[发明专利]一种基于神经网络的塑封电子元器件缺陷识别系统及方法在审
| 申请号： | 202110821982.0 | 申请日： | 2021-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN113466338A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 艾凯旋;梁栋程;何志刚;张玉兴;刘云婷;胡睿;季航 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院计量测试中心 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04;G01N29/44;G06N3/08 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人： | 张保朝 |
| 地址： | 62199*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于神经网络的塑封电子元器件缺陷识别系统，该系统包括超声波换能器、电动控制单元、脉冲发射接收器、相位检测单元、信号转换单元、神经网络单元和微处理控制器。该方法包括如下步骤：训练神经网络；系统状态初始化；神经网络单元权重的导入；发送驱动指令；驱动超声波换能器；发送脉冲发射接收指令；采集被测塑封电子元器件内部的目标检测区域的电信号；对被测塑封电子元器件的目标检测区域的电信号进行相位检测；生成被测塑封电子元器件的内部形貌结构特征图片；神经网络识别被测塑封电子元器件目标检测区域缺陷；被测塑封电子元器件的检测结果输出。本发明基于卷积神经网络技术，实现了电子元器件缺陷自动识别。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 神经网络 塑封 电子元器件 缺陷 识别 系统 方法 | ||
【主权项】：
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