[发明专利]一种集成电路测试治具在审
| 申请号： | 202110859586.7 | 申请日： | 2021-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN113655244A | 公开（公告）日： | 2021-11-16 |
| 发明（设计）人： | 王晓龙 | 申请（专利权）人： | 王晓龙 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R1/14;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 362000 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路测试治具，其结构包括底座、顶盖、测试机构、气管接头，顶盖连接在底座上，底座内部安装有测试机构，且连接有气管接头，测试机构包括插座、排气管、斜栏、助力组件、定位槽，插座通过斜栏连接在底座上，且安装有助力组件，斜栏上连接有排气管，排气管连接在定位槽上，在助力组件上设置有延正装置和对位阶，利用延正装置和对位阶在对夹上相配合，当集成电路板呈直线向下挤进定位槽，由于对夹的开口由上至下变小，随着其开口的变化而带动中部的对位阶呈台阶状拉伸，使得集成电路板四角的引进冲击力能被有效缓解，且被顺势连带推送至延正装置上，能正确承接进定位槽内部。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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