[发明专利]一种IC时序验证方法及装置在审
| 申请号： | 202110583310.0 | 申请日： | 2021-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN113311314A | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 何贤赚;付超;周杨凡;王海宁;李婷;刘晓露 | 申请（专利权）人： | 杭州万高科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 侯珊 |
| 地址： | 310053 浙江省杭州市滨江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种IC时序验证方法及装置，用户可以根据待测IC的不同类型及用户需求向处理装置发送不同的波形生成指令，使处理装置生成与波形生成指令对应的测试时序波形，然后判断待测IC基于测试时序波形生成的待测时序波形与期望时序波形是否相同，以判断待测IC是否满足用户的设计需求。由于处理装置生成测试时序波形时不受电路结构的限制，可以生成任意类型的测试时序波形，以满足不同的检验需求，在研发设计师研发出新的待测IC时，可以直接生成与待测IC对应的测试时序波形以对待测IC进行测试，不需要开发一个配套的与待测IC对应的检测装置，提高了对待测IC进行验证的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ic 时序 验证 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州万高科技股份有限公司，未经杭州万高科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110583310.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电阻体糊及其用途以及电阻体的制造方法
- 下一篇：一种全自动无线充电仓热熔设备
