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[实用新型]光谱测量系统-CN202022997830.X有效
发明人：周安萌 -专利权人：科大讯飞股份有限公司
申请日： 2020-12-10 - 公布日： 2021-10-08 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本实用新型提供一种光谱测量系统，所述光谱测量系统包括：探测器；测量装置，所述测量装置与所述探测器电连接，所述测量装置用于驱动所述探测器测量目标光谱信息；温控装置，所述温控装置与所述探测器连接，所述温控装置用于控制所述探测器的温度本实用新型提供的光谱测量系统，通过设置测量装置来驱动探测器稳定工作，通过设置温控装置来控制探测器的温度，能够降低探测器的测量噪声，提高信噪比，从而提高测量精度。
光谱测量系统

[发明专利]光谱测量系统-CN201310401610.8有效
发明人：徐宁汉;肖晓飞;白本锋;谭峭峰;金国藩 -专利权人：清华大学
申请日： 2013-09-06 - 公布日： 2014-01-08 - 主分类号： G01J3/42 文献下载
摘要：本发明提供一种光谱测量系统，主要包括：光源模组，用以产生单色光；斩光器，用以将光源模组产生的单色光分成一参考光及一测量光两路光束；参考样品模组，包括一参考样品池及一衰减片依次设置于所述参考光的光路上；反射模组，设置于所述测量光的光路上，以改变测量光入射到待测样品的方向，使入射到待测样品的测量光与从待测样品散射的测量光形成一夹角；样品池，设置于从所述反射模组出射的测量光的光路上，用以承载待测样品；以及光电探测及处理单元，用于对两束光进行处理，得到消光光谱及散射光谱。
光谱测量系统

[发明专利]光谱测量系统-CN201580064638.4有效
发明人： J·蒋;M·斯科特;E·若弗里翁;A·凯布尔 -专利权人：统雷有限公司
申请日： 2015-12-10 - 公布日： 2021-06-25 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：公开了一种能够使用光谱法对样品中的材料浓度值进行高灵敏度测量的系统。该系统利用具有减少的总信道的传感器输出的原始信号进行高速数据采集和高分辨率采样，并使用傅里叶变换方法对信号进行频率分析，以并行处理所有传感器通道。当每个传感器以某些特定频率对某些材料进行检测时，系统能够以高测量灵敏度和高速度同时对样品中感兴趣的多种材料进行检测。
光谱测量系统

[发明专利]光谱测量系统-CN201210177561.X无效
发明人：张文君;翟保才;董洪波;许键 -专利权人：上海理工大学
申请日： 2012-06-01 - 公布日： 2013-12-04 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：一种由实验室的基础测量仪器构成的用于测量待测光信号的光谱测量系统包括：光学斩波器，将待测光信号转化为周期性的交变光信号的光学斩波器；将该交变光信号分光成一系列不同波段的单色光信号的单色仪，不同波段的集合为待测光信号所处的总波段
光谱测量系统

[发明专利]一种提高光通量的光谱测量方法及系统-CN201410514190.9有效
发明人：黄梅珍;邹烨;汪洋;余镇岗;孙振华;季芸 -专利权人：上海交通大学
申请日： 2014-09-29 - 公布日： 2016-11-02 - 主分类号： G01J3/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种提高光通量的光谱测量方法及系统，所述方法是通过增大传统色散光谱仪或光谱测量系统中的入射狭缝的宽度，并在传统的色散光谱仪或光谱测量系统中的光栅后面增加一组成像镜头来测量零级光谱，利用该零级光谱和原有的光谱测量系统中所测的一级光谱之间的数学关系，通过计算得出新的光谱。该新的光谱比传统的采用较小狭缝的光谱测量系统获得的光谱具有更强的光能量，与此同时，还能保持采用较小狭缝的光谱测量系统所具有的高分辨率。本发明能有效的提高入射光谱仪器的光通量，并通过数学计算来保证较高的光谱分辨率。
一种提高光通量光谱测量方法系统

[实用新型]一种提高光通量的光谱测量装置-CN201420568923.2有效
发明人：黄梅珍;邹烨;汪洋;余镇岗;孙振华;季芸 -专利权人：上海交通大学
申请日： 2014-09-29 - 公布日： 2015-01-21 - 主分类号： G01J3/02 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种提高光通量的光谱测量装置，所述装置是通过增大传统色散光谱仪或光谱测量系统中的入射狭缝的宽度，并在传统的色散光谱仪或光谱测量系统中的光栅后面增加一组成像镜头来测量零级光谱，利用该零级光谱和原有的光谱测量系统中所测的一级光谱之间的数学关系，通过计算得出新的光谱。该新的光谱比传统的采用较小狭缝的光谱测量系统获得的光谱具有更强的光能量，与此同时，还能保持采用较小狭缝的光谱测量系统所具有的高分辨率。本实用新型能有效的提高入射光谱仪器的光通量，并通过数学计算来保证较高的光谱分辨率。
一种提高光通量光谱测量装置

[发明专利]远程控制光谱仪的系统-CN201980062700.4在审
发明人：皮埃尔·戈万;安东尼·布朗热 -专利权人：格林特罗皮斯姆公司
申请日： 2019-09-25 - 公布日： 2021-05-07 - 主分类号： G01N21/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于远程控制光谱仪的系统(1)，包括：‑至少一个光谱测量设备(30)，其包括光谱仪(3)和辅助模块(5a，5b，5c，5d)，该光谱测量设备(30)配置为测量关于物体和/或过程的光谱测量数据；‑控制设备(2)，其配置为控制光谱测量设备(30)，包括：·用于控制光谱测量设备(30)的装置；·用于获取和处理光谱测量数据的装置；和·用于远程通信的装置；以及‑至少一个接口模块(4)，其配置为与控制设备(2)远程通信，其中：‑远程控制设备(2)配置为经由因特网与接口模块(4)通信；并且‑光谱测量设备(30)是可互换的。本发明还涉及一种用于远程控制光谱测量系统(30)的设备(2)，该设备配置为在根据本发明的用于远程控制光谱仪的系统(1)中使用。
远程控制光谱仪系统

[发明专利]一种基于飞秒光频梳的激光腔衰荡气体光谱测量系统-CN201510543962.6有效
发明人：蔡子航;尉昊赟 -专利权人：清华大学
申请日： 2015-08-28 - 公布日： 2017-12-19 - 主分类号： G01N21/39 文献下载
摘要：基于飞秒光频梳的激光腔衰荡气体光谱测量系统，属于腔衰荡气体光谱测量领域，系统由腔衰荡光谱测量系统、测量用激光频率稳定系统和腔长稳定系统三部分组成，以飞秒脉冲激光器为频率基准，将测量用激光频率和腔长均可溯源至时间频率基准，从而实现高精度腔衰荡光谱测量。
一种基于飞秒光频梳激光腔衰荡气体光谱测量系统

[实用新型]一种光谱测量装置和光学检测设备-CN202222097159.2有效
发明人：耿继新;罗时文;谢沙丽;郑增强 -专利权人：武汉加特林光学仪器有限公司
申请日： 2022-08-10 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光谱测量装置和光学检测设备，其包括光谱测量单元和取景单元，所述光谱测量单元的光轴与所述取景单元的光轴的交汇处设置有分光组件，发光待测件发出的光束通过所述分光组件分束为反射光束和透射光束，所述反射光束的光路径上设置有所述光谱测量单元，所述透射光束的光路径上设置有所述取景单元。本实用新型将光谱测量系统、取景系统结合起来，实现可视的瞄准光谱测量。
一种光谱测量装置光学检测设备

[发明专利]一种光谱测量系统-CN201880000002.7在审
发明人：牟涛涛;骆磊;黄晓庆 -专利权人：深圳达闼科技控股有限公司
申请日： 2018-01-02 - 公布日： 2018-07-24 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：本申请涉及光谱测量技术领域，公开了一种光谱测量系统。本申请中，光谱测量系统包括：光谱检测装置、角度扫描装置和用于承载被测样品的承载机构；角度扫描装置与光谱检测装置连接，用于不断改变光谱检测装置射入的光的入射角，使射出的光在被测样品的表面的不同点聚焦。本光谱测量系统，在进行光谱测量时，通过一次测量能够获取多个点的光谱信息，并且能够有效避免被测样品表面物质分布不均造成的物质识别误差及混合物中物质含量比例测试不准的问题，同时还能够避免热量集中带来的危险和测量的不利影响
光谱测量系统光谱检测装置被测样品角度扫描光谱测量技术表面物质承载机构光谱测量光谱信息热量集中物质识别一次测量混合物点聚焦入射角射出射入申请测量承载测试

[实用新型]一种可视瞄准光谱测量装置和光学检测设备-CN202222097012.3有效
发明人：耿继新;罗时文;谢沙丽;郑增强 -专利权人：武汉加特林光学仪器有限公司
申请日： 2022-08-10 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种可视瞄准光谱测量装置和光学检测设备，其包括光谱测量单元和取景单元，所述光谱测量单元的光轴和所述取景单元的光轴存在一夹角，所述光谱测量单元与发光待测件之间设置有第一反射镜，所述发光待测件与所述第一反射镜之间设置有分光单元，所述发光待测件发出的光束通过所述分光单元分束为第一出射光束和第二出射光束，所述第一出射光束通过所述反射镜汇集至所述光谱测量单元，所述第二出射光束汇集至所述取景单元。本实用新型将光谱测量系统、取景系统结合起来，实现可视的瞄准光谱测量。
一种可视瞄准光谱测量装置光学检测设备

[发明专利]具有可见-紫外、荧光和拉曼光谱测量的热功率测量装置-CN201711259474.8有效
发明人：王毅琳;张武寿;白光月;王玉洁;赵海娜 -专利权人：中国科学院化学研究所
申请日： 2017-12-04 - 公布日： 2019-09-27 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种具有可见‑紫外、荧光和拉曼光谱测量的热功率测量装置，其特征在于，该测量装置包括热测量系统、全光谱测量系统和数据采集与控制系统，热测量系统用于进行测量滴定过程中释放的滴定热；全光谱测量系统包括可见‑紫外激发系统、荧光激发系统、拉曼激发系统、透镜系统、光栅和多通道光谱仪。本发明将可见‑紫外、荧光和拉曼光谱三种光谱与热测量集成优化，三种光谱共用一个光谱仪和部分光学通道，有效简化了光谱系统，降低了成本。
具有可见紫外荧光光谱测量功率装置

[发明专利]透镜色差式光谱测量装置及光谱测量方法-CN201410488668.5在审
发明人：郑仲翔;陈敬修;胡恩德 -专利权人：中央研究院
申请日： 2014-09-23 - 公布日： 2015-07-22 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：一种透镜色差式光谱测量装置及光谱测量方法。一种光谱测量装置(1)，其包括光吸收系统(2)及像散检测系统(3)，其中该光吸收系统(2)可接收由光源(5)所发出的具有不同波长的光线，并将该光线依据其不同的波长聚焦于不同焦点位置，通过光吸收系统(2)的该光线进一步被导入该像散检测系统(3)以进行对该光线的光谱测量。
透镜色差光谱测量装置测量方法

[发明专利]光栅平面镜衍射光谱测量系统及应用-CN03111775.9无效
发明人：贺晓宏;汤洪明;李君良;魏循;王纪龙;王云才 -专利权人：太原理工大学
申请日： 2003-01-23 - 公布日： 2003-07-23 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：一种光栅平面镜衍射光谱测量系统及应用，属于光学测量、光学仪器等技术领域，其特征在于活动式可折叠水平支架A由具有相同水平基面两个底座组成；双面反射平面镜B两个面都镀有半反射膜；背面镀膜反射光栅C由刻有高密透射光栅的光栅条纹面I和镀有起半反射功能的析光膜对望远镜内的辅助光起反射作用的半反射面II两个面组成；本发明用光栅平面镜衍射光谱测量系统，代替分光计光栅衍射光谱测量过程中的用于光路调节的平面镜和用于光谱测量的光栅，使得光路调节和光谱测量的两个步骤同时完成，并可直接进行光谱测量，同时确保光栅衍射光谱测量的精度。
光栅平面镜衍射光谱测量系统应用

[实用新型]一种衍射光谱测量系统-CN200620128014.2无效
发明人：李捷 -专利权人：李捷
申请日： 2006-10-27 - 公布日： 2008-02-06 - 主分类号： G01J3/18 文献下载
摘要：一种光栅平面镜衍射光谱测量系统，属于光学测量、光学仪器等技术领域，其特征在于活动式可折叠水平支架1具有相同水平基面两个底座组成；双面反射平面镜2两个面都镀有半反射膜；背面镀膜反射光栅3由刻有高密透射光栅的光栅条纹面4和镀有起半反射功能的析光膜对望远镜内的辅助光起反射作用的半反射5两个面组成；本实用新型用光栅平面镜衍射光谱测量系统，代替分光计光栅衍射光谱测量过程中的用于光路调节的平面镜和用于光谱测量的光栅，使得光路调节和光谱测量的两个步骤同时完成，并可直接进行光谱测量，同时确保光栅衍射光谱测量的精度。
一种衍射光谱测量系统

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