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[发明专利]一种光电检测与信息处理实验系统-CN201410053797.1无效
发明人：王晓曼;刘树昌;王彩霞;赵海丽;刘鹏;景文博 -专利权人：长春理工大学
申请日： 2014-02-18 - 公布日： 2014-07-23 - 主分类号： G09B23/18 文献下载
摘要：本发明提供的一种光电检测与信息处理实验系统，光、机、电、算相结合，其体现了既是光电实验教学仪器又是光电测试仪器的设计理念。在无辅助测试设备情况下完成光电传感器模块的光电特性测量，实现了零配置设计；作为光电测试仪器能测量电压、电流、光照度等；无需个人计算机，单片机模块中的软件实现了整机的控制和管理；采用了嵌入式结构，电源模块、面包板模块、总线模块、系统资源模块的设计提供了系统灵活扩展性，克服了现有光电信息检测与处理实验仪器功能单一的缺点，为用户提供全新的实验资源，可完成光电检测、单片机技术、专用集成电路技术、数字电路技术等多门光电类
一种光电检测信息处理实验系统

[发明专利]一种XY平面光电式非接触位移传感器系统及其使用方法-CN201910353627.8在审
发明人：徐志祥;钟子明;黄龙 -专利权人：大连理工大学
申请日： 2019-04-29 - 公布日： 2019-07-05 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：一种XY平面光电式非接触位移传感器系统及其使用方法，属于光电系统领域以及物联网领域，包括计算机系统、光电系统以及运动控制系统；光电系统固定在待测物体上并与计算机系统连接，运动控制系统均与光电系统连接，用于控制待测量物体在XY方向移动；待测量物体设于基板上方。光电传感器包括图像处理系统、数字信号处理器和SPI接口，通过数字信号处理器对图像传感器采集的图像信号进行处理，得到光电系统在X和Y方向的位移量ΔX和ΔY，再将位移量通过光电传感器SPI接口传输到单片机控制芯片本发明能够实现XY两个方向位移的同时测量、实时传输及位移控制，能够解决现有技术中高速、两个方向同时测量位移量的问题。
光电系统计算机系统非接触位移传感器数字信号处理器运动控制系统待测量物体光电传感器光电式位移量单片机控制芯片图像处理系统图像传感器测量位移待测物体方向位移方向移动实时传输数据通过图像信号位移控制物联网中高速基板测量采集传输

[实用新型]一种XY平面光电式非接触位移传感器系统-CN201920603487.0有效
发明人：钟子明;徐志祥;黄龙 -专利权人：大连理工大学
申请日： 2019-04-29 - 公布日： 2019-10-25 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：一种XY平面光电式非接触位移传感器系统，属于光电系统领域以及物联网领域，包括计算机系统、光电系统以及运动控制系统；光电系统固定在待测物体上并与计算机系统连接，运动控制系统均与光电系统连接，用于控制待测量物体在XY方向移动；待测量物体设于基板上方。光电传感器包括图像处理系统、数字信号处理器和SPI接口，通过数字信号处理器对图像传感器采集的图像信号进行处理，得到光电系统在X和Y方向的位移量ΔX和ΔY，再将位移量通过光电传感器SPI接口传输到单片机控制芯片本实用新型能够实现XY两个方向位移的同时测量、实时传输及位移控制，能够解决现有技术中高速、两个方向同时测量位移量的问题。
光电系统计算机系统非接触位移传感器数字信号处理器运动控制系统待测量物体光电传感器光电式位移量单片机控制芯片图像处理系统本实用新型图像传感器测量位移待测物体方向位移方向移动实时传输数据通过图像信号位移控制物联网中高速基板测量采集传输

[实用新型]一种瓦斯继电器重瓦斯流速测量设备-CN201220123831.4有效
发明人：卢有龙;袁志文;戴缘生 -专利权人：上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司
申请日： 2012-03-28 - 公布日： 2012-10-24 - 主分类号： G01R31/327 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种瓦斯继电器重瓦斯流速测量设备，由预压装置、预压值检测装置、预压值判断装置、电磁阀、计时装置、光电开关动作检测装置、光电开关判断装置、触点开关动作检测装置、触点开关判断装置、测量结果输出装置依次连接组成与现有技术相比，本实用新型具有结构简单、测量操作容易、测量准确率高等优点。
一种瓦斯继电器流速测量设备

[发明专利]一种无损测量纳米光纤直径的装置及方法-CN201810081697.8在审
发明人：张鹏飞;李刚;张天才 -专利权人：山西大学
申请日： 2018-01-29 - 公布日： 2018-07-27 - 主分类号： G01B11/08 文献下载
摘要：本发明一种无损测量纳米光纤直径的装置及方法，属于纳米光纤直径无损测量技术领域；所要解决的技术问题是提供了一种成本低廉、无损测量纳米光纤直径的装置和方法；解决该技术问题采用的技术方案为：一种无损测量纳米光纤直径的装置，包括测试激光器、光纤探针和光电探测器，测试激光器输出的激光依次经过第一普通光纤、第一锥形光纤、纳米光纤、第二锥形光纤和第二普通光纤后进入光电探测器，第一普通光纤、第一锥形光纤、纳米光纤、第二锥形光纤和第二普通光纤为一体成型；光纤探针用于对纳米光纤进行接触或分离，使光电探测器测得光纤探针接触纳米光纤不同位置下的测试激光的光强；本发明可广泛应用于纳米光纤直径测量领域。
纳米光纤无损测量锥形光纤光电探测器光纤探针光纤激光器测试测试激光一体成型直径测量光强激光输出应用

[发明专利]一种具有红外保护效果的光电测量仪器-CN202110832635.8在审
发明人：张乐 -专利权人：沈阳理工大学
申请日： 2021-07-22 - 公布日： 2021-12-28 - 主分类号： G01D5/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种具有红外保护效果的光电测量仪器，包括支撑底座，所述支撑底座的顶端设有对称设置的支撑板，所述支撑板的顶端设有保护外壳，且所述支撑板均延伸至所述保护外壳的内部，两组所述支撑板互相靠近的一侧顶端设有连接轴一有益效果为：通过设置保护外壳和保护壳，可以对光电测量仪器进行多重保护，避免光电测量仪器受到外界的干扰(碰撞、进水、进灰等)，从而出现损坏现象，导致光电测量仪器不能正常使用，大大提高光电测量仪器的使用寿命，同时由于设置密封弧片和散热孔，在使用时，散热孔便于光电测量仪器的散热，不使用时，关闭密封弧片，光电测量仪器处于密封状态，大大提高光电测量仪器的安全性。
一种具有红外保护效果光电测量仪器

[实用新型]一种光电测量仪器中的调平装置-CN202123076572.2有效
发明人：程亚彬;蔡宇云;汪亮 -专利权人：深圳市英诺信科技有限公司
申请日： 2021-12-08 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本实用新型适用于调平装置生产领域，提供了一种光电测量仪器中的调平装置，包括光电测量仪调平安装底座、光电测量仪安装支架臂、光电测量仪集成安装支架箱、高度调节镜头伸缩杆、光电测量仪检测载物平台以及调平装置带槽支架，本实用新型通过设有调平检测装置和调平检测探头可以自动的多点检测调平检测调试平台是否处于水平状态，结合检测载物平台升降装置和平台升降圆柱形构件可以自动的完成对光电测量仪检测载物平台的调平，极大的便捷了光电测量仪的使用，也避免了现有光电测量仪器在调平时需要依靠使用者自身经验进行调平而导致的低效率与误差。
一种光电测量仪器中的平装

[发明专利]准实时阿秒脉冲测量方法及系统-CN201910567971.7有效
发明人：徐鹏;王向林;皮良文;朱炳利;袁浩;王屹山;白永林;赵卫 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2019-06-27 - 公布日： 2020-06-26 - 主分类号： G01J11/00 文献下载
摘要：本发明属于阿秒光学及光电子技术领域，涉及一种准实时阿秒脉冲测量方法及系统。解决了现有的阿秒脉冲测量方法耗时长，测量系统庞大，各项参数稳定性的问题，具体方法是使红外光以一定的传播角度作用于阿秒脉冲产生的光电子，使得阿秒脉冲在不同空间位置上产生的光电子受到不同强度的红外光的调制，从而将光电子时间‑能谱图中的时间信息映射到空间，不再需要对红外光和待测阿秒脉冲进行延时扫描，从而大大缩短测量阿秒脉冲所需要的时间。
实时脉冲测量方法系统

[发明专利]一种光电式物位检测装置-CN201510932927.3有效
发明人：王志国;刘飞;赵忠盖;栾小丽 -专利权人：江南大学
申请日： 2015-12-15 - 公布日： 2018-11-20 - 主分类号： G01F23/22 文献下载
摘要：本发明提供一种光电式物位检测装置，主要由电机、定位针、限位点、固定轴承、密封玻璃管、测量导管、光电开关、包含有光电开关触点的电阻网络以及智能单元等组成。设置有测量窗的测量导管安装于容器中，测量导管内部连接有密封玻璃管，密封玻璃管中设置有纵向排列的漫反射型光电开关，光电开关的测量头对齐测量窗，当物料淹没测量导管时，光电开关因受物料遮挡产生漫反射光，使对应的光电开关动作本发明主要用于轻质颗粒和粉质物料的物位测量，还具有自动除粘附功能。
一种光电式物位检测装置

[实用新型]一种光电液位测量装置-CN201020564875.1有效
发明人：庄加保 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2010-10-16 - 公布日： 2011-05-25 - 主分类号： G01F23/56 文献下载
摘要：本实用新型提供一种光电液位测量装置，包括：浮子、定位管和光电检测设备，所述浮子包括导向杆和固定于所述导向杆末端的浮球；所述定位管套设在所述导向杆上，所述定位管上设置有至少一组透光孔；所述光电检测装置包括设置于所述透光孔处的发光设备和感光设备综上所述，本实用新型中所述光电液位测量装置采用光电测量设备，不会因收集液结晶阻塞而影响测量。所述光电测量设备将测量用发光设备、集光设备和控制设备与收集液完全不接触，使测量工作更加稳定持久具有低维护频率的优点，同时所述光电测量设备结构简单、易于制作、运行成本低耗能小。
一种光电测量装置

[实用新型]一种光电式物位检测装置-CN201521042448.6有效
发明人：王志国;刘飞;赵忠盖;尹燕燕 -专利权人：江南大学
申请日： 2015-12-15 - 公布日： 2016-08-03 - 主分类号： G01F23/22 文献下载
摘要：本实用新型提供一种光电式物位检测装置，主要由电机、定位针、限位点、固定轴承、密封玻璃管、测量导管、光电开关、包含有光电开关触点的电阻网络以及智能控制模块等组成。设置有测量窗的测量导管安装于容器中，测量导管内部连接有密封玻璃管，密封玻璃管中设置有纵向排列的漫反射型光电开关，光电开关的测量头对齐测量窗，当物料淹没测量导管时，光电开关因受物料遮挡产生漫反射光，使对应的光电开关动作本实用新型主要用于轻质颗粒和粉质物料的物位测量，还具有自动除粘附功能。
一种光电式物位检测装置

[发明专利]火焰放热率脉动测量装置-CN201510346657.8在审
发明人：谭威;韩启祥;武郁文;杨光远 -专利权人：南京航空航天大学
申请日： 2015-06-23 - 公布日： 2015-10-07 - 主分类号： G01N25/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种火焰放热率脉动测量装置，属于非接触的燃烧诊断技术领域。包括滤光片、光电倍增管、负高压电源、放大电路和开关电源；所述滤光片设置于光电倍增管的入光口上，所述光电倍增管分别连接负高压电源和放大电路，所述放大电路连接开关电源。本发明结构简单，价格成本低，采用无接触测量，其灵敏度高、测量精度合理，能够对加力燃烧室的火焰放热率脉动情况进行实时测量。
火焰放热脉动测量装置

[发明专利]一种探测光电材料微区光电性能的方法-CN202010608309.4在审
发明人：邹星礼;唐蔚;庞忠亚;李想;汪淑娟;卢明辉;许茜;鲁雄刚 -专利权人：上海大学
申请日： 2020-06-29 - 公布日： 2020-09-15 - 主分类号： G01Q30/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种探测光电材料微区光电性能的方法，涉及光电化学技术领域。本发明以扫描电化学显微镜装置为基础，通过采用光纤微探针和微电极探针，在光电化学池中通过精确扫描样品微区(包括晶粒和晶界等)，从而获得材料微区光电化学性能。本发明的一种探测光电材料微区光电性能的方法可以测量出材料微区的不同表面微观形貌对应的光电性能差异，以及探测晶界及不同晶粒取向的光电性能分布，解决了传统方法上只能测量材料整体宏观光电性质的局限，对光电转化机制研究和工艺性能改进具有重要的指导意义
一种探测光电材料性能方法

[实用新型]一种光电测量仪加工用防撞机构-CN202121814841.8有效
发明人：朱晓诚 -专利权人：苏州龙盛电子有限公司
申请日： 2021-08-05 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： F16F15/067 文献下载
摘要：本实用新型提供一种光电测量仪加工用防撞机构，包括光电测量仪本体，所述光电测量仪本体外设有防护罩，所述防护罩内设有固定机构，所述固定机构用于夹持光电测量仪本体两侧，所述固定机构可以沿竖直方向直线运动，从而可以夹持光电测量仪本体两侧中端，所述防护罩底部设有减震组件，减震组件上设有支承板，光电测量仪本体设在支承板上方。安装板两侧设有槽，连杆两端设有槽内，光电检测仪本体放在支承板上，弹簧三被拉伸，连杆在沿槽内移动，适合多种型号的光电检测仪本体，且可直接拿取，使用方便。
一种光电测量仪工用撞机

[发明专利]光学元件表面应力的测量方法以及装置-CN202111562161.6在审
发明人：程北;朱海斌 -专利权人：浙江清华柔性电子技术研究院
申请日： 2021-12-17 - 公布日： 2022-04-19 - 主分类号： G01L1/24 文献下载
摘要：本申请提出一种光学元件表面应力的测量方法以及装置，涉及膜基结构元件的偏振、应力测量技术领域，实现测量方法的测量装置包括光源、起偏器、滤波扩束准直器、检偏器、光电探测器等；测量方法包括：获取光电探测器输出的第一信号能量；第一信号能量为光电探测器对载物台上待测元件在测量装置处于第一工况下发生的反射光进行采集而得到的信号能量；获取光电探测器输出的第二信号能量；第二信号能量为光电探测器对待测元件在测量装置处于第二工况下发生的反射光进行采集而得到的信号能量
光学元件表面应力测量方法以及装置