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[发明专利]一种基于楔形高透射光学元件的光腔衰荡装置中高反射腔镜透过率的测量方法-CN202211554655.4在审
发明人：李斌成;王静;赵斌兴 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2022-12-05 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于楔形高透射光学元件的光腔衰荡装置中高反射腔镜透过率测量方法，该方法以楔形高透射光学元件作为参考元件，基于光腔衰荡技术，先测量楔形高透射光学元件前表面或者后表面的剩余反射率，然后建立同时测量高反射腔镜透射的和楔形高透射光学元件已知反射率表面反射的输出衰荡信号的双通道光腔衰荡装置，同时测量高反射腔镜透射的和楔形高透射光学元件已知反射率表面反射的输出衰荡信号，计算楔形高透射光学元件的反射光腔衰荡信号幅值与待测高反射腔镜透射光腔衰荡信号幅值的比值，实现光腔衰荡装置中高反射腔镜透过率的准确测量
一种基于楔形透射光学元件光腔衰荡装置中高反射透过测量方法

[发明专利]一种基于光腔衰荡技术同时测量高反射/高透射光学元件的反射率和透过率的方法-CN201610972470.3有效
发明人：李斌成;崔浩;王静 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2016-11-04 - 公布日： 2019-04-02 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于光腔衰荡技术同时测量高反射/高透射光学元件的反射率和透过率的方法，步骤为：采用光腔衰荡技术，先测量初始光腔的衰荡信号并拟合得到初始光腔的衰荡时间。然后加入待测高反射/高透射光学元件形成稳定测试光腔，分别测量从待测光学元件输出和输出腔镜输出的衰荡信号并拟合得到测试光腔的衰荡时间，经计算得到高反射光学元件的反射率或高透射光学元件的透过率；同时将待测光学元件输出的光腔衰荡信号幅值与输出腔镜输出的光腔衰荡信号幅值进行比值计算，通过定标得到高反射光学元件的透过率或高透射光学元件的反射率。该测量方法不仅可测量高反射/高透射光学元件的反射率和透过率，而且可对其反射率和透过率分布实现高分辨率二维成像。
一种基于光腔衰荡技术同时测量反射透射光学元件反射率透过方法

[发明专利]一种基于窄线宽连续激光和随机耦合的光腔衰荡信号衰荡时间获取方法-CN202111305411.8有效
发明人：李斌成;王静;杨巨川 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2021-11-05 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于窄线宽连续激光和随机耦合的光腔衰荡信号衰荡时间获取方法，将窄线宽连续激光束直接入射进入光学谐振腔，记录随机耦合产生的光腔衰荡信号，对记录的光腔衰荡信号采用双指数函数拟合，从而消除随机耦合过程时间特性的不确定性对衰荡时间获取的影响，通过多次测量结果统计平均获得衰荡时间的准确值。本方法与传统的采用调制光学谐振腔腔长实现共振耦合和采用声光调制器快速关断激光束的窄线宽连续激光光腔衰荡方法相比，具有构型简单、调节方便、成本低等优点，可用于基于光腔衰荡的高反/高透光学元件反射率/透过率/光学损耗测量和基于光腔衰荡光谱的痕量气体检测中。
一种基于窄线宽连续激光随机耦合光腔衰荡信号时间获取方法

[发明专利]基于频率选择性光反馈光腔衰荡技术的高反射率测量方法-CN200810102778.8有效
发明人：李斌成;龚元;韩艳玲 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2008-03-26 - 公布日： 2008-09-10 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于频率选择性光反馈光腔衰荡技术的高反射率测量方法，采用连续激光入射到初始衰荡腔，衰荡腔出射信号由透镜会聚后由光电探测器转换为电信号，并由数据采集卡记录，衰荡信号由计算机处理得到初始腔衰荡时间；然后插入待测平面镜构成测试衰荡腔，重复测量得到测试腔衰荡时间，并由两个衰荡时间计算得到待测平面镜的反射率。其特征在于：利用两块高反射平凹腔镜和一块高反射平面镜构成初始衰荡腔，激光束从高反射平面镜非垂直入射进初始衰荡腔，入射角保证从平面镜后向反射的一次反射光不进入激光器谐振腔；精确调节两块腔镜，使衰荡腔的频率选择性后向反射激光输出进入激光器谐振腔，形成频率选择性光反馈。
基于频率选择性反馈光腔衰荡技术反射率测量方法

[发明专利]一种用于光腔衰荡高反射率测量的双传感器调腔方法-CN202111283103.X在审
发明人：何星;田中州;赖柏衡;赵旺;王帅;杨平 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2021-11-01 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G01N21/03 文献下载
摘要：本发明提供一种用于光腔衰荡高反射率测量的双传感器调腔方法，在光腔衰荡技术测量光路中利用相机与光电探测器(PD)共同分析衰荡腔透射光场，实现调腔误差诊断，完成精密调腔。其中，相机用于监测透射光场形态，光电探测器用于记录透射光场强度变化规律。在衰荡腔粗调准阶段，以光场形态和透射光场强度峰值作为调腔评价指标，在保证基横模输出的情况下使腔透射峰值最高；在精调准阶段，根据腔透射光场强度提取的光腔衰荡时间常数作为调腔评价指标，使衰荡时间常数达到最大完成衰荡腔调节这种调腔方式可以不依赖于操作人员主观判断，便于仪器化和自动化。
一种用于光腔衰荡高反射率测量传感器方法

[发明专利]一种光腔衰荡高反射率测量的数据处理方法-CN201510198761.7有效
发明人：韩艳玲;李斌成;崔浩;周胜 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2015-04-24 - 公布日： 2017-06-13 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种光腔衰荡高反射率测量的数据处理方法，其特征在于在基于光腔衰荡法测量大口径光学元件高反射率时，分析大口径光学元件反射率均匀性测试过程中待测光学元件不同位置反射率值与相应衰荡信号幅值间的关系，通过二次多项式拟合等处理方法，利用拟合参数及衰荡信号幅值计算得到待测光学元件反射率，通过与光腔衰荡方法得到反射率结果对比，印证了该方法的有效性。同时，利用拟合参数还可计算得到激光在衰荡腔内往返一次后两透射波相位延迟δ的余弦值cosδ，该值表征了所建立的光腔衰荡高反射率测试系统光路调节状况，cosδ越接近于1说明光腔调节越好。
一种光腔衰荡高反射率测量数据处理方法

[发明专利]一种用于测量高反射率的装置-CN200810055653.4有效
发明人：李斌成;龚元;韩艳玲 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2008-01-04 - 公布日： 2008-09-10 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种用于测量高反射率的装置，其中：光电探测器将光信号转换后的电信号由数据采集卡记录并输给计算机处理及存储，计算机同时控制数据采集卡的采集参数；其特征在于：入射腔镜和出射腔镜与平面高反镜共同构成稳定的初始衰荡腔，入射腔镜和平面高反镜构成初始衰荡腔的入射臂，出射腔镜和平面高反镜构成初始衰荡腔的出射臂；测试时，光源发出的光束经匹配透镜进入衰荡腔，会聚透镜和光电探测器置于平面高反镜后探测光腔输出信号，由光腔衰荡技术测得初始腔衰荡时间τ₁，在出射臂插入待测平面镜，调节出射腔镜，形成稳定的测试腔，同理可测得测试腔衰荡时间τ₂；计算可得待测平面镜反射率；本发明所改进的装置稳定性好、测量精度高、容易调节，适合开发高反射率测量仪器。
一种用于测量反射率装置

[发明专利]一种耦合光腔衰荡高反射率测量装置-CN202210499673.0在审
发明人：田中州;何星;王帅;林海奇;赵旺;杨康健;杨平;许冰 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2022-05-09 - 公布日： 2022-07-12 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开一种耦合光腔衰荡高反射率测量装置，包括激光光源(1)、指示光源(2)、分光反射镜(3)、平面反射镜(4)、耦合镜(5)、平面腔镜(6)、第一高反腔镜(7)、第一聚焦透镜(8)、光电探测器(9)、第二高反腔镜(10)、第二聚焦透镜(11)、CCD相机(12)、计算机(13)和待测样片(14)；其中，所述平面腔镜(6)、第一高反腔镜(7)和第二高反腔镜(10)构成衰荡腔，所述耦合镜(5)反馈光与衰荡腔内光场相干增强，所述光电探测器(9)记录激光光源(1)经衰荡腔后的光腔输出信号，所述CCD相机(12)记录透射光束的光斑模式。本发明相比于传统光腔衰荡高反射率测量，原理简单、调腔方便，测量精度高，测量稳定性好。
一种耦合光腔衰荡高反射率测量装置

[发明专利]一种反射镜高反射率的测量方法-CN98114152.8无效
发明人：解金春;盛新志;孙福革;戴东旭;沙国河 -专利权人：中国科学院大连化学物理研究所
申请日： 1998-07-16 - 公布日： 2000-01-26 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：一种反射镜高反射率的测量方法,包括下述测量步骤(1)以两个高反射镜组成稳定的光学谐振腔,激光脉冲从一端注入后,在腔镜之间来回反射形成振荡,测量衰荡寿命τ－;(2)保持腔长不变,把待测镜作为折叠镜引入上述直衰荡光腔,形成稳定的折叠衰荡光腔,测出衰荡时间τX∶RX=exp[L/C(1/τ-－;1/τ<)];其中,L腔长,C光速。本发明测试过程简单,测量精度高。
一种反射反射率测量方法

[发明专利]光腔衰荡光谱仪微量气体采样装置及方法-CN202011594896.2在审
发明人：吴芳芳;孔凡珺;朱珉;张潮海;谢声益 -专利权人：浙江华电器材检测研究所有限公司;南京航空航天大学
申请日： 2020-12-29 - 公布日： 2021-04-23 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：一种光腔衰荡光谱仪微量气体采样装置及方法，它包括气体检测回路、气体循环回路和衰荡光腔，通过气体检测回路和气体循环回路与光腔衰荡光谱仪的衰荡光腔连接，通过真空泵对衰荡光腔抽取真空后，循环气泵驱动高压气瓶排出的气体在气体循环回路中循环，通过待检测气体进入六通阀后，高压气瓶排出的气体载入待检测气体进入衰荡光腔内，光谱仪自动计算光腔衰荡时间，得出待检测气体的浓度，缩短了光腔衰荡光谱仪气体采样时间、降低了待测气体消耗量，提高了测量精度和效率
光腔衰荡光谱仪微量气体采样装置方法

[发明专利]一种衰荡腔装调方法和装调装置-CN201811396665.3有效
发明人：焦建瑛;王嵩梅;杨军红;何少平;李夏喜;江枫;刘广义 -专利权人：北京市燃气集团有限责任公司
申请日： 2018-11-22 - 公布日： 2019-11-05 - 主分类号： G01J3/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种衰荡腔装调装置和装调方法，以解决现有衰荡腔装调过程缺少便捷合理的调装设备无法形成高精度高稳定性调装过程的技术问题。装置包括：指示光源发生器，用于形成可见光频段的指示光源；小孔光阑，用于在指示光源光路上约束指示光和判断调节精度；可见光频段反射镜组，用于调节指示光源光路的方向；检测光源反射镜，用于在指示光源光路上改变检测光源光路形成检测光源光路的反射光路；探测器，用于在反射光路上接收检测光进行信号识别；可调小孔光阑，用于衰荡腔输出的检测光与相邻的指示光的光轴校准。避免了在检测光源与衰荡腔间增加辅助部件，保证了衰荡腔的系统级可靠性，克服了衰荡腔装调过程的人为误差和装调难度。
衰荡腔装调指示光源检测光源可见光频段小孔光阑光路反射光路反射镜组辅助部件改变检测高稳定性光源光路光轴校准接收检测人为误差信号识别约束指示发生器反射光反射镜检测光系统级指示光探测器可调输出保证

[实用新型]基于双路光衰荡腔的痕量气体检测装置-CN201420656737.4有效
发明人：常建华;郭跃;王志丹;朱成刚;桂诗信 -专利权人：南京信息工程大学
申请日： 2014-11-06 - 公布日： 2015-02-25 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于双路光衰荡腔的痕量气体检测装置，属于气体检测技术领域。该痕量气体检测装置包括光源单元、光衰荡单元以及信号接收与处理单元，所述光源单元包括相互连接的光源、光分束器，所述光衰荡模块包括两个相同的光衰荡腔，所述信号接收与处理单元包括两个光探测器以及与两个光探测器分别连接的计算模块，所述两个光衰荡腔的光输入端与光分束器的两个输出端分别连接，两个光衰荡腔的衰荡光信号输出端与两个光探测器分别连接。相比现有技术，本实用新型利用双路光衰荡腔同时获取两条衰荡曲线，从而可方便快捷地获得待测气体的浓度。
基于双路光衰荡腔痕量气体检测装置

[实用新型]高精度多组分温室气体监测装置-CN202222680865.X有效
发明人：潘浩;宋汇涓;郭栋;李炳琦;吴军 -专利权人：北京圣通和科技有限公司
申请日： 2022-10-12 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种高精度多组分温室气体监测装置，包括过滤干燥装置、恒压装置、真空泵、多个激光器、隔离器、激光切换开关、声光调制器、波长计、光腔衰荡腔、检测器、控制器，过滤干燥装置、恒压装置、真空泵以及光腔衰荡腔顺次连接，多个激光器连接到激光切换开关；隔离器连接在激光切换开关和声光调制器之间，声光调制器连接于光腔衰荡腔，波长计连接于激光切换开关；检测器连接于光腔衰荡腔，控制器通信连接于多个激光器、激光切换开关、声光调制器、波长计、光腔衰荡腔、检测器。本实用新型通过不同波段激光器和具有匹配于激光器波段的衰荡腔腔长的高反镜模块的组合，实现了对多组分温室气体的浓度的精确实时在线监测。
高精度组分温室气体监测装置

[发明专利]一种光学元件角分辨散射的绝对测量系统及方法-CN202110093445.9在审
发明人：李斌成;王静 -专利权人：成都技致光电科技有限公司
申请日： 2021-01-22 - 公布日： 2021-05-28 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学元件角分辨散射的绝对测量系统及方法，该方法基于光腔衰荡技术，同时测量光学元件的角分辨散射光腔衰荡信号和输出腔镜透射的光腔衰荡信号，获得两光腔衰荡信号幅值的比值，通过定标输出腔镜的透过率得到光学元件的角分辨散射绝对值本发明的目的在于提供一种光学元件角分辨散射的绝对测量系统及方法，基于光腔衰荡技术提高散射测量灵敏度和消除杂散光影响，并利用极低的高反射腔镜透过率对角分辨散射进行标定，提高了微弱散射的绝对测量精度。
一种光学元件分辨散射绝对测量系统方法

[发明专利]一种基于腔损耗建模的光腔衰荡高反射率测量方法-CN202111414152.2在审
发明人：田中州;何星;王帅;杨平;许冰 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2021-11-25 - 公布日： 2022-03-04 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于腔损耗建模的光腔衰荡高反射率测量方法，该方法包括：搭建衰荡腔，建立腔参数失调量与腔损耗之间的映射关系模型，筛选优化后的腔损耗，用于完成待测光学元件的高反射率测量。本方法分别通过初始衰荡腔和测试衰荡腔的腔损耗建模，可获取腔损耗优化数值，相比于传统调腔方法，可显著降低衰荡腔相对失调量，减小传统方法因陷入腔损耗局部极值引起的测量误差，从而有效提高待测光学元件高反射率测量的测量重复性精度，获得准确度和可靠度更高的高反射率测量结果。
一种基于损耗建模光腔衰荡高反射率测量方法

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