[发明专利]一种铁电晶体单轴压下压电系数的测量装置及方法有效
| 申请号： | 202110442853.0 | 申请日： | 2021-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN113419118B | 公开（公告）日： | 2022-08-09 |
| 发明（设计）人： | 赵小东;徐卓;田昊;乔辽;李飞;杨静雅 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01R29/22 | 分类号： | G01R29/22;G01R1/04 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 贺小停 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供的一种铁电晶体单轴压下压电系数的测量装置及方法，包括用于安装待测样品的夹具、用于获取设定电压下的待测样品位移量的数据采集单元、用于向待测样品提供直流电压的外电场单元，以及分别与数据采集单元和外电场单元连接的控制系统；本系统能够避免现有方法中涉及的单轴压力与低频交变力的叠加的问题，同时，能够无损失的传递位移，保证了测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电晶体 压下 压电 系数 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安交通大学，未经西安交通大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110442853.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
