[发明专利]一种低介电常数聚酰亚胺薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 202110903514.8 申请日: 2021-08-06
公开(公告)号: CN113549235B 公开(公告)日: 2023-07-21
发明(设计)人: 李科;黄丙亮;彭明云 申请(专利权)人: 四川轻化工大学
主分类号: C08J5/18 分类号: C08J5/18;C08L79/08;C08K9/06;C08K7/26
代理公司: 湖北唯迈知识产权代理事务所(普通合伙) 42314 代理人: 王继云
地址: 643000 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种低介电常数聚酰亚胺薄膜的制备方法,所述的低介电常数聚酰亚胺薄膜的制备方法为:在聚酰亚胺基体中加入表面接氟的介孔二氧化硅形成复合材料,一方面加入中空填料引入空气可以降低薄膜的介电常数,除此之外,表面的氟元素具有强的吸电子效应,也会降低聚酰亚胺薄膜的离散电子能级,可以进一步降低聚酰亚胺复合薄膜的介电常数。使得复合薄膜的介电常数最低可降至2.6左右,并且薄膜的热性能并没有出现显著的降低,本发明方法简单可行且经济成本低,在电子和微电子行业具有广阔的应用前景。
搜索关键词: 一种 介电常数 聚酰亚胺 薄膜 制备 方法
【主权项】:
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