[发明专利]基于F-DMAS和伪彩色的超声相控阵缺陷成像方法有效

专利信息
申请号: 202210131398.7 申请日: 2022-02-14
公开(公告)号: CN114187291B 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 李雄兵;禹利达;李海宁;宋永锋;杨占锋 申请(专利权)人: 中南大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/12;G06T7/13;G06T7/136;G06T5/10;G06T5/30;G01N29/44
代理公司: 长沙朕扬知识产权代理事务所(普通合伙) 43213 代理人: 马家骏
地址: 410000 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提供了一种基于滤波延迟乘累加(F‑DMAS)和CMYK伪彩色的超声相控阵缺陷成像方法,并引入了自动彩色图像分割技术来检测强衰减材料中的缺陷。首先,采用F‑DMAS算法对全矩阵捕捉(FMC)数据进行后处理。然后,分析了频率成分的选择对F‑DMAS成像的影响,讨论了衰减对缺陷回波的影响。接着,利用伪彩色技术对信号的频率分量进行分离,生成具有频率和强度信息的彩色图像,以提高超声图像的信息量和缺陷的表达效果。最后,对伪彩色成像结果进行彩色图像分割和边缘检测,实现缺陷轮廓的自动提取。与线性全聚焦成像方法相比,本发明的方法在缺陷的信噪比,检测能力和表达效果等方面具有显著优势。
搜索关键词: 基于 dmas 彩色 超声 相控阵 缺陷 成像 方法
【主权项】:
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