[发明专利]一种星载微波辐射计在轨反射面温度推算装置及方法有效
| 申请号： | 202110537570.4 | 申请日： | 2021-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN113139153B | 公开（公告）日： | 2022-10-04 |
| 发明（设计）人： | 孟婉婷;何嘉恺;姜丽菲;董克松;周仁杰 | 申请（专利权）人： | 上海航天测控通信研究所 |
| 主分类号： | G06F17/15 | 分类号： | G06F17/15;G01K11/00;G01K13/00;G01C1/00 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种星载微波辐射计在轨反射面温度推算装置及方法，该装置及方法科学合理、易于实现。本发明基于星载微波辐射计在轨结构和运行规律，提供了有效而精准的在轨反射面温度推算装置及方法，可以通过微波辐射计的反射面温度、太阳高度角和方位角等历史数据来训练模型，以推算反射面在轨温度。可将反射面的推算温度作为星载微波辐射计的反射面温度备份，从而防止反射面温度测量模块失效而导致星载微波辐射计失效的问题，进而为星载微波辐射计在轨辐射测量的稳定性打下良好的基础。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微波 辐射计 反射 温度 推算 装置 方法 | ||
【主权项】：
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