[发明专利]mock测试方法、装置、电子设备及介质在审
申请号: | 202110587863.3 | 申请日: | 2021-05-27 |
公开(公告)号: | CN113190464A | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
发明(设计)人: | 王俊宏;罗涛;赵海强 | 申请(专利权)人: | 中国工商银行股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36;G06F16/955;G06F16/958 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周天宇 |
地址: | 100140 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开提供了一种mock测试方法、装置、电子设备及介质,涉及数据测试或接口测试领域。该mock测试方法应用于React Native框架,包括:客户端利用React Native框架中的fetch函数,发送调用服务端接口的全局网络请求;在全局网络请求中拦截本地网络请求,提取本地网络请求的输入参数,输入参数包括请求地址和配置对象;根据预先配置好的配置文件,判断请求地址中是否配置有mock服务接口;如果是,则接收请求地址通过mock服务接口返回的mock虚拟响应数据;否则,取消拦截本地网络请求数据,接收基于本地网络请求于服务端接口返回的真实响应数据。 | ||
搜索关键词: | mock 测试 方法 装置 电子设备 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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