[发明专利]测试电路、显示面板及其测试方法有效
| 申请号： | 202110771432.2 | 申请日： | 2021-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN113553225B | 公开（公告）日： | 2022-08-05 |
| 发明（设计）人： | 李飞 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/273;G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 蔡艾莹 |
| 地址： | 430079 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种测试电路、显示面板及其测试方法，测试电路用于检查显示面板的多条触控走线，测试电路包括至少一个子测试电路，每一个子测试电路用于输入并输出一个测试信号；每一子测试电路包括多个彼此串联连接的测试晶体管，多个测试晶体管的控制端分别对应连接不同的触控走线，每一触控走线施加使得对应的测试晶体管导通的控制信号，当测试信号的输入波形与测试信号的输出波形一致时，确定显示面板的多条触控走线正常；反之，则异常。本发明在绑定集成电路芯片之前，通过测试电路对显示面板的触控走线进行检查，避免造成产品报废，有利于降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 显示 面板 及其 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉华星光电半导体显示技术有限公司，未经武汉华星光电半导体显示技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110771432.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种仿生抗空化轴流式叶轮设计方法
- 下一篇：一种高质量粉煤灰生产系统及其应用
