[发明专利]一种光谱反射率的确定方法、装置及设备在审
| 申请号： | 202110745505.0 | 申请日： | 2021-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN113533256A | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 师少光;吕晓波;刘敏;张雅琴 | 申请（专利权）人： | 奥比中光科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 夏智海 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请适用于光学技术领域，提供了一种光谱反射率的确定方法，所述方法包括：获取配准深度图和目标光谱图像；从配准深度图中获取目标点的深度信息以及漫反射板的深度信息；从目标光谱图像中获取目标点的第一灰度值和漫反射板的第二灰度值；根据目标点的深度信息和漫反射板的深度信息对第二灰度值进行修正，得到第三灰度值；获取漫反射板的反射率，根据漫反射板的反射率、第一灰度值和第三灰度值计算目标点的反射率。上述方法，通过对一个确定位置与姿态的漫反射板的灰度值进行修正，来计算光谱反射率。这样就避免了待测物体接收的辐照度与漫反射板接收的辐照度在某些场景下差异较大，进一步避免了光谱反射率在计算时可能出现的误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱 反射率 确定 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
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