[发明专利]一种面板的缺陷检测方法、装置及存储介质在审
| 申请号： | 202110974477.X | 申请日： | 2021-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN113763338A | 公开（公告）日： | 2021-12-07 |
| 发明（设计）人： | 柴华荣;许月;陈友江;温栋梁;杜超 | 申请（专利权）人： | 合肥欣奕华智能机器有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 李静文 |
| 地址： | 230013 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开涉及智能制造与人工智能领域，公开了一种面板的缺陷检测方法、装置及存储介质，其中，该面板的缺陷检测方法，应用于计算设备，包括：将待检测的目标面板图片进行缩小处理，以便在兼顾处理数据量的同时提高检测效率，通过YOLOv5算法模型对缩小处理后的目标面板图片进行缺陷检测，以及针对多个包含同一缺陷的缺陷框，则通过YOLOv5算法模型将多个缺陷框进行融合处理，得到融合后的目标缺陷框，上述目标缺陷框与缺陷一一对应，即通过确定唯一目标缺陷框的方式，提高了缺陷所在位置的检测准确性，同时，通过融合的方式得到的缺陷类型属性也更加贴近实际类型，从而保证了面板生产过程中对效率和精度的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面板 缺陷 检测 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
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