[发明专利]一种X射线吸收谱测量系统在审
| 申请号： | 202110446563.3 | 申请日： | 2021-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN113218974A | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | 侯华明;周雄;温晓东;杨勇;李永旺 | 申请（专利权）人： | 中科合成油技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/085 | 分类号： | G01N23/085 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 刘美丽 |
| 地址： | 101400 北京市怀*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种X射线吸收谱测量系统，该系统包括：X射线源，被配置为通过电子束轰击靶材产生X射线；X射线晶体组，至少包括两个不同类型且可切换使用的X射线晶体，两个X射线晶体对X射线衍射方向垂直，被配置为完成XANES谱测量或EXAFS谱测量；探测器阵列，包括第一X射线面阵探测器和第二X射线面阵探测器，被配置为实现XANES谱测量和EXAFS谱测量的X射线探测，其中，第一X射线面阵探测器和第二X射线面阵探测器的探测面正交设置；信号接收器，被配置为对接收的探测信号进行处理，获得X射线吸收谱测量结果。本发明能保证获得的X射线吸收谱具有较高的能量分辨率，近边吸收谱和远边吸收谱分段优化测量，提高测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 吸收 测量 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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