[发明专利]120m超深覆盖层钻取275mm级大直径原状样的方法有效
| 申请号： | 202210492851.7 | 申请日： | 2022-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN114809965B | 公开（公告）日： | 2023-09-05 |
| 发明（设计）人： | 张光西;李奉霖;谢北成;李朝华;徐键;辛宗成;李军;陈爱民;魏明洪;徐雷;刘小平;徐雷 | 申请（专利权）人： | 中国电建集团成都勘测设计研究院有限公司 |
| 主分类号： | E21B25/00 | 分类号： | E21B25/00;E21B25/10;E21B49/02;G01N1/08 |
| 代理公司： | 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 | 代理人： | 成杰 |
| 地址： | 610072 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了120m超深覆盖层钻取275mm级大直径原状样的方法，属于地质勘探领域，用以解决传统普通单管钻具或者SDB钻具均不能有效实现在深度120m的超深覆盖层中采取直径为275mm级别的原状样的问题。本发明通过分阶段进行钻进，并配套本发明所改进后的相应尺寸规格的SDD原状样取样钻具，实现了在120m超深覆盖层中钻取275mm级大直径原状样的目的，实现了在120m超深覆盖层中钻取275mm级大直径原状样技术从无到有的突破。 | ||
| 搜索关键词： | 120 覆盖层 275 mm 直径 原状 方法 | ||
【主权项】：
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