[发明专利]应用辉光放电质谱分析小尺寸导电和非导电材料的方法在审

专利信息
申请号: 202110763611.1 申请日: 2021-07-06
公开(公告)号: CN113514534A 公开(公告)日: 2021-10-19
发明(设计)人: 胡芳菲;刘红;李爱嫦;刘鹏宇;杨复光;赵景鑫;夏雯 申请(专利权)人: 国合通用测试评价认证股份公司;国标(北京)检验认证有限公司
主分类号: G01N27/68 分类号: G01N27/68;G01N1/28
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人: 刘徐红
地址: 101400 北京市怀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种应用辉光放电质谱分析小尺寸导电和非导电材料的方法,属于材料分析领域。该方法先将石墨粉置于铝杯中,轻轻振荡铝杯,使石墨粉表面平整;将小尺寸导电材料或非导电材料置于石墨粉上;盖上数层硫酸纸;用压片机压紧,制成测试样品;进行直流辉光放电质谱分析。采用本发明的分析方法,无需研磨、无需烧结、无需加热,前处理简单,避免了污染;避免了以金属作为导电介质时,不能测定该金属元素的问题,及由该金属元素形成的质谱干扰;缩短了分析时间,提高了分析效率;能适合屑状、颗粒状、粉末状等小尺寸导电材料以及细颗粒状、粉末状非导电材料的分析,普适性强,应用范围广;具有很好的放电稳定性、分析重复性、分析准确性。
搜索关键词: 应用 辉光 放电 谱分析 尺寸 导电 材料 方法
【主权项】:
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