[发明专利]一种双制式轨检机构在审
| 申请号： | 202110874781.7 | 申请日： | 2021-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN113479233A | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 陶捷;朱洪涛 | 申请（专利权）人： | 江西日月明测控科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B61K9/08 | 分类号： | B61K9/08;B61D15/08 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 何世磊 |
| 地址： | 330000 江西省南昌*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明提供一种双制式轨检机构，用于测量轨道的几何参数，轨道包括米轨及标准轨，双制式轨检机构包括：机构主体；控制装置，设于机构主体上，用于记录测量数据；轨检装置，设于机构主体的一侧，与机构主体所适配时用于测量标准轨；其中，轨检装置包括轨检组件以及连接轨检组件与机构主体的连接组件，轨检组件与连接组件呈直角设置、且组成T型结构，轨检组件及连接组件均能与机构主体连接，当轨检组件与机构主体连接时，双制式轨检机构能够用于测量米轨。上述的双制式轨检机构，通过设置轨检装置，使得机构主体与轨检装置相适配后能够适用米轨及标准轨的测量，另一方面，通过轨检装置能够与轨道配合直接进行测量，提升了整体的测量精准度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 制式 机构 | ||
【主权项】：
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