[发明专利]射频指标测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110932798.3 | 申请日： | 2021-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN115913421A | 公开（公告）日： | 2023-04-04 |
| 发明（设计）人： | 庄言春;杨华;张飞越;吕婧任;金鹤飞;赵志勇;冯卫东;吴健 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/354 | 分类号： | H04B17/354;H04B17/309 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 马瑞 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例涉及通信技术领域，公开了一种射频指标测量方法，包括：确定目标阵列天线的瑞利分辨率；根据所述瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定所述目标阵列天线在球坐标系的采样点；测量所述目标阵列天线在所述采样点的EIRP；根据所述EIRP和所述归一化波矢空间算法计算得到所述目标阵列天线的射频指标。本发明实施例还公开了一种射频指标测量装置、系统、电子设备及存储介质。本发明实施例提供的射频指标测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质，可以提高测量阵列天线的ACLR和杂散的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 指标 测量方法 装置 系统 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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