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- [发明专利]磁特性测定装置以及磁特性测定方法-CN202210607429.1在审
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张磊;工藤史人;平井佑纪;蒔田将行;山中谦亮
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昭和电工株式会社
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2022-05-31
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2022-12-06
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G01R33/12
- 本发明提供一种磁特性测定装置以及磁特性测定方法,其能够对构成热辅助磁记录介质的磁性层的有效磁特性进行评价。用于对磁记录介质的磁特性进行测定的磁特性测定装置包括:旋转机构,其用于使上述磁记录介质旋转；加热冷却机构,其用于对上述磁记录介质进行加热或冷却；温度测定机构,其用于对上述磁记录介质的温度进行测定；激光加热机构,其与上述磁记录介质的测定部位相对配置,用于以非接触方式对上述测定部位进行加热；磁写入部,其与上述测定部位相对配置,用于以非接触方式使上述测定部位磁化；以及磁读取部,其与上述测定部位相对配置,用于以非接触方式对上述测定部位的漏磁场进行读取
- 特性测定装置以及方法
- [发明专利]光学组件、以及电子设备-CN201810788993.1有效
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小口智
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精工爱普生株式会社
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2018-07-17
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2022-05-17
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B41J3/44
- 本发明公开了光学组件以及电子设备，该光学组件具备：测定装置，具有对在测定对象的测定位置反射的光进行测定的测定部、从与从所述测定位置朝向所述测定部的测定光轴交叉的方向向所述测定位置照射光的光源、以及供向所述测定部入射的光通过的窗部；以及闭塞所述测定装置的所述窗部的挡板，在所述挡板的闭塞了所述窗部时与所述测定部相对的面设置基准物，且该基准物在所述测定光轴上配置于所述测定位置的所述测定部侧，该光学组件具备在由所述挡板闭塞了所述窗部时将来自所述光源的光向所述基准物引导的导光构件
- 光学组件以及电子设备
- [发明专利]图像处理方法、图像处理装置、存储介质和程序-CN200310123086.9有效
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板垣智久;石塚二郎;笹沼信笃;财间畅彦
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佳能株式会社
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2003-12-24
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2004-07-07
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B41J2/525
- 本发明提供一种图像处理方法、图像处理装置，该图像处理装置利用至少3个着色材料形成图像，包括：第1生成装置，生成由2个不同颜色的着色材料组成的2次色的多个色标；第1测定装置，测定上述色标；第1校正特性计算装置，根据上述色标的测定结果，计算使上述2次色成为预定关系的对应于上述2个着色材料各自的灰度等级校正特性；第2生成装置，用根据上述灰度等级校正特性所校正的图像信号按照上述2个不同的着色材料用的图像信号和上述2个着色材料以外的着色材料用的图像信号来生成色标组；第2测定装置，测定由上述第2生成装置所生成的色标；以及第2校正特性计算装置，基于上述第2测定装置的测定结果，计算上述2个不同的着色材料以外的着色材料用的图像信号的灰度等级校正特性
- 图像处理方法装置存储介质程序
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