[发明专利]内存条老化测试设备在审
| 申请号： | 202110872754.6 | 申请日： | 2021-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN113415626A | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | 何润;唐敏 | 申请（专利权）人： | 苏州乾鸣自动化科技有限公司 |
| 主分类号： | B65G47/90 | 分类号： | B65G47/90;B65G47/82;B65G15/22;B65G47/74;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人： | 杨慧红 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种内存条老化测试设备，包括储存机构、飞梭机构、上下料夹爪机构、上下料机构、中转机构、测试机构；所述飞梭机构的一进出料端设置于储存机构处，飞梭机构的另一进出料端设置于上下料机构处；所述上下料夹爪机构设置于储存机构的上方位置；所述上下料机构的上方位置设置有上下料机械手；所述中转机构的一进出料端设置于上下料机构处，中转机构的另一进出料端设置于所述测试机构处。本发明通过自动化测试代替了人工劳动，不仅定位精准，而且能够大大提高测试效率，支持多组内存条同时上料、下料、测试的优点，结构简单、合理，使用方便、效率高，扩展性高，还能够防止内存条在拔插的过程中被损坏。 | ||
| 搜索关键词： | 内存条 老化 测试 设备 | ||
【主权项】：
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