[发明专利]一种宇航用脉宽调制类元器件的验证方法及系统在审
| 申请号： | 202310332575.2 | 申请日： | 2023-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN116184094A | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | 张宇环;刘密;马涛;井元良;贠磊;郑雪松;梅博;吕贺;谢鹏飞;桂鹏;高逸飞;王楚;王晓晓;李海波;韩建超;李廷中;纪志坡;郭传伟;陈永刚;焦景勇;王文强;张洪伟;单晓锋;李炎;陈广军;贾洪波;王楠;穆城;汪哲;朱博威 | 申请（专利权）人： | 北京卫星制造厂有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 高志瑞 |
| 地址： | 100190*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种宇航用脉宽调制类元器件的验证方法及系统，其中，该方法包括：元器件级验证；其中，元器件级验证包括功能性能验证、极限试验验证、寿命试验验证和辐照试验验证；板级验证；其中，板级验证包括板卡功能验证、电气环境适应性验证、热学环境适应性验证和工艺装联适应性验证；单机级验证；其中，单机级验证包括基本功能性能验证、应用可靠性验证和环境适应性验证；系统级验证；其中，系统级验证包括接口匹配性验证。本发明可以全面的对脉宽调制类器件进行验证，对于脉宽调制类器件的验证具有重要意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 宇航 脉宽调制 元器件 验证 方法 系统 | ||
【主权项】：
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