上反射的多个光束(70a、70b、70c)进行分支的光束分支装置(52)、输出对应于接收的光束的光量的信号的光检测装置(32),光检测装置具有主光束光接收部和副光束光接收部,1次以上的衍射光在多个信息记录面内的1个会聚面41b处大致汇成焦点反射时的光量与0次的衍射光在多个信息记录面内的会聚面以外的非会聚面41c处不汇成焦点反射时的光量之间有相等或更大的关系
拾取信息记录再现装置