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[发明专利]多路脉冲激光共路合束装置及方法-CN202110341823.0有效
发明人：王巍;杨森;赵启航;张珂 -专利权人：清华大学
申请日： 2021-03-30 - 公布日： 2023-02-28 - 主分类号： G02B27/28 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种多路脉冲激光共路合束装置及方法，包括：共光路输出的至少两组单刀多掷光路开关；其中，任一组单刀多掷光路开关由一个或多个光开关组成的开关阵列构成；其中，一个偏振控制元件与一个偏振合束镜片组成一个光开关；所述共光路输出的至少两组单刀多掷光路开关用于在共路合束逻辑时序的控制下，将输入的N路激光脉冲分时共光路输出，和/或，至少两路同步合束输出。本发明实施例通过在共路合束逻辑时序的控制下，将输入的N路激光脉冲分时共光路输出，和/或，至少两路同步合束输出，从而针对多路高峰值功率激光脉冲的共路及合束问题提供有效手段。
脉冲激光共路合束装方法

[发明专利]一种三波段共孔径光学系统-CN202110649126.1在审
发明人：刘秋佐;杨加强;冯位欣 -专利权人：中国电子科技集团公司第十一研究所
申请日： 2021-06-10 - 公布日： 2021-09-24 - 主分类号： G02B13/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种三波段共孔径光学系统，包括：第一共光路透镜组，第一分光镜，第一成像透镜组，第二共光路透镜组，第二分光镜，第二成像透镜组和第三成像透镜组；成像光路第一分光镜用于将来自成像光路第一共光路透镜组的光线分为第一分路光线和第二分路光线，成像光路第一分路光线入射至成像光路第一成像透镜组；成像光路第二共光路透镜组用于将入射的成像光路第二分路光线分为第三支路光线和第四支路光线，成像光路第三支路光线入射至成像光路第二成像透镜组，成像光路第四支路光线入射至成像光路第三成像透镜组本发明的光学系统采用多波段共孔径方式，具有集成度高、体积紧凑、重量轻等优点，适合手持平台应用。
一种波段孔径光学系统

[实用新型]一种三波段共孔径光学系统-CN202121298830.9有效
发明人：刘秋佐;杨加强;冯位欣 -专利权人：中国电子科技集团公司第十一研究所
申请日： 2021-06-10 - 公布日： 2021-12-17 - 主分类号： G02B13/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种三波段共孔径光学系统，包括：第一共光路透镜组，第一分光镜，第一成像透镜组，第二共光路透镜组，第二分光镜，第二成像透镜组和第三成像透镜组；成像光路第一分光镜用于将来自成像光路第一共光路透镜组的光线分为第一分路光线和第二分路光线，成像光路第一分路光线入射至成像光路第一成像透镜组；成像光路第二共光路透镜组用于将入射的成像光路第二分路光线分为第三支路光线和第四支路光线，成像光路第三支路光线入射至成像光路第二成像透镜组，成像光路第四支路光线入射至成像光路第三成像透镜组本实用新型的光学系统采用多波段共孔径方式，具有集成度高、体积紧凑、重量轻等优点，适合手持平台应用。
一种波段孔径光学系统

[发明专利]使用小孔衍射板的共光路点衍射同步移相干涉测试装置-CN201610072750.9有效
发明人：周翔;郭仁慧;张辉钦;蒋超;郑东晖;陈磊;李建欣;何勇 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2016-02-01 - 公布日： 2019-05-31 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种使用小孔衍射板的共光路点衍射同步移相干涉测试装置，包括沿光路依次设置的测试光路、小孔衍射光路、分光光路和移相光路；测试光路包括共光轴依次设置的激光器、扩束系统和被测样品，获得被测信息；小孔衍射光路包括沿光路依次设置的双折射透镜、小孔衍射板、透镜和光栅，获得参考光和测试光；分光光路包括λ/4波片和三个分光棱镜组，将参考光和测试光等光程地分为四束；移相光路包括共光轴依次设置的缩束系统、偏振阵列和探测器，将光线缩束后用探测器接收，本发明利用小孔形成球面波，测量精度高，并且为共光路系统，结构紧凑，抗振性好。
使用小孔衍射共光路点同步相干测试装置

[发明专利]一种W型共光路时间调制干涉光谱成像装置及方法-CN202210659167.3有效
发明人：龚威;魏儒义;赵江南;吴琼水;马昕;田猛;雷俊锋 -专利权人：武汉大学
申请日： 2022-06-13 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明属于光学技术领域，公开了一种W型共光路时间调制干涉光谱成像装置及方法。本发明中W型共光路干涉仪采用共光路设计且为非对称结构，通过在W型共光路干涉仪中设置用于产生随时间变化的光程差的动镜扫描机构，使W型共光路时间调制干涉光谱成像装置的工作模式为时间调制工作模式。本发明提出了一种全新的W型共光路干涉分光模式和时间调制型干涉光谱成像技术，使得时间调制干涉光谱成像装置既能克服稳定性差的问题，又能保持原有的优势。
一种型共光路时间调制干涉光谱成像装置方法

[发明专利]空间光通信小型化终端中全光路静态像差校正方法-CN202210055109.X有效
发明人：于思源;杨兴昊;徐翔 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2022-01-18 - 公布日： 2022-07-26 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：空间光通信小型化终端中全光路静态像差校正方法，涉及通信终端技术领域，针对空间光通信中的共光路与非共光路静态像差会导致变形镜校正能力明显下降、通信误码率增大、追踪效果差、发射信号与信标光束质量差的问题，本申请利用对向入射光，角反射镜和相位共轭反射镜的全光路静态像差校正技术，控制变形镜产生特定的初始补偿面型，能够同时有效地补偿共光路与所有非共光路的静态像差，以同时保证通信终端接收与发射信号、信标光这四个功能不受影响，进而避免由于空间光通信中的共光路与非共光路静态像差导致的变形镜校正能力明显下降
空间光通信小型化终端中全光路静态校正方法

[发明专利]一种四边形共光路时间调制干涉光谱成像装置及方法-CN202210659168.8有效
发明人：魏儒义 -专利权人：武汉大学
申请日： 2022-06-13 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G01J3/02 文献下载
摘要：本发明属于光学技术领域，公开了一种四边形共光路时间调制干涉光谱成像装置及方法。本发明通过在四边形共光路干涉仪中设置用于产生随时间变化的光程差的动镜扫描机构，使四边形共光路时间调制干涉光谱成像装置工作于凝视观测模式。本发明能够使四边形共光路干涉光谱成像装置即保留共光路分光技术的优势，又获取高光谱分辨率。
一种四边形共光路时间调制干涉光谱成像装置方法

[实用新型]成像设备、共光轴测距成像装置及其共光轴测距成像系统-CN202020975375.0有效
发明人：付陆欣;邢志成 -专利权人：深圳市瑞尔幸电子有限公司
申请日： 2020-06-01 - 公布日： 2021-07-02 - 主分类号： G01S17/894 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种成像设备、共光轴测距成像装置及其共光轴测距成像系统。所述共光轴测距成像系统包括激光发射单元、激光接收单元和成像单元，所述激光发射单元发射激光束至一目标以形成激光发射光路，所述激光接收单元接收反射回的激光束以形成激光接收光路，所述成像单元接收自然光以形成自然光观测光路，所述激光发射光路的轴线与所述自然光观测光路的轴线彼此重合，所述激光接收光路绕所述激光发射光路的轴线布置。
成像设备光轴测距装置及其系统

[发明专利]一种高通量高稳定相干色散光谱成像装置-CN201710140962.0有效
发明人：魏儒义;胡炳樑;李洪波;张智南;于建冬;王飞橙;于涛;高晓惠 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2017-03-10 - 公布日： 2019-01-22 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本发明提出一种高通量高稳定相干色散光谱成像装置，该装置包括依次设置的共光路干涉分光光路、色散分光光路以及光电探测器；所述共光路干涉分光光路采用非对称结构的共光路Sagnac干涉仪，使得最终经共光路Sagnac干涉仪中分束面返回的光束不再与入射光束重合，而是在空间上平行分离；在二次分光前的光路上对应于空间上平行分离的光束还设置有光程调节结构，使得两路一级光束最终产生光程差，以干涉光束出射；其中一路干涉光束经会聚后到狭缝上，该狭缝成为色散分光光路的入射像面位置；另一路干涉光束即所述最终经共光路Sagnac干涉仪中分束面返回的光束也经会聚后进入色散分光光路。
一种通量稳定相干色散光谱成像装置

[实用新型]一种高通量高稳定相干色散光谱成像装置-CN201720230359.7有效
发明人：魏儒义;张智南;王飞橙;于建冬;于涛;高晓惠 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2017-03-10 - 公布日： 2018-01-19 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本实用新型提出一种高通量高稳定相干色散光谱成像装置，该装置包括依次设置的共光路干涉分光光路、色散分光光路以及光电探测器；所述共光路干涉分光光路采用非对称结构的共光路Sagnac干涉仪，使得最终经共光路Sagnac干涉仪中分束面返回的光束不再与入射光束重合，而是在空间上平行分离；在二次分光前的光路上对应于空间上平行分离的光束还设置有光程调节结构，使得两路一级光束最终产生光程差，以干涉光束出射；其中一路干涉光束经会聚后到狭缝上，该狭缝成为色散分光光路的入射像面位置；另一路干涉光束即所述最终经共光路Sagnac干涉仪中分束面返回的光束也经会聚后进入色散分光光路。
一种通量稳定相干色散光谱成像装置

[发明专利]激光雷达系统及其激光探测方法-CN201811402248.5在审
发明人：徐超;沈阳;杨佳 -专利权人：宁波舜宇车载光学技术有限公司
申请日： 2018-11-23 - 公布日： 2020-06-02 - 主分类号： G01S17/02 文献下载
摘要：本发明提供一激光雷达系统，其包括：一激光发射器，一共光路机构，其中所述激光发生器向所述共光路机构提供一光线，以及一激光接收器，其中所述激光接收器接收所述共光路机构所收回的被反射回的所述光线，其中所述激光发射器和所述激光接收器被置于所述共光路机构的一端，其中所述光线和被反射回的所述光线在所述共光路机构中的光线路径为重合的。另外本发明提供一种激光探测方法，采用共光路线扫描的方式进行探测工作，降低设备占用体积，提高空间利用率，保证扫描分辨率和精度。
激光雷达系统及其激光探测方法

[发明专利]一种OCT共聚焦共路双模内窥探头及成像方法-CN201911183191.9在审
发明人：孔冠岳;赵晖;林立 -专利权人：佛山光微科技有限公司
申请日： 2019-11-27 - 公布日： 2020-02-04 - 主分类号： A61B1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种OCT共聚焦共路双模内窥探头及成像方法，共路分光模块把共聚焦光路和OCT光路分离，共聚焦光路经过共聚焦光路模块改变后再经共路分光模块与OCT光路重叠在一起，通过共用一部分光学镜片实现共路输出，降低对镜片尺寸要求，探头小型化同时无需进行运动图像校正；采用共路结构，使得内窥探头尺寸小，加工简单，方便探头与现有内窥镜成像通道共用，实现多模式成像；基于共聚焦成像和OCT成像特性，设计共路扫描探头，
共路共聚焦分光模块内窥探头探头光路成像内窥镜生物组织探测多模式成像共聚焦成像系统稳定性成像通道尺寸要求光路模块光学镜片扫描探头实时成像微小结构物体成像系统测量校正算法运动图像镜片双模校正输出加工

[实用新型]一种OCT共聚焦共路双模内窥探头-CN201922080863.5有效
发明人：孔冠岳;赵晖;林立 -专利权人：佛山光微科技有限公司
申请日： 2019-11-27 - 公布日： 2020-09-25 - 主分类号： A61B1/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种OCT共聚焦共路双模内窥探头，共路分光模块把共聚焦光路和OCT光路分离，共聚焦光路经过共聚焦光路模块改变后再经共路分光模块与OCT光路重叠在一起，通过共用一部分光学镜片实现共路输出，降低对镜片尺寸要求，探头小型化同时无需进行运动图像校正；采用共路结构，使得内窥探头尺寸小，加工简单，方便探头与现有内窥镜成像通道共用，实现多模式成像；基于共聚焦成像和OCT成像特性，设计共路扫描探头，由于其结构特点在相同环境中不容易受到干扰
一种 oct 聚焦双模窥探

[发明专利]双波段共口径共光路共变焦成像光学系统-CN201310248836.9有效
发明人：高明;刘钧;吕宏;陈阳;巩蕾 -专利权人：西安工业大学
申请日： 2013-06-21 - 公布日： 2013-09-04 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明属于光学设备技术领域，特别涉及一种可见光与红外双波段共口径共光路共变焦透射式成像光学系统。本发明所采用的技术方案是：一种双波段共口径共光路共变焦成像光学系统，包括公共变焦组部分，分光棱镜，可见后组，变倍比差补偿组和红外光后组部分；所述公共变焦组部分由依次设置的公共前固定组、公共变倍组和公共补偿组组成，所述分光棱镜位于公共变焦组中公共补偿组的出光侧，分光棱镜的透射和反射光路上分别设置有可见光后组和红外光后组。本发明采用共口径共光路共变焦形式和共口径共光路共变焦形式，提高了双波段光学系统的反应速度，满足了探测过程中的实时性要求；将传统系统中的八个结构组简化为五个组，降低了系统整体的复杂程度。
波段口径共光路共变焦成像光学系统

[发明专利]使用棱镜分光的共光路点衍射同步移相干涉测试装置-CN201610071045.7有效
发明人：周翔;蒋超;郭仁慧;张辉钦;郑东晖;陈磊;李建欣;何勇 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2016-02-01 - 公布日： 2020-04-21 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种使用棱镜分光的共光路点衍射同步移相干涉测试装置，包括沿光路依次设置的测试光路、4f系统光路、分光光路和移相光路。测试光路包括共光轴依次设置的激光器、扩束系统和被测样品，获得被测信息；4f系统光路包括两组分别位于干涉系统两臂的傅里叶透镜和反射镜，线偏振小孔衍射板设置在两个傅里叶透镜的共同焦点处，获得参考光和测试光；分光光路包括λ/4波片和三个分光棱镜组，将参考光和测试光等光程地分为四束；移相光路包括共光轴依次设置的缩束系统、偏振阵列和探测器本发明利用小孔形成球面波，测量精度高，并且为共光路系统，结构紧凑，抗振性好。
使用棱镜分光共光路点衍射同步相干测试装置

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