专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种光谱测量装置-CN202320951881.X有效
  • 程慧东;曾强龙;钟凡;郑增强 - 武汉加特林光学仪器有限公司
  • 2023-04-25 - 2023-10-27 - G01J3/28
  • 本实用新型公开了一种光谱测量装置,该装置包括:光谱仪模块,探头模块,以及用于连接光谱仪模块和探头模块的主光纤;光谱仪模块包括光谱检测组件、第一光路、光纤连接口、第一光源和控制模块;探头模块安装有镜头,镜头通过主光纤与光纤连接口连接,光谱检测组件用于接收光纤连接口接收到的经第一光路传输来的光信号;控制模块用于控制第一光源介入或离开第一光路。本实用新型利用在待测物上成像产生光斑的方法,根据光路可逆原理,可以直接判断实际测量点。通过旋转光谱测量装置,找到接收光谱能量最强的点,即可实现测量角度的精确定位。
  • 一种光谱测量装置
  • [发明专利]一种色度测量方法及装置-CN202311026156.2在审
  • 闻铭 - 武汉精立电子技术有限公司;武汉加特林光学仪器有限公司
  • 2023-08-14 - 2023-10-13 - G01J3/50
  • 本发明提供一种色度测量方法及装置,属于工业检测技术领域,所述方法包括:基于光谱估计模型建立评价函数,以表征显示设备三原色光源的多通道的实测响应值与预测响应值的总差异度;其中,所述光谱估计模型是以光谱参数向量为变量的预先建立的用于光谱曲线估计的数学模型;以最小化评价函数为目标,采用优化算法求解出所述光谱估计数学模型的目标光谱参数向量,以获取出所述显示设备的光谱估计曲线;根据所述光谱估计曲线结合色匹配函数,求取显示设备的三刺激值和色度。本发明提供的色度测量方法及装置,测量精度能满足显示屏色度测量精度要求,并且成本低于同等精度下各类现有方案。
  • 一种色度测量方法装置
  • [发明专利]一种色度测量装置和方法-CN202311104938.3在审
  • 洪志坤;欧昌东;郑增强;刘荣华 - 武汉精立电子技术有限公司;武汉加特林光学仪器有限公司
  • 2023-08-30 - 2023-10-13 - G01J3/50
  • 本发明公开了一种色度测量装置及方法,包括:视角测量镜头、分光镜、滤镜、图像传感器、光谱仪和计算模块;其中,图像传感器设置在视角测量镜头的像平面处,用于测量待测物体在多个视角下的第一测量光;滤镜设置在第一测量光的光路上;光谱仪用于在视角测量镜头的像平面处,接收待测物体在多个视角下的第二测量光;分光镜用于分离第一测量光和第二测量光;计算模块用于获取光谱仪和图像传感器的测量结果,利用光谱仪的测量结果标定图像传感器的测量结果。本发明在传统的色度测量装置基础上,集成了光谱测量功能,可以对测量结果直接进行标定。
  • 一种色度测量装置方法
  • [发明专利]一种微显示器贴合系统及方法-CN202210321816.9有效
  • 邓忠光;左律;张仁国;郑增强;欧昌东;刘荣华 - 武汉精立电子技术有限公司;武汉加特林光学仪器有限公司
  • 2022-03-25 - 2023-09-12 - G09F9/33
  • 本发明公开了一种微显示器贴合系统及方法,涉及微显示器领域,其包括:相机对位单元,其正对立方体三色合光棱镜的出光面;贴合单元,用于获取微显示器,并将微显示器的贴合端移动到与立方体三色合光棱镜的贴合面对应的位置;间距检测单元,用于检测微显示器的贴合端与立方体三色合光棱镜的贴合面之间的间距;旋转单元,用于旋转立方体三色合光棱镜使得其不同贴合面分时对应于贴合单元;相机对位单元与旋转单元连接,并相对于立方体三色合光棱镜位置固定。本发明可以生产基于Micro LED技术的三色微显示器,并可以控制Micro LED屏幕与立方体三色合光棱镜在贴合过程中的相对距离,以解决Micro LED屏幕在精对位时容易受损的问题。
  • 一种显示器贴合系统方法
  • [发明专利]一种显微检测对焦系统及对焦方法-CN202310578040.3在审
  • 邓俊涛;王进文;王佳;谭盼;夏振义;苗丹 - 武汉精立电子技术有限公司;武汉加特林光学仪器有限公司
  • 2023-05-22 - 2023-08-29 - G02B21/02
  • 本发明涉及一种显微检测对焦系统及对焦方法,其包括:管透镜模组,管透镜模组包括至少两个调焦管透镜,每个所述调焦管透镜均对应设置有摄像装置;微驱控制设备,所述微驱控制设备与至少两个所述调焦管透镜连接,所述微驱控制设备通过控制所述调焦管透镜调整所述摄像装置的后焦距v,使不同的所述摄像装置分别对焦至待测产品的不同层。由于显微检测对焦系统设置了至少两个调焦管透镜,每个调焦管透镜上均设置有摄像装置,同时,通过微驱控制设备可以控制至少两个调焦管透镜调整对应的摄像装置的后焦距v,实现不同的摄像装置的后焦距v不同,使不同的摄像装置能够对焦至待测产品的不同层,因此,可以实现待测产品的多层同时对焦检测,节省时间。
  • 一种显微检测对焦系统方法
  • [发明专利]一种多路成像测量的设备及方法-CN202310414405.9在审
  • 洪志坤 - 武汉加特林光学仪器有限公司
  • 2023-04-17 - 2023-08-25 - G01M11/02
  • 本发明涉及一种多路成像测量的设备及方法,其包括:镜头;分光掩膜板,所述分光掩膜板设置于所述镜头的一侧,且所述分光掩膜板配置为将通过所述镜头入射至所述分光掩膜板上的光线分成至少两路光线,至少两路光线包括全反射光线和全透射光线;以及至少两种探测器,所述至少两种探测器分别用于接收所述全反射光线和全透射光线。本发明实施例提供的一种多路成像测量的设备及方法,由于在镜头的一侧设置了分光掩膜板,分光掩膜板可以将入射光线分成全反射光线和全透射光线被不同的探测器接收,而全反射和全透射不会有偏振选择性,因此,一个设备可以实现不同的探测器进行多方面的测量,且不易导致偏振的问题,从而提升测量准确性。
  • 一种成像测量设备方法
  • [发明专利]一种光谱测量装置及精确定位方法-CN202310451428.7在审
  • 程慧东;曾强龙;钟凡;郑增强 - 武汉加特林光学仪器有限公司
  • 2023-04-25 - 2023-06-23 - G01J3/28
  • 本发明公开了一种光谱测量装置,该装置包括:光谱仪模块,探头模块,以及用于连接光谱仪模块和探头模块的主光纤;光谱仪模块包括光谱检测组件、第一光路、光纤连接口、第一光源和控制模块;探头模块安装有至少二个镜头,镜头通过主光纤与光纤连接口连接;控制模块用于控制第一光源介入或离开第一光路。本发明还公开了一种光谱测量装置的精确定位方法。本发明利用在待测物上成像产生光斑的方法,根据光路可逆原理,可以直接判断实际测量点。通过旋转光谱测量装置,找到接收光谱能量最强的点,即可实现测量角度的精确定位。
  • 一种光谱测量装置精确定位方法

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