[发明专利]DC/AC测试系统优化方法、装置、设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202110553817.1 申请日: 2021-05-20
公开(公告)号: CN113253143A 公开(公告)日: 2021-08-13
发明(设计)人: 胥猛 申请(专利权)人: 中国兵器装备集团自动化研究所有限公司
主分类号: G01R31/40 分类号: G01R31/40;G01R31/42;G01R27/02
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 林菲菲
地址: 621000 四川省*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种DC/AC测试系统优化方法、装置、设备和存储介质,本发明的方法包括步骤S1,获取DC/AC电源模块输出电压与频率信号;步骤S2,根据获取的输出电压与频率信号,计算得到输出电阻值;步骤S3,根据计算得到的输出电阻值对DC/AC电源模块的匹配电阻进行调节;步骤S4,再次获取DC/AC电源模块输出电压与频率信号,验证是否满足预设要求,如果满足,则退出,如果不满足则返回执行步骤S2。本发明采用数字处理方式,能够自动获得所需电阻值,避免了人为估算带来的影响,同时也无需专业的技术人员,大大提高了测试效率。
搜索关键词: dc ac 测试 系统 优化 方法 装置 设备 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
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