[发明专利]一种测试弹片及测试装置在审
申请号: | 202310960179.4 | 申请日: | 2023-07-31 |
公开(公告)号: | CN116953483A | 公开(公告)日: | 2023-10-27 |
发明(设计)人: | 曾伍平 | 申请(专利权)人: | 深圳市瑞芯辉科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 广东创兴方舟知识产权代理事务所(普通合伙) 44732 | 代理人: | 唐青春 |
地址: | 518000 广东省深圳市光明区*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明涉及电子芯片测试技术领域,特别涉及一种测试弹片及测试装置,包括测试结构、连接结构和固定结构,所述测试结构、连接结构和固定结构沿第一方向依次连接;以及所述测试结构包括接触部和抵持部,所述接触部和抵持部沿第二方向设置,所述接触部和抵持部的一端分别与所述连接结构连接,所述接触部和抵持部的另一端之间形成有具有开口的第一缓冲槽,所述抵持部远离所述接触部的一侧用于接受外力,所述接触部远离所述连接结构的一端用于与管脚接触,所述第一方向和第二方向相互垂直。本申请的测试弹片使用寿命长。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 弹片 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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