[发明专利]一种电子设备、测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 202310897774.8 | 申请日： | 2023-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN116930605A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 李伟;唐湘;谢远鹏;刘峰 | 申请（专利权）人： | 鼎道智芯（上海）半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R21/06 | 分类号： | G01R21/06 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 夏菁 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国（*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请公开了一种电子设备、测试装置及测试方法，电子设备包括：接口，用于连接外部设备；通路切换开关，与接口连接，用于在接口的引脚电平满足第一条件时，导通接口与电子设备内的第一类端口之间的第一通路，第一类端口用于传输测试信号。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子设备 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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